| 講演名 | 2004/1/6 PLANAR SURFACE DETECTION BASED ON THE FACTORIZATION METHOD (Computer Graphics/Vision I)(International Workshop On Advanced Image Technology (IWAIT2004)) , |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | We present herein a new method for detecting the directions of planar surfaces, which is based on the factorization method, a method that is frequently used as in shape reconstruction and involves feature points correspondence between several images. When the surface around each feature point consists of a planar surface, coordinate transformation by affine transformation is possible. Since moments are closed to affine transformations, parameters for affine transformation can be calculated from moments based on the linear representation of the group of an affine transformation. In the present method, the rank on singular value decomposition (SVD) is three. This formulation has no space for extension, and the rank is maintained identical to that of the original factorization method. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | IE2003-178 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | IE |
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| 開催期間 | 2004/1/6(から1日開催) |
| 開催地（和） | |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Image Engineering (IE) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | PLANAR SURFACE DETECTION BASED ON THE FACTORIZATION METHOD (Computer Graphics/Vision I)(International Workshop On Advanced Image Technology (IWAIT2004)) |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | / Hiroki MANO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Graduate School of Engineering, Tokyo Metropolitan University |
| 発表年月日 | 2004/1/6 |
| 資料番号 | IE2003-178 |
| 巻番号（vol） | vol.103 |
| 号番号（no） | 540 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | |