| 講演名 | 2003/3/10 プローブ顕微鏡によるスピン計測(特別ワークショップ : スピンエレクトロニクスとその応用) 末岡 和久, 武笠 幸一, |
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| 抄録(和) | 原子分子分解で磁性体表面の磁気構造を観察する顕微鏡として、走査型トンネル顕微鏡を応用したスピン偏極走査型トンネル顕微鏡(Spin-Polarized Scanning Tunneling Microscopy:SP-STM)、非接触原子間力顕微鏡を応用した交換相互作用力顕微鏡(Exchange Force Microscopy:EFM)がある。本稿では著者らがこれまでに開発を目指してきた、光励起半導体スピンプロープを用いたSP-STM、強磁性体薄膜を探針にしたEFMの実験結果について述べ、プローブ顕微鏡によるスピン計測の可能性について議論する。 |
| 抄録(英) | Scanning probe microscopy is a widely spreading surface observation tool which has a variety of applications for from basis surface science to biochemistry. SPM is also applicable to observe surface magnetic structures. Spin polarized tunneling enables scanning tunneling microscopy(STM) to observe spin-polarization of surface electron states, which yields spin-polarized STM(SP-STM). Ferromagnetic tips provide the non-contact atomic force microscopy to reversal short-range magnetic interaction such as exchange interaction. We call this kind of short-range magnetic force microscopy as exchange force microscopy(EFM). This paper presents our preliminary results concerning SP-STM with optically pumped semiconductor spin probes, and EFM with ferromagnetic tips as an application of non-contact atomic force microscopy. Potential applications of there spin-sensitive SPM are also discussed. |
| キーワード(和) | SP-STM / spin / exchange interaction / SPM |
| キーワード(英) | SP-STM / spin / exchange interaction / SPM |
| 資料番号 | ED2002-305 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ED |
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| 開催期間 | 2003/3/10(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
| 幹事氏名（英） | |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Electron Devices (ED) |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | プローブ顕微鏡によるスピン計測(特別ワークショップ : スピンエレクトロニクスとその応用) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Spin-Sensitive Scanning Probe Microscopy |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | SP-STM / SP-STM |
| キーワード(2)（和/英） | spin / spin |
| キーワード(3)（和/英） | exchange interaction / exchange interaction |
| キーワード(4)（和/英） | SPM / SPM |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 末岡 和久 / Kazuhisa SUEOKA |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 北海道大学大学院工学研究科 Graduate School of Engineering, Hokkaido University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 武笠 幸一 / Koich MUKASA |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 北海道大学大学院工学研究科 Graduate School of Engineering, Hokkaido University |
| 発表年月日 | 2003/3/10 |
| 資料番号 | ED2002-305 |
| 巻番号（vol） | vol.102 |
| 号番号（no） | 723 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | |