講演名	2003/1/24 固有署名による、I_規則試験 奥田 幸男,
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抄録(和)	I_電流の試験ベクターへの反応、すなわちI_署名(I_ Signature)による試験方法が種々提案されている。本報告は、I_署名の線形性を測定データから示し、この線形性から誘導される固有署名(Eigen Signature)により、5種類の試験方式の比較をおこない、I_署名のAC成分とDC成分との分離試験を提案している。
抄録(英)	We have proposed I_ testing deep submicron (DSM) devices on exploiting the regularity of defect-free I_ signatures. This paper demonstrates : (1) A new methodology based on eigen-signatures ; (2) The fundamental characteristics of the regularity ; (3) The I_ values related to a test vector set have a small variation, whereas, the I_ magnitudes have a large variation.
キーワード(和)	真性漏電流 / 規則性 / VLSI / I_署名
キーワード(英)	Intrinsic Leakage / Regularity / l_Signature
資料番号	CPM2002-153
発行日

研究会情報
研究会	CPM
開催期間	2003/1/24(から1日開催)
開催地（和）
開催地（英）
テーマ（和）
テーマ（英）
委員長氏名（和）
委員長氏名（英）
副委員長氏名（和）
副委員長氏名（英）
幹事氏名（和）
幹事氏名（英）
幹事補佐氏名（和）
幹事補佐氏名（英）

講演論文情報詳細
申込み研究会	Component Parts and Materials (CPM)
本文の言語	JPN
タイトル（和）	固有署名による、I_規則試験
サブタイトル（和）
タイトル（英）	Eigen-Signatures for Regularity-based I_ Testing
サブタイトル（和）
キーワード(1)（和/英）	真性漏電流 / Intrinsic Leakage
キーワード(2)（和/英）	規則性 / Regularity
キーワード(3)（和/英）	VLSI / l_Signature
キーワード(4)（和/英）	I_署名
第 1 著者 氏名（和/英）	奥田 幸男 / Yukio OKUDA
第 1 著者 所属（和/英）	ソニー株式会社S&Sアーキテクチャーセンター Sony Corp.S&S Architecture Center
発表年月日	2003/1/24
資料番号	CPM2002-153
巻番号（vol）	vol.102
号番号（no）	621
ページ範囲	pp.-
ページ数	6
発行日