講演名 | 2003/4/18 半導体光増幅器(SOA)の劣化解析 上岡 裕之, 竹下 達也, 曲 克明, 伊藤 敏夫, 東盛 裕一, |
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抄録(和) | 半導体光増幅器(SOA)の長期通電試験を行い劣化姿態を明らかにした。SOAの活性化エネルギー(0.5eV)とASE出力比の劣化傾向が構造の同じ埋込型半導体レーザに近いことから、SOAの劣化は埋込型半導体レーザと同様な過程で進行する可能性が推測された。メディアン寿命は、ASE出力比1dB低下を故障とした場合、25℃、100mA動作で約11万時間が見積もられ、実用上十分な寿命を持つことがわかった。劣化デバイスの活性層を光励起電流(OBIC)で観察し、バットジョイント近傍の活性層が劣化したことがわかった。 |
抄録(英) | To evaluate the reliability of a semiconductor optical amplifier (SOA), we carried out long-term aging tests. It is suggested that the degradation process of the SOA is similar to that of the BH laser because the degradation behavior is similar to that of the BH laser, and because the activation energy of the SOA is close to that of the BH laser. The lifetime is estimated to be over 10^5 hours at 25℃ and 100 mA based on a criterion of 1 dB decrease in gain The observation of an active layer by the use of optical-beam-induced-currents (OBIC) indicates the degradation at a butt-joint region of the active layer. |
キーワード(和) | 半導体光増幅器 / 信頼性 / 劣化解析 / 活性化エネルギー / 光励起電流観察 / OBIC |
キーワード(英) | Semiconductor optical amplifier / Reliability / activation energy / Degradation analysis / OBIC |
資料番号 | RS2003-12,CPM2003-12,OPE2003-12 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | CPM |
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開催期間 | 2003/4/18(から1日開催) |
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講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Component Parts and Materials (CPM) |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 半導体光増幅器(SOA)の劣化解析 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Degradation analysis of a semiconductor optical amplifier (SOA) |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | 半導体光増幅器 / Semiconductor optical amplifier |
キーワード(2)(和/英) | 信頼性 / Reliability |
キーワード(3)(和/英) | 劣化解析 / activation energy |
キーワード(4)(和/英) | 活性化エネルギー / Degradation analysis |
キーワード(5)(和/英) | 光励起電流観察 / OBIC |
キーワード(6)(和/英) | OBIC |
第 1 著者 氏名(和/英) | 上岡 裕之 / Hiroyuki KAMIOKA |
第 1 著者 所属(和/英) | 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所 NTT Photonics Laboratories, NTT cooperation |
第 2 著者 氏名(和/英) | 竹下 達也 / Tatsuya TAKESHITA |
第 2 著者 所属(和/英) | 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所 NTT Photonics Laboratories, NTT cooperation |
第 3 著者 氏名(和/英) | 曲 克明 / Katsuaki MAGARI |
第 3 著者 所属(和/英) | 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所 NTT Photonics Laboratories, NTT cooperation |
第 4 著者 氏名(和/英) | 伊藤 敏夫 / Toshio ITO |
第 4 著者 所属(和/英) | 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所 NTT Photonics Laboratories, NTT cooperation |
第 5 著者 氏名(和/英) | 東盛 裕一 / Yuichi TOHMORI |
第 5 著者 所属(和/英) | 日本電信電話株式会社NTTフォトニクス研究所 NTT Photonics Laboratories, NTT cooperation |
発表年月日 | 2003/4/18 |
資料番号 | RS2003-12,CPM2003-12,OPE2003-12 |
巻番号(vol) | vol.103 |
号番号(no) | 34 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 4 |
発行日 |