講演名 2018-11-22
[Invited Talk] Statistical Eye-diagram Estimation Method Considering Power/Ground Noise Generated by Simultaneous Switching Output Buffers
Youngwoo Kim(KAIST), Junyong Park(KAIST), Kyungjun Cho(KAIST), Joungho Kim(KAIST),
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抄録(和) In the high-speed channel, non-linear power/ground noise generated by simultaneous switching buffer outputs (SSOs) noise affect signal integrity. These noises are dominated by the occurrence probabilities of the SSO buffer combinations. However, conventional transient simulators and eye-diagram estimation methods fails to accurately estimate the eye-diagram considering these noise effects. Recent trends require signal/power integrity analysis in extremely low bit error rate (BER) level. In this paper, statistical eye-diagram estimation method considering power/ground noise generated by the SSO buffers is proposed.
抄録(英) In the high-speed channel, non-linear power/ground noise generated by simultaneous switching buffer outputs (SSOs) noise affect signal integrity. These noises are dominated by the occurrence probabilities of the SSO buffer combinations. However, conventional transient simulators and eye-diagram estimation methods fails to accurately estimate the eye-diagram considering these noise effects. Recent trends require signal/power integrity analysis in extremely low bit error rate (BER) level. In this paper, statistical eye-diagram estimation method considering power/ground noise generated by the SSO buffers is proposed.
キーワード(和) Power/Ground Noise / Simultaneous switching output (SSO) / Statistical eye-diagram
キーワード(英) Power/Ground Noise / Simultaneous switching output (SSO) / Statistical eye-diagram
資料番号 EMCJ2018-84
発行日 2018-11-15 (EMCJ)

研究会情報
研究会 EMCJ / IEE-EMC / IEE-MAG
開催期間 2018/11/22(から2日開催)
開催地(和) KAIST(韓国大田市)
開催地(英) KAIST
テーマ(和) EMC Joint Workshop 2018, Daejon
テーマ(英) EMC Joint Workshop 2018, Daejon
委員長氏名(和) 和田 修己(京大) / 山崎 健一(電中研) / 山口 正洋(東北大)
委員長氏名(英) Osami Wada(Kyoto Univ.) / Ken-ichi Yamazaki(Central Research Institute of Electric Power Industory) / Masahiro Yamaguchi(Tohoku Univ.)
副委員長氏名(和) 王 建青(名工大)
副委員長氏名(英) Kensei Oh(Nagoya Inst. of Tech.)
幹事氏名(和) 青柳 貴洋(東工大) / 白木 康博(三菱電機) / 石上 忍(東北学院大) / 池畑 政輝(鉄道総研) / 小原 学(明治大) / 山田 啓壽(東芝)
幹事氏名(英) Takahiro Aoyagi(Tokyo Inst. of Tech.) / Yasuhiro Shiraki(Mitsubishi Electric) / Shinobu Ishigami(Tohoku Gakuin Univ.) / Masateru Ikehata(RTRI) / Gaku Obara(Meji Univ.) / Keiju Yamada(Toshiba Co.)
幹事補佐氏名(和) 長澤 忍(三菱電機) / 山本 真一郎(兵庫県立大) / 鵜生 高徳(デンソー) / 井渕 貴章(大阪大)
幹事補佐氏名(英) Shinobu Nagasawa(Mitsubishi Electric) / Shinichiro Yamamoto(Univ. of Hyogo) / Takanori Unou(Denso) / Takaaki Ibuchi(Osaka Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Magnetics
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) [Invited Talk] Statistical Eye-diagram Estimation Method Considering Power/Ground Noise Generated by Simultaneous Switching Output Buffers
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) Power/Ground Noise / Power/Ground Noise
キーワード(2)(和/英) Simultaneous switching output (SSO) / Simultaneous switching output (SSO)
キーワード(3)(和/英) Statistical eye-diagram / Statistical eye-diagram
第 1 著者 氏名(和/英) Youngwoo Kim / Youngwoo Kim
第 1 著者 所属(和/英) Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称:KAIST)
Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称:KAIST)
第 2 著者 氏名(和/英) Junyong Park / Junyong Park
第 2 著者 所属(和/英) Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称:KAIST)
Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称:KAIST)
第 3 著者 氏名(和/英) Kyungjun Cho / Kyungjun Cho
第 3 著者 所属(和/英) Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称:KAIST)
Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称:KAIST)
第 4 著者 氏名(和/英) Joungho Kim / Joungho Kim
第 4 著者 所属(和/英) Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称:KAIST)
Korea Advanced Institute of Science and Technology(略称:KAIST)
発表年月日 2018-11-22
資料番号 EMCJ2018-84
巻番号(vol) vol.118
号番号(no) EMCJ-317
ページ範囲 pp.79-80(EMCJ),
ページ数 2
発行日 2018-11-15 (EMCJ)