| 講演名 | 2018-12-14 FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定 三宅 庸資(九工大), 佐藤 康夫(九工大), 梶原 誠司(九工大), |
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| 抄録(和) | 最先端のVLSIでは経年劣化に起因する故障の増加が懸念されている．劣化現象として回路遅延の増加が知られているが，劣化による遅延の増加を検出するためには，フィールドで定期的に遅延測定を行うことが有効である．そこで，著者らはFPGA搭載論理の自己テストにおいて，可変なテストタイミングを用いた回路の遅延測定手法を提案した．しかし，フィールドで測定される遅延値は，テスト時の温度などの環境要因によっても変動するため，測定値から温度による遅延変動分を補正する必要がある．本論文では，FPGAに対して，遅延測定回路と温度センサとを組み合わせることで，温度影響を補正可能なオンチップ遅延測定手法を提案する． |
| 抄録(英) | Delay-related failures due to aging phenomena are a critical issue of state-of-the-art VLSI systems. In order to detect a delay increase by aging, repeated delay measurement in field is effective. A delay measurement method based on BIST (Built-In Self-Test) with variable test timing generation has been proposed for FPGAs. However, the measured delay in field is influenced of environment factors such as temperature variation. Thus, a correction of temperature influence for the measured delay is required for highly accurate delay measurement. This paper proposes a correction method of temperature influence for a measured delay. The proposed method consists of delay measurement with variable test timing generation and correction of temperature influence with an embedded temperature sensor. |
| キーワード(和) | FPGA / 論理BIST / 遅延測定 / 温度センサ / フィールドテスト |
| キーワード(英) | FPGA / Logic BIST / Delay measurement / Temperature sensor / Field test |
| 資料番号 | DC2018-58 |
| 発行日 | 2018-12-07 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2018/12/14(から1日開催) |
| 開催地（和） | 沖縄県立宮古青少年の家 |
| 開催地（英） | Miyako Seisyonen-No-Ie |
| テーマ（和） | （第３回）Winter Workshop on safety - 安全性に関する冬のワークショップ - （共催：日本信頼性学会） |
| テーマ（英） | 3rd Winter Workshop on safety |
| 委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 高橋 寛(愛媛大) |
| 副委員長氏名（英） | Hiroshi Takahashi(Ehime Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 金子 晴彦(東工大) / 新井 雅之(日大) |
| 幹事氏名（英） | Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) / Masayuki Arai(Nihon Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | FPGAにおける周期的なフィールドテストのためのオンチップ遅延測定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On-Chip Delay Measurement for In-field Periodic Test of FPGAs |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | FPGA / FPGA |
| キーワード(2)（和/英） | 論理BIST / Logic BIST |
| キーワード(3)（和/英） | 遅延測定 / Delay measurement |
| キーワード(4)（和/英） | 温度センサ / Temperature sensor |
| キーワード(5)（和/英） | フィールドテスト / Field test |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 三宅 庸資 / Yousuke Miyake |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：KIT) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：KIT) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：KIT) |
| 発表年月日 | 2018-12-14 |
| 資料番号 | DC2018-58 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | DC-364 |
| ページ範囲 | pp.1-6(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-12-07 (DC) |