講演名 2019-01-15
アプリケーション開発事例を対象としたテスト設計によるプロセス改善への影響調査
辻原 拓弥(和歌山大), 福安 直樹(和歌山大), 満田 成紀(和歌山大), 松延 拓生(和歌山大), 鯵坂 恒夫(和歌山大),
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抄録(和) システム開発においてテスト設計を開発初期から行うことで設計工程の品質向上やテスト工程の負担軽減につながると言われる.しかしながら,開発初期におけるテスト設計の効果は明確ではなく,一般にはテスト設計は後回しにされ十分に行われないことが多い.そこで,そのようなプロセスで開発された事例を対象として,不具合分析および開発初期におけるテスト設計を行うことによって,開発初期でのテスト設計がプロセスに与える影響を調査した.そして,調査結果をもとに開発初期におけるテスト設計の効果について考察を行った.
抄録(英) It is said that performing the test design in early phase of software development process improves software quality and reduces the cost of the testing phase. However, since the effect of the test design inearly phase is not obvious, designing test cases is often deferred to late phase. In this paper, we report the case study on the real software development to consider the effect of the test design in early phase. Designing test cases from the design documents in early phase of the web application development, we inspected the influence of the test design to the defects which occurred in the development process.
キーワード(和) テスト設計 / テスト分析 / 不具合分析 / 開発プロセス / レビュー
キーワード(英) Test Design / Test Analysis / Bug Report Analysis / Design Process / Review
資料番号 MSS2018-62,SS2018-33
発行日 2019-01-08 (MSS, SS)

研究会情報
研究会 MSS / SS
開催期間 2019/1/15(から2日開催)
開催地(和) 沖縄県青年会館
開催地(英)
テーマ(和) 一般
テーマ(英)
委員長氏名(和) 名嘉村 盛和(琉球大) / 中田 明夫(広島市大)
委員長氏名(英) Morikazu Nakamura(Univ. of Ryukyus) / Akio Nakata(Hiroshima City Univ.)
副委員長氏名(和) 髙井 重昌(阪大) / 小林 隆志(東工大)
副委員長氏名(英) Shigemasa Takai(Osaka Univ.) / Takashi Kobayashi(Tokyo Inst. of Tech.)
幹事氏名(和) 豊嶋 伊知郎(東芝エネルギーシステムズ) / 金澤 尚史(阪大) / 肥後 芳樹(阪大) / 島 和之(広島市大)
幹事氏名(英) Ichiro Toyoshima(Toshiba) / Takahumi Kanazawa(Osaka Univ.) / Yoshiki Higo(Osaka Univ.) / Kazuyuki Shima(Hiroshima City Univ.)
幹事補佐氏名(和) 金城 秀樹(沖縄大) / 林 晋平(東工大)
幹事補佐氏名(英) Hideki Kinjo(Okinawa Univ.) / Shinpei Hayashi(Tokyo Inst. of Tech.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Mathematical Systems Science and its applications / Technical Committee on Software Science
本文の言語 JPN
タイトル(和) アプリケーション開発事例を対象としたテスト設計によるプロセス改善への影響調査
サブタイトル(和)
タイトル(英) A Case Study of Process Improvement on an Application Development with Test Design
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) テスト設計 / Test Design
キーワード(2)(和/英) テスト分析 / Test Analysis
キーワード(3)(和/英) 不具合分析 / Bug Report Analysis
キーワード(4)(和/英) 開発プロセス / Design Process
キーワード(5)(和/英) レビュー / Review
第 1 著者 氏名(和/英) 辻原 拓弥 / Takumi Tsujihara
第 1 著者 所属(和/英) 和歌山大学大学院(略称:和歌山大)
Wakayama University(略称:Wakayama Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 福安 直樹 / Naoki Fukuyasu
第 2 著者 所属(和/英) 和歌山大学(略称:和歌山大)
Wakayama University(略称:Wakayama Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 満田 成紀 / Naruki Mitsuda
第 3 著者 所属(和/英) 和歌山大学(略称:和歌山大)
Wakayama University(略称:Wakayama Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 松延 拓生 / Takuo Matsunobe
第 4 著者 所属(和/英) 和歌山大学(略称:和歌山大)
Wakayama University(略称:Wakayama Univ.)
第 5 著者 氏名(和/英) 鯵坂 恒夫 / Tsuneo Ajisaka
第 5 著者 所属(和/英) 和歌山大学(略称:和歌山大)
Wakayama University(略称:Wakayama Univ.)
発表年月日 2019-01-15
資料番号 MSS2018-62,SS2018-33
巻番号(vol) vol.118
号番号(no) MSS-384,SS-385
ページ範囲 pp.43-48(MSS), pp.43-48(SS),
ページ数 6
発行日 2019-01-08 (MSS, SS)