講演名 | 2019-01-17 モーメント法による損失試料が装着された同軸プローブのTEMモード解析の基礎検討 柴田 幸司(八戸工大), 小林 正樹(八戸工大), |
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資料番号 | ED2018-69,MW2018-136 |
発行日 | 2019-01-10 (ED, MW) |
研究会情報 | |
研究会 | MW / ED |
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開催期間 | 2019/1/17(から2日開催) |
開催地(和) | 日立中研 |
開催地(英) | Hitachi, Central Research Lab. |
テーマ(和) | 化合物半導体ICおよび超高速・超高周波デバイス/マイクロ波/一般 |
テーマ(英) | Compound semiconductor, High speed and High frequency devices/Microwave technologies |
委員長氏名(和) | 村口 正弘(東京理科大) / 津田 邦男(東芝インフラシステムズ) |
委員長氏名(英) | Masahiro Muraguchi(TUS) / Kunio Tsuda(Toshiba) |
副委員長氏名(和) | 古神 義則(宇都宮大) / 岡崎 浩司(NTTドコモ) / 田島 賢一(三菱電機) / 須原 理彦(首都大) |
副委員長氏名(英) | Yoshinori Kogami(Utsunomiya Univ.) / Hiroshi Okazaki(NTT DOCOMO) / Kenichi Tajima(Mitsubishi Electric) / Michihiko Suhara(TMU) |
幹事氏名(和) | 中村 宝弘(日立) / 清水 隆志(宇都宮大) / 東脇 正高(NICT) / 大石 敏之(佐賀大) |
幹事氏名(英) | Takahiro Nakamura(HITACHI) / Takashi Shimizu(Utsunomiya Univ.) / Masataka Higashiwaki(NICT) / Toshiyuki Oishi(Saga Univ.) |
幹事補佐氏名(和) | 本良 瑞樹(東北大) / 吉田 賢史(鹿児島大) / 岩田 達哉(豊橋技科大) / 小谷 淳二(富士通研) |
幹事補佐氏名(英) | Mizuki Motoyoshi(Tohoku Univ.) / Satoshi Yoshida(Kagoshima Univ.) / Tatsuya Iwata(TUT) / Junji Kotani(Fjitsu Lab.) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on Microwaves / Technical Committee on Electron Devices |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | モーメント法による損失試料が装着された同軸プローブのTEMモード解析の基礎検討 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Fundamental study on TEM wave analysis for a high-loss material attached coaxial probe via the moment method |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | |
第 1 著者 氏名(和/英) | 柴田 幸司 / Kouji Shibata |
第 1 著者 所属(和/英) | 八戸工業大学(略称:八戸工大) Hachinohe Institute of Technology(略称:Hachinohe Institute of Tech.) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 小林 正樹 / Masaki Kobayashi |
第 2 著者 所属(和/英) | 八戸工業大学(略称:八戸工大) Hachinohe Institute of Technology(略称:Hachinohe Institute of Tech.) |
発表年月日 | 2019-01-17 |
資料番号 | ED2018-69,MW2018-136 |
巻番号(vol) | vol.118 |
号番号(no) | ED-402,MW-403 |
ページ範囲 | pp.1-6(ED), pp.1-6(MW), |
ページ数 | 6 |
発行日 | 2019-01-10 (ED, MW) |