講演名 | 2003/8/26 Alq_3遮光下真空蒸着膜に発生する光消去可能な巨大表面電位の特性評価(センサデバイス・MEMS・一般) 杉 啓司, 木村 康男, 石井 久夫, 庭野 道夫, |
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抄録(和) | 有機電界発光素子材料として広く用いられているtris (8-hydroxyquinolinato) aluminum (III)(Alq_3)を金蒸着膜上に遮光下で真空蒸着すると巨大な表面電位(28V @ 560nm)が自発形成され、さらに発生した表面電位は光照射により消去されることが発見されている。これらの現象はAlq_3が様々な有機デバイスヘの応用可能性をもつことを示唆しており、その可能性を評価するために発生した表面電位の保持時間等について調べた。正確な表面電位減少の関数は明らかではないが、遮光下真空中において10年で約10%の減少と見積もられ応用の可能性を考えるに十分な保持時間を持つことがわかった。また、理論シュミレーションを行い、光消去のプロセスのメカニズムに関しても検討した。 |
抄録(英) | Recently high and persistent spontaneous buildup of a surface potential upon vacuum deposition of tris (8-hydroxyquinolinato) aluminum (III) (Alq_3), which is widely used for organic light emitting devices, on a gold substrate under dark conditions (28V @ 560nm) has been reported. The remove of the giant surface potential by visible light irradiation was also reported. These properties of Alq_3 fim has a potential for application to various organic device such as memory. Thus we investigated characteristics of the surface potential of Alq_3 films such as retention time to discuss the feasibility of the device application. The decay rate of the surface potential in vacuum condition was roughly estimated at 10 % loss in 10 years, which indicate that the retention time of the surface potential is enough for possible applications. The mechanism of light-erarsing of the surface potential was discussed on the basis of a theoretical simulation. |
キーワード(和) | Alq_3 / 有機薄膜 / 表面電位 / ケルビン法 / 分極 |
キーワード(英) | Alq_3 / organic thin film / surface potential / kelvin method / polarization |
資料番号 | ED2003-125 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | ED |
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開催期間 | 2003/8/26(から1日開催) |
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講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Electron Devices (ED) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | Alq_3遮光下真空蒸着膜に発生する光消去可能な巨大表面電位の特性評価(センサデバイス・MEMS・一般) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Characterization of a light-erasable giant surface potential built up spontaneously in evaporated Alq_3 thin films |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | Alq_3 / Alq_3 |
キーワード(2)(和/英) | 有機薄膜 / organic thin film |
キーワード(3)(和/英) | 表面電位 / surface potential |
キーワード(4)(和/英) | ケルビン法 / kelvin method |
キーワード(5)(和/英) | 分極 / polarization |
第 1 著者 氏名(和/英) | 杉 啓司 / Keiji SUGI |
第 1 著者 所属(和/英) | 東北大学電気通信研究所:CREST Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University:CREST, Japan Science and Technology Corporation (JST) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 木村 康男 / Yasuo KIMURA |
第 2 著者 所属(和/英) | 東北大学電気通信研究所:CREST Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University:CREST, Japan Science and Technology Corporation (JST) |
第 3 著者 氏名(和/英) | 石井 久夫 / Hisao ISHII |
第 3 著者 所属(和/英) | 東北大学電気通信研究所:CREST Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University:CREST, Japan Science and Technology Corporation (JST) |
第 4 著者 氏名(和/英) | 庭野 道夫 / Michio NIWANO |
第 4 著者 所属(和/英) | 東北大学電気通信研究所:CREST Research Institute of Electrical Communication, Tohoku University:CREST, Japan Science and Technology Corporation (JST) |
発表年月日 | 2003/8/26 |
資料番号 | ED2003-125 |
巻番号(vol) | vol.103 |
号番号(no) | 283 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 4 |
発行日 |