講演名 2002/10/31
Studies on Sputtered NdFeB Thin Films for Perpendicular Magnetic Recording
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抄録(和)
抄録(英) The effects of magnetic layer thickness and boron addition on the microstructure and magnetic properties of NdFeB thin films sputtered onto W underlayer have been investigated. The films could maintain prominent perpendicular magnetic anisotropy when their thickness values were smaller than 30 nm. Beyond this value, the c-axis orientations of magnetic grains became irregular gradually. Moderate boron addition could effectively suppress grains growth and narrow grain size distributions as well as tailor the high coercivity force to an applicable value while keeping a relative high remanent ratio. The grains also became more isolated.
キーワード(和)
キーワード(英) underlayer / uniaxial anisotropy / grain size distribution / perpendicular recording
資料番号 MR 2002-40
発行日

研究会情報
研究会 MR
開催期間 2002/10/31(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Magnetic Recording (MR)
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) Studies on Sputtered NdFeB Thin Films for Perpendicular Magnetic Recording
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) / underlayer
第 1 著者 氏名(和/英) / Y.G. Mat
第 1 著者 所属(和/英)
the Research Institute of Magnetic Materials, Lanzhou University
発表年月日 2002/10/31
資料番号 MR 2002-40
巻番号(vol) vol.102
号番号(no) 423
ページ範囲 pp.-
ページ数 4
発行日