講演名 2018-12-23
[ポスター講演]リチウムイオン蓄電池劣化シミュレータを用いた電池パックのセル間初期ばらつきと劣化の関係に対する一検討
中嶋 基(立命館大), Godine Raja Sekhar(立命館大), 林 磊(立命館大), 有馬 理仁(立命館大), 福井 正博(立命館大),
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抄録(和) リチウムイオン蓄電池の需要の増加とともに,蓄電池を安全かつ効率的に運用することが求められている.環境への配慮などにより,EVや据置蓄電池は今後さらに普及すると考えられており,劣化を組蓄電池レベルで把握することが重要である.そこで,リチウムイオン組蓄電池のセル間初期ばらつきによってもたらされる劣化傾向に対して,蓄電池劣化シミュレータを用いて検討を行った.初期のセル毎の充電容量FCCに対してばらつきを与えた場合,モジュールのFCCの損失率が増加することを解明した.さらに,内部抵抗のばらつきと劣化の関係性に関しても検討を行った.
抄録(英)
キーワード(和) リチウムイオン蓄電池 / 劣化 / シミュレーション / ばらつき
キーワード(英)
資料番号 CAS2018-92,ICD2018-76,CPSY2018-58
発行日 2018-12-14 (CAS, ICD, CPSY)

研究会情報
研究会 ICD / CPSY / CAS
開催期間 2018/12/21(から3日開催)
開催地(和) ホテルアトールエメラルド宮古島
開催地(英)
テーマ(和) 学生・若手研究会
テーマ(英)
委員長氏名(和) 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 中野 浩嗣(広島大) / 岡崎 秀晃(湘南工科大)
委員長氏名(英) Hideto Hidaka(Renesas) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Hideaki Okazaki(Shonan Inst. of Tech.)
副委員長氏名(和) 永田 真(神戸大) / 入江 英嗣(東大) / 三吉 貴史(富士通研) / 山脇 大造(日立)
副委員長氏名(英) Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Takashi Miyoshi(Fujitsu) / Taizo Yamawaki(Hitachi)
幹事氏名(和) 橋本 隆(パナソニック) / 夏井 雅典(東北大) / 大川 猛(宇都宮大) / 高前田 伸也(北大) / 橘 俊宏(湘南工科大) / 中村 洋平(日立)
幹事氏名(英) Takashi Hashimoto(Panasonic) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Shinya Takameda(Hokkaido Univ.) / Toshihiro Tachibana(Shonan Inst. of Tech.) / Yohei Nakamura(Hitachi)
幹事補佐氏名(和) 伊藤 浩之(東工大) / 柘植 政利(ソシオネクスト) / 廣瀬 哲也(神戸大) / 伊藤 靖朗(広島大) / 津邑 公暁(名工大) / 山口 基(ルネサスエレクトロニクス)
幹事補佐氏名(英) Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Masatoshi Tsuge(Socionext) / Tetsuya Hirose(Kobe Univ.) / Yasuaki Ito(Hiroshima Univ.) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Motoi Yamaguchi(Renesas Electronics)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Circuits and Systems
本文の言語 JPN
タイトル(和) [ポスター講演]リチウムイオン蓄電池劣化シミュレータを用いた電池パックのセル間初期ばらつきと劣化の関係に対する一検討
サブタイトル(和)
タイトル(英) [Poster Presentation] A study of influences to lithium-ion battery module degradation by initial variation between cells by computational experiments.
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) リチウムイオン蓄電池
キーワード(2)(和/英) 劣化
キーワード(3)(和/英) シミュレーション
キーワード(4)(和/英) ばらつき
第 1 著者 氏名(和/英) 中嶋 基 / Motoi Nakajima
第 1 著者 所属(和/英) 立命館大学(略称:立命館大)
Ritsumeikan University(略称:Ritsumeikan Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) Godine Raja Sekhar / Godine Raja Sekhar
第 2 著者 所属(和/英) 立命館大学(略称:立命館大)
Ritsumeikan University(略称:Ritsumeikan Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 林 磊 / Lei Lin
第 3 著者 所属(和/英) 立命館大学(略称:立命館大)
Ritsumeikan University(略称:Ritsumeikan Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 有馬 理仁 / Masahito Arima
第 4 著者 所属(和/英) 立命館大学(略称:立命館大)
Ritsumeikan University(略称:Ritsumeikan Univ.)
第 5 著者 氏名(和/英) 福井 正博 / Masahiro Fukui
第 5 著者 所属(和/英) 立命館大学(略称:立命館大)
Ritsumeikan University(略称:Ritsumeikan Univ.)
発表年月日 2018-12-23
資料番号 CAS2018-92,ICD2018-76,CPSY2018-58
巻番号(vol) vol.118
号番号(no) CAS-373,ICD-374,CPSY-375
ページ範囲 pp.65-68(CAS), pp.65-68(ICD), pp.65-68(CPSY),
ページ数 4
発行日 2018-12-14 (CAS, ICD, CPSY)