| 講演名 | 2018-11-22 A Novel Eye-Diagram Estimation Method for Pulse Amplitude Modulation with N-level on Stacked Through Silicon Vias Junyong Park(KAIST), Youngwoo Kim(KAIST), Kyungjun Cho(KAIST), Seongsoo Lee(KAIST), Joungho Kim(KAIST), |
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| 抄録(和) | This paper proposed an eye-diagram estimation method for pulse amplitude modulation with N-level signaling. For verification, a through-silicon via (TSV) channel was fabricated. The proposed method and measurements have nearly the same eye-height and eye-width values at data rates of 2, 4, and 8 Gb/s. Furthermore, the bathtub curves were also compared. The proposed method provides a bathtub curve up to 10–12, but in contrast, the measurements only provide a bathtub curve up to 10–5 due to the limited number of samples. In conclusion, the eye-diagram estimation method for PAM-N signaling is successfully proposed and verified. |
| 抄録(英) | This paper proposed an eye-diagram estimation method for pulse amplitude modulation with N-level signaling. For verification, a through-silicon via (TSV) channel was fabricated. The proposed method and measurements have nearly the same eye-height and eye-width values at data rates of 2, 4, and 8 Gb/s. Furthermore, the bathtub curves were also compared. The proposed method provides a bathtub curve up to 10–12, but in contrast, the measurements only provide a bathtub curve up to 10–5 due to the limited number of samples. In conclusion, the eye-diagram estimation method for PAM-N signaling is successfully proposed and verified. |
| キーワード(和) | eye diagram / eye diagram estimation / multilevel signaling / pulse amplitude modulation (PAM) / single bit response (SBR) / through-silicon via (TSV) |
| キーワード(英) | eye diagram / eye diagram estimation / multilevel signaling / pulse amplitude modulation (PAM) / single bit response (SBR) / through-silicon via (TSV) |
| 資料番号 | EMCJ2018-64 |
| 発行日 | 2018-11-15 (EMCJ) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ / IEE-EMC / IEE-MAG |
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| 開催期間 | 2018/11/22(から2日開催) |
| 開催地（和） | KAIST（韓国大田市） |
| 開催地（英） | KAIST |
| テーマ（和） | EMC Joint Workshop 2018, Daejon |
| テーマ（英） | EMC Joint Workshop 2018, Daejon |
| 委員長氏名（和） | 和田 修己(京大) / 山崎 健一(電中研) / 山口 正洋(東北大) |
| 委員長氏名（英） | Osami Wada(Kyoto Univ.) / Ken-ichi Yamazaki(Central Research Institute of Electric Power Industory) / Masahiro Yamaguchi(Tohoku Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 王 建青(名工大) |
| 副委員長氏名（英） | Kensei Oh(Nagoya Inst. of Tech.) |
| 幹事氏名（和） | 青柳 貴洋(東工大) / 白木 康博(三菱電機) / 石上 忍(東北学院大) / 池畑 政輝(鉄道総研) / 小原 学(明治大) / 山田 啓壽(東芝) |
| 幹事氏名（英） | Takahiro Aoyagi(Tokyo Inst. of Tech.) / Yasuhiro Shiraki(Mitsubishi Electric) / Shinobu Ishigami(Tohoku Gakuin Univ.) / Masateru Ikehata(RTRI) / Gaku Obara(Meji Univ.) / Keiju Yamada(Toshiba Co.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 長澤 忍(三菱電機) / 山本 真一郎(兵庫県立大) / 鵜生 高徳(デンソー) / 井渕 貴章(大阪大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Shinobu Nagasawa(Mitsubishi Electric) / Shinichiro Yamamoto(Univ. of Hyogo) / Takanori Unou(Denso) / Takaaki Ibuchi(Osaka Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Magnetics |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Novel Eye-Diagram Estimation Method for Pulse Amplitude Modulation with N-level on Stacked Through Silicon Vias |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | eye diagram / eye diagram |
| キーワード(2)（和/英） | eye diagram estimation / eye diagram estimation |
| キーワード(3)（和/英） | multilevel signaling / multilevel signaling |
| キーワード(4)（和/英） | pulse amplitude modulation (PAM) / pulse amplitude modulation (PAM) |
| キーワード(5)（和/英） | single bit response (SBR) / single bit response (SBR) |
| キーワード(6)（和/英） | through-silicon via (TSV) / through-silicon via (TSV) |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | Junyong Park / Junyong Park |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称：KAIST) Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称：KAIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | Youngwoo Kim / Youngwoo Kim |
| 第 2 著者 所属（和/英） | Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称：KAIST) Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称：KAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | Kyungjun Cho / Kyungjun Cho |
| 第 3 著者 所属（和/英） | Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称：KAIST) Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称：KAIST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | Seongsoo Lee / Seongsoo Lee |
| 第 4 著者 所属（和/英） | Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称：KAIST) Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称：KAIST) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | Joungho Kim / Joungho Kim |
| 第 5 著者 所属（和/英） | Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称：KAIST) Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称：KAIST) |
| 発表年月日 | 2018-11-22 |
| 資料番号 | EMCJ2018-64 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | EMCJ-317 |
| ページ範囲 | pp.29-29(EMCJ), |
| ページ数 | 1 |
| 発行日 | 2018-11-15 (EMCJ) |