| 講演名 | 2003/4/16 高温超電導体の耐電力測定に関する検討(マイクロ波超伝導/一般) 橋本 経, 小林 禧夫, |
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| 抄録(和) | 本報告では,高温超電導体(HTS)の表面抵抗R_sの最大表面電流密度J_s依存性の評価方法について検討する。本法では,サファイア円柱と2枚のHTSを用いた共振器を用いる。この共振器内に効率よく電力を入力し,その電力を共振器内に留めておくために,入力側を臨界結合とし出力側を疎結合として測定を行う。はじめに,J_sの評価式を導出し,次に,YBa_2Cu_3O_7厚膜のR_sのJ_s依存性を測定する。その結果,J_s=3A/mから200A/mとすると20, 40, 60, 80KにおいてR_sが約2倍大きくなることがわかった。さらに,80KにおいてはJs =100A/mでYBCO厚膜と銅板のR_sが同程度になってしまうことがわかった。 |
| 抄録(英) | ln this paper, we discuss an evaluation method ofa maximum surface current density J_s dependence ofa surface resistance R_s of high temperature superconductors (HTS). In this method, a resonator is constructed by a sapphire rod and two HTS. The input coupling loop is adjusted to maintain the critical coupling. The output coupling loop is adjusted to realize a weak coupling. Thus, the efficient measurement can be performed. At first, the evaluation formula of J_s is derived. Then, the J_s dependence measurements of R_s of YBa_2Cu_3O_7 thick film are measured. As a result, it is found that the R_s at J_s=200A/m is about two times higher than one at J_s=3A/m in the range of 20 to 80K. Also, it is found that the R_s is the same as one of a copper plate at 80K and J_s=100A/m. |
| キーワード(和) | サファイア円柱 / 高温超電導 / 表面抵抗 / 最大表面電流密度 |
| キーワード(英) | Sapphire Rod / High-T_c / Superconductors / Surface Resistance / Maximum surface current density |
| 資料番号 | SCE2003-4,MW2003-4 |
| 発行日 |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SCE |
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| 開催期間 | 2003/4/16(から1日開催) |
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| 委員長氏名（和） | |
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| 幹事氏名（和） | |
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| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Superconductive Electronics (SCE) |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 高温超電導体の耐電力測定に関する検討(マイクロ波超伝導/一般) |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Study of a power handling capability measurement of high temperature superconductivity |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | サファイア円柱 / Sapphire Rod |
| キーワード(2)（和/英） | 高温超電導 / High-T_c |
| キーワード(3)（和/英） | 表面抵抗 / Superconductors |
| キーワード(4)（和/英） | 最大表面電流密度 / Surface Resistance |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 橋本 経 / Toru HASHIMOTO |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 埼玉大学工学部電気電子システムエ学科 Faculty of Engineering,Saitama University |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 小林 禧夫 / Yoshio KOBAYASHI |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 埼玉大学工学部電気電子システムエ学科 Faculty of Engineering,Saitama University |
| 発表年月日 | 2003/4/16 |
| 資料番号 | SCE2003-4,MW2003-4 |
| 巻番号（vol） | vol.103 |
| 号番号（no） | 20 |
| ページ範囲 | pp.- |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | |