講演名 | 2003/6/6 Al_2O_3/Si_3N_4薄層絶縁ゲートをもつチャネルドープAlGaN/GaNヘテロ構造FET(化合物半導体デバイスのプロセス技術) 前田 就彦, 俵 毅彦, 斉藤 正, 椿 光太郎, 小林 直樹, |
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抄録(和) | 新構造のAlGaN/GaN MIS HFETを提案し、試作したデバイスの静特性を報告する。提案の要点は、(1)チャネルドープ構造、および、(2)Al_2O_3/Si_3N_4なる2層絶縁ゲート膜、を用いる点である。ゲート長1.5μmの試作デバイスからは、145 mS/mmなるgm、1.6 A/mmなる最大級の飽和電流密度、低ゲートリーク電流なる魅力的な特性が得られ、本構造が今後のデバイス高性能化に有望であることが示唆された。 |
抄録(英) | A novel AlGaN/GaN MIS HFET has been proposed, where (1) channel doping design and (2) Al_2O_3/Si_3N_4 bi-layer gate insulator are used. A fabricated device with a gate length of 1.5 μm has exhibited a state-off-the-art current density of 1.6 A/mm and a gm of 145 mS/mm with reduced gate leakage current, suggesting that the proposed MIS HFET is promising for high-power applications. |
キーワード(和) | GaN / ヘテロ構造FET / チャネルドープ構造 / MIS構造 / 大電流動作 |
キーワード(英) | GaN / HFET / Channel Doping / MIS Structure / High Current Operation |
資料番号 | ED2003-51 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | ED |
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開催期間 | 2003/6/6(から1日開催) |
開催地(和) | |
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幹事氏名(和) | |
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幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Electron Devices (ED) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | Al_2O_3/Si_3N_4薄層絶縁ゲートをもつチャネルドープAlGaN/GaNヘテロ構造FET(化合物半導体デバイスのプロセス技術) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Channel-Doped AlGaN/GaN Heterostructure Field-Effect Transistors with Al_2O_3/Si_3N_4 Gate Insulator |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | GaN / GaN |
キーワード(2)(和/英) | ヘテロ構造FET / HFET |
キーワード(3)(和/英) | チャネルドープ構造 / Channel Doping |
キーワード(4)(和/英) | MIS構造 / MIS Structure |
キーワード(5)(和/英) | 大電流動作 / High Current Operation |
第 1 著者 氏名(和/英) | 前田 就彦 / Narihiko MAEDA |
第 1 著者 所属(和/英) | NTTフォトニクス研究所 NTT Photonics Laboratories |
第 2 著者 氏名(和/英) | 俵 毅彦 / Takehiko TAWARA |
第 2 著者 所属(和/英) | NTT物性科学基礎研究所 NTT Basic Research Laboratories |
第 3 著者 氏名(和/英) | 斉藤 正 / Tadashi SAITO |
第 3 著者 所属(和/英) | NTT物性科学基礎研究所 NTT Basic Research Laboratories |
第 4 著者 氏名(和/英) | 椿 光太郎 / Kotaro TSUNBAKI |
第 4 著者 所属(和/英) | 東洋大学工学部 Dept. of Engineering, Toyo University |
第 5 著者 氏名(和/英) | 小林 直樹 / Naoki KOBAYASHI |
第 5 著者 所属(和/英) | 電気通信大学量子・物質工学科 Dept. of Applied Physics and Chemistry, The University of Electro-Communications |
発表年月日 | 2003/6/6 |
資料番号 | ED2003-51 |
巻番号(vol) | vol.103 |
号番号(no) | 117 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 4 |
発行日 |