講演名 | 2004/1/21 SI型POF減衰定数の短い距離間隔での精密測定法(フォトニックNW・デバイス,フォトニック結晶・ファイバとその応用,集積光回路,半導体光導波路素子,PLC,ファイバ型デバイス,導波路解析,その他) 奥垣 栄二, 須山 智史, 立附 真, 橋爪 信郎, |
---|---|
PDFダウンロードページ | PDFダウンロードページへ |
抄録(和) | プラスチック光ファイバの減衰特性を精密に測定した。カットバック法によって長さ11mのファイバの減衰定数を1m毎に測定した。ファイバに入射する光パワーの時間的変化を考慮するためにビームスプリッタを用いて参照した。その結果、測定系による誤差は±0.033%(0.0015dB/m)に抑えることができた。さらに、屈折率整合液をファイバ端面に塗布することにより、ファイバ端面のバラツキによる測定誤差を抑えることができた。また、ファイバ内のモード分布が平衡状態になる正確なファイバ長の観測にも成功した。 |
抄録(英) | Precise measurement of the light attenuation in a plastic optical fiber was studied. Cut-back method was employed to measure the attenuation caused by every 1 meter of the fiber in a 11m-long fiber. The influence of fluctuations of the laser output power and the laser beam profile was minimized. As a result, the error due to the measuring system was made less than ±0.033%(0.0015dB/m) of the measured values. Error due to sample preparation was also alleviated by carefully polishing and applying an index matching oil to the end surfaces of the fiber. We were also successful in observing the precise fiber length for which an EMD condition was reached. |
キーワード(和) | POF / Attenuation / Cut-back / EMD |
キーワード(英) | POF / Attenuation / Cut-back / EMD |
資料番号 | PN2003-59,OFT2003-81,OPE2003-238,LQE2003-175 |
発行日 |
研究会情報 | |
研究会 | OFT |
---|---|
開催期間 | 2004/1/21(から1日開催) |
開催地(和) | |
開催地(英) | |
テーマ(和) | |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | |
委員長氏名(英) | |
副委員長氏名(和) | |
副委員長氏名(英) | |
幹事氏名(和) | |
幹事氏名(英) | |
幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Optical Fiber Technology (OFT) |
---|---|
本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | SI型POF減衰定数の短い距離間隔での精密測定法(フォトニックNW・デバイス,フォトニック結晶・ファイバとその応用,集積光回路,半導体光導波路素子,PLC,ファイバ型デバイス,導波路解析,その他) |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Precise Measurement of Light Attenuation Coefficient of SI-POF at Short Distances |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | POF / POF |
キーワード(2)(和/英) | Attenuation / Attenuation |
キーワード(3)(和/英) | Cut-back / Cut-back |
キーワード(4)(和/英) | EMD / EMD |
第 1 著者 氏名(和/英) | 奥垣 栄二 / Eiji OKUGAKI |
第 1 著者 所属(和/英) | 広島工業大学大学院工学研究科電子工学専攻 Graduate School of Engineering, Hiroshima Institute of Technology |
第 2 著者 氏名(和/英) | 須山 智史 / Satoshi SUYAMA |
第 2 著者 所属(和/英) | 広島工業大学大学院工学研究科電子工学専攻 Graduate School of Engineering, Hiroshima Institute of Technology |
第 3 著者 氏名(和/英) | 立附 真 / Makoto TATSUTSUKE |
第 3 著者 所属(和/英) | 広島工業大学大学院工学研究科電子工学専攻 Graduate School of Engineering, Hiroshima Institute of Technology |
第 4 著者 氏名(和/英) | 橋爪 信郎 / Nobuo HASHIZUME |
第 4 著者 所属(和/英) | 広島工業大学工学部電子・光システム工学科 Faculty of Engineering, Hiroshima Institute of Technology |
発表年月日 | 2004/1/21 |
資料番号 | PN2003-59,OFT2003-81,OPE2003-238,LQE2003-175 |
巻番号(vol) | vol.103 |
号番号(no) | 613 |
ページ範囲 | pp.- |
ページ数 | 4 |
発行日 |