| 講演名 | 2019-01-30 多重縮退故障用インクリメンタルテストパターン自動生手法 王 培坤(東大), ガラバギ アミル マサウド(東大), 藤田 昌宏(東大), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | This paper proposes an incremental ATPG method to deal with multiple stuck-at faults. In order to generate the test set for n multiple faults, only the additional test patterns for the undetected faults by the existing test patterns for n - 1 multiple faults are generated. Moreover, by introducing an efficient fault selection method, the size of the fault list to be dealt with isreduced drastically compared to the entire fault list of n multiple faults. Our experimental results on ISCAS benchmarks up to triple faults indicates that the proposed method can generate a compact test set to cover all the faults within an acceptable runtime. |
| キーワード(和) | Incremental ATPG method / multiple stuck-at faults / undetected faults / fault selection / additional test patterns |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | VLD2018-74,CPSY2018-84,RECONF2018-48 |
| 発行日 | 2019-01-23 (VLD, CPSY, RECONF) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | IPSJ-SLDM / RECONF / VLD / CPSY / IPSJ-ARC |
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| 開催期間 | 2019/1/30(から2日開催) |
| 開催地（和） | 慶応義塾大学 日吉キャンパス 来往舎 |
| 開催地（英） | Raiosha, Hiyoshi Campus, Keio University |
| テーマ（和） | FPGA応用および一般 |
| テーマ（英） | FPGA Applications, etc. |
| 委員長氏名（和） | 田宮 豊(富士通研) / 本村 真人(北大) / 峯岸 孝行(三菱電機) / 中野 浩嗣(広島大) / 井上 弘士(九大) |
| 委員長氏名（英） | Yutaka Tamiya(Fujitsu Lab.) / Masato Motomura(Hokkaido Univ.) / Noriyuki Minegishi(Mitsubishi Electric) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Koji Inoue(Kyushu Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | / 柴田 裕一郎(長崎大) / 佐野 健太郎(理研) / 戸川 望(早大) / 入江 英嗣(東大) / 三吉 貴史(富士通研) |
| 副委員長氏名（英） | / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Kentaro Sano(RIKEN) / Nozomu Togawa(Waseda Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Takashi Miyoshi(Fujitsu) |
| 幹事氏名（和） | 柴田 誠也(NEC) / 密山 幸男(高知工科大) / 細谷 英一(NTT) / 谷川 一哉(広島市大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 新田 高庸(NTT) / 小平 行秀(会津大) / 大川 猛(宇都宮大) / 高前田 伸也(北大) / 近藤 正章(東大) / 塩谷 亮太(名大) / 田中 美帆(富士通研) / 長谷川 揚平(東芝メモリ) |
| 幹事氏名（英） | Seiya Shibata(NEC) / Yukio Mitsuyama(Kochi Univ. of Tech.) / Eiichi Hosoya(NTT) / Kazuya Tanigawa(Hiroshima City Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Koyo Nitta(NTT) / Yukihide Kohira(Univ. of Aizu) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Shinya Takameda(Hokkaido Univ.) / Masaaki Kondo(Univ. of Tokyo) / Ryota Shioya(Nagoya Univ.) / Miho Tanaka(Fujitsu Lab.) / Yohei Hasegawa(Toshiba Memory) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 小林 悠記(NEC) / 中原 啓貴(東工大) / / 伊藤 靖朗(広島大) / 津邑 公暁(名工大) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Yuuki Kobayashi(NEC) / Hiroki Nakahara(Tokyo Inst. of Tech.) / / Yasuaki Ito(Hiroshima Univ.) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Special Interest Group on System and LSI Design Methodology / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Computer Systems / Special Interest Group on System Architecture |
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| 本文の言語 | ENG-JTITLE |
| タイトル（和） | 多重縮退故障用インクリメンタルテストパターン自動生手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Incremental Automatic Test Pattern Generation Method for Multiple Stuck-at Faults |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | Incremental ATPG method |
| キーワード(2)（和/英） | multiple stuck-at faults |
| キーワード(3)（和/英） | undetected faults |
| キーワード(4)（和/英） | fault selection |
| キーワード(5)（和/英） | additional test patterns |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 王 培坤 / Peikun Wang |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京大学(略称：東大) The University of Tokyo(略称：UTokyo) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | ガラバギ アミル マサウド / Amir Masoud Gharehbaghi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 東京大学(略称：東大) The University of Tokyo(略称：UTokyo) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 藤田 昌宏 / Masahiro Fujita |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東京大学(略称：東大) The University of Tokyo(略称：UTokyo) |
| 発表年月日 | 2019-01-30 |
| 資料番号 | VLD2018-74,CPSY2018-84,RECONF2018-48 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | VLD-430,CPSY-431,RECONF-432 |
| ページ範囲 | pp.13-18(VLD), pp.13-18(CPSY), pp.13-18(RECONF), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2019-01-23 (VLD, CPSY, RECONF) |