講演名 2004/5/6
GaAs基板上GaAs層のMOCVD法による横方向成長(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
岩瀬 隆幸, 福家 俊郎, 高野 泰,
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抄録(和) 減圧MOCVD装置を用いて,パターン化したSiO2膜を付けた(100)GaAs基板上にGaAs層を横方向成長させた。横方向成長に用いるための基板パターン化はフォトリソグラフィーにより行った。[110]に平行なストライプ方向よりも、[110]から[1-10]へ約20°傾けたストライプ方向の方が横方向成長量は増加した。AsH_3流量を減らす事により,縦方向への成長量が減少し、横方向への成長量が増加した。最も多い横方向成長量で1時間当たり10μmであり、通常の(100)GaAs基板の連続膜成長量である2.2μmと比べて4倍近い値が得られた.その時の横方向成長量/縦方向成長量は2.2であった。
抄録(英) Epitaxial lateral overgrowth was carried out on SiO_2-patterned (100) GaAs substrates by low-pressure metal-organic chemical vapor deposition (MOCVD). Substrates for epitaxial lateral overgrowth were prepared by photolithography. Lateral growth length was increased by using a stripe opening 20 degrees misoriented from [110] direction. Decreasing arsine flow rate decreased vertical growth length and increased lateral growth length. The maximum lateral growth length was 10μm, which was about 4 times GaAs layer growth thickness of 2.2μm on non-patterned (100) GaAs substrates. The ratio of lateral to vertical growth length was 2.2.
キーワード(和) MOCVD / 横方向成長, / ガリウム枇素
キーワード(英) MOCVD / epitaxial lateral overgrowth / GaAs
資料番号 ED2004-21,CPM2004-16,SDM2004-21
発行日

研究会情報
研究会 CPM
開催期間 2004/5/6(から1日開催)
開催地(和)
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和)
委員長氏名(英)
副委員長氏名(和)
副委員長氏名(英)
幹事氏名(和)
幹事氏名(英)
幹事補佐氏名(和)
幹事補佐氏名(英)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Component Parts and Materials (CPM)
本文の言語 JPN
タイトル(和) GaAs基板上GaAs層のMOCVD法による横方向成長(結晶成長評価及びデバイス(化合物,Si,SiGe,その他の電子材料))
サブタイトル(和)
タイトル(英) Lateral growth on (100) GaAs substrates by MOCVD
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) MOCVD / MOCVD
キーワード(2)(和/英) 横方向成長, / epitaxial lateral overgrowth
キーワード(3)(和/英) ガリウム枇素 / GaAs
第 1 著者 氏名(和/英) 岩瀬 隆幸 / Takayuki IWASE
第 1 著者 所属(和/英) 静岡大学 工学部 電気・電子工学科
Department of Electronics, Faculty of Engineering, Shizuoka University
第 2 著者 氏名(和/英) 福家 俊郎 / Shunrou FUKE
第 2 著者 所属(和/英) 静岡大学 工学部 電気・電子工学科
Department of Electronics, Faculty of Engineering, Shizuoka University
第 3 著者 氏名(和/英) 高野 泰 / Yasushi TAKANO
第 3 著者 所属(和/英) 静岡大学 工学部 電気・電子工学科
Department of Electronics, Faculty of Engineering, Shizuoka University
発表年月日 2004/5/6
資料番号 ED2004-21,CPM2004-16,SDM2004-21
巻番号(vol) vol.104
号番号(no) 41
ページ範囲 pp.-
ページ数 5
発行日