| 講演名 | 2019-01-31 オンライン逐次学習による教師なし異常検知コアの面積性能評価 井坪 知也(慶大), 塚田 峰登(慶大), 松谷 宏紀(慶大), |
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| 抄録(和) | IoT機器の普及によってエッジデバイスにおける異常検知の需要が高まっている。実世界では正常パターンが変動することがあり、そのような場合異常検知モデルの構築に使用した教師データと実際の正常パターンとの間の乖離が問題となる。このための解決策として、エッジデバイス上で異常検知モデルを学習するオンデバイス学習の利用が考えられる。しかし、デバイスで学習を行うためにはデバイスの面積等のコストの制約を満たさなければならない。本論文ではオンデバイス学習のために逐次学習アルゴリズムOS-ELM(Onlene Sequential Extreme Learning Machine)を基にした異常検知器を採用するが、IoT機器を前提にオンデバイス学習を行うには面積等のコスト制約がシビアである。本論文では、オンデバイス学習器の設計空間探索を目的として、固定小数のbit幅を変えた場合、除算器をbitシフトを用いて作成した場合とNewton法を利用して作成した場合、演算器の使用回数を変化させた場合についてVerilog HDLで実装し、評価を行うことで面積と実行時間、スループットのトレードオフを明らかにした。 |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | 機械学習 / AIチップ / オンデバイス学習 |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | VLD2018-86,CPSY2018-96,RECONF2018-60 |
| 発行日 | 2019-01-23 (VLD, CPSY, RECONF) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | IPSJ-SLDM / RECONF / VLD / CPSY / IPSJ-ARC |
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| 開催期間 | 2019/1/30(から2日開催) |
| 開催地（和） | 慶応義塾大学 日吉キャンパス 来往舎 |
| 開催地（英） | Raiosha, Hiyoshi Campus, Keio University |
| テーマ（和） | FPGA応用および一般 |
| テーマ（英） | FPGA Applications, etc. |
| 委員長氏名（和） | 田宮 豊(富士通研) / 本村 真人(北大) / 峯岸 孝行(三菱電機) / 中野 浩嗣(広島大) / 井上 弘士(九大) |
| 委員長氏名（英） | Yutaka Tamiya(Fujitsu Lab.) / Masato Motomura(Hokkaido Univ.) / Noriyuki Minegishi(Mitsubishi Electric) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Koji Inoue(Kyushu Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | / 柴田 裕一郎(長崎大) / 佐野 健太郎(理研) / 戸川 望(早大) / 入江 英嗣(東大) / 三吉 貴史(富士通研) |
| 副委員長氏名（英） | / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Kentaro Sano(RIKEN) / Nozomu Togawa(Waseda Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Takashi Miyoshi(Fujitsu) |
| 幹事氏名（和） | 柴田 誠也(NEC) / 密山 幸男(高知工科大) / 細谷 英一(NTT) / 谷川 一哉(広島市大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 新田 高庸(NTT) / 小平 行秀(会津大) / 大川 猛(宇都宮大) / 高前田 伸也(北大) / 近藤 正章(東大) / 塩谷 亮太(名大) / 田中 美帆(富士通研) / 長谷川 揚平(東芝メモリ) |
| 幹事氏名（英） | Seiya Shibata(NEC) / Yukio Mitsuyama(Kochi Univ. of Tech.) / Eiichi Hosoya(NTT) / Kazuya Tanigawa(Hiroshima City Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Koyo Nitta(NTT) / Yukihide Kohira(Univ. of Aizu) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Shinya Takameda(Hokkaido Univ.) / Masaaki Kondo(Univ. of Tokyo) / Ryota Shioya(Nagoya Univ.) / Miho Tanaka(Fujitsu Lab.) / Yohei Hasegawa(Toshiba Memory) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 小林 悠記(NEC) / 中原 啓貴(東工大) / / 伊藤 靖朗(広島大) / 津邑 公暁(名工大) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Yuuki Kobayashi(NEC) / Hiroki Nakahara(Tokyo Inst. of Tech.) / / Yasuaki Ito(Hiroshima Univ.) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Special Interest Group on System and LSI Design Methodology / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Computer Systems / Special Interest Group on System Architecture |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | オンライン逐次学習による教師なし異常検知コアの面積性能評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Area and Performance Evaluations of Online Sequential Learning and Unsupervised Anomaly Detection Core |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 機械学習 |
| キーワード(2)（和/英） | AIチップ |
| キーワード(3)（和/英） | オンデバイス学習 |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 井坪 知也 / Tomoya Itsubo |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学(略称：慶大) Keio University(略称：Keio Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 塚田 峰登 / Mineto Tsukada |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学(略称：慶大) Keio University(略称：Keio Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 松谷 宏紀 / Hiroki Matsutani |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 慶應義塾大学(略称：慶大) Keio University(略称：Keio Univ.) |
| 発表年月日 | 2019-01-31 |
| 資料番号 | VLD2018-86,CPSY2018-96,RECONF2018-60 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | VLD-430,CPSY-431,RECONF-432 |
| ページ範囲 | pp.83-88(VLD), pp.83-88(CPSY), pp.83-88(RECONF), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-01-23 (VLD, CPSY, RECONF) |