講演名 2018-11-22
高密度パリティ検査行列を用いた2元シンドローム復号問題に基づく認証方式について
伊東 春香(佐賀大), 廣友 雅徳(佐賀大), 福田 洋治(近畿大), 毛利 公美(岐阜大), 白石 善明(神戸大),
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抄録(和) 現在用いられている認証方式の大部分は,素因数分解,離散対数問題が効率よく解けてしまえば,全て安全に利用できなくなる.このような課題に対して,耐量子性を有する,認証方式が多く提案されている.巡回構造を持つ行列を用いることで,鍵サイズを削減する改良法が存在するが,巡回構造を弱点として,様々な攻撃アルゴリズムが提案されている.本稿では,耐量子性を有し,鍵サイズ,計算量が小さい認証方式を提案する.公開鍵のパリティ検査行列を複数段の巡回行列のブロックで構成される行列とすることで,鍵サイズを削減する.巡回構造を弱点とした既存の攻撃に対応するため,符号語全体で巡回構造を無くす.さらに,行列を密にすることで,計算量を削減できることを示す.また,提案方式のセキュリティレベル,鍵サイズ,計算量,安全性について評価を行う.
抄録(英) Most of the currently used identification schemes can not be safely used if factoring factorization and discrete logarithm problem are solved efficiently.In response to such problems, many identification schemes having tolerance have been proposed.Although there is an improved scheme to reduce the key size by using the public matrix having the cyclic structure, various attack algorithms have been proposed with the cyclic structure as a weak point.In this paper, we propose an identification scheme that has tolerance and small key size and computational complexity.The key size is reduced by making the parity check matrix of the public key a matrix composed of blocks of cyclic matrices of a plurality of stages.In order to cope with existing attacks with a weak point in the cyclic structure, the cyclic structure is eliminated for the entire codeword. Furthermore, we show that the calculation matrix can be reduced by making the public matrix dense.We also evaluate the security level, key size, computational complexity and safety of the proposed scheme.
キーワード(和) ゼロ知識証明型認証 / シンドローム復号問題 / 高密度パリティ検査行列 / 耐量子性
キーワード(英) zero knowledge proof identification / syndrome decoding problem / high density parity check codes / post quantum
資料番号 ICSS2018-62
発行日 2018-11-14 (ICSS)

研究会情報
研究会 ICSS
開催期間 2018/11/21(から2日開催)
開催地(和) 宝山ホール(鹿児島)
開催地(英)
テーマ(和) 情報システム・セキュリティ、一般
テーマ(英)
委員長氏名(和) 白石 善明(神戸大)
委員長氏名(英) Yoshiaki Shiraishi(Kobe Univ.)
副委員長氏名(和) 高倉 弘喜(NII) / 吉岡 克成(横浜国大)
副委員長氏名(英) Hiroki Takakura(NII) / Katsunari Yoshioka(Yokohama National Univ.)
幹事氏名(和) 神谷 和憲(NTT) / 笠間 貴弘(NICT)
幹事氏名(英) Kazunori Kamiya(NTT) / Takahiro Kasama(NICT)
幹事補佐氏名(和) 山田 明(KDDI labs.) / 木藤 圭亮(三菱電機)
幹事補佐氏名(英) Akira Yamada(KDDI labs.) / Keisuke Kito(Mitsubishi Electric)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Information and Communication System Security
本文の言語 JPN
タイトル(和) 高密度パリティ検査行列を用いた2元シンドローム復号問題に基づく認証方式について
サブタイトル(和)
タイトル(英) Identification Scheme Based on the Binary Syndrome Decoding Problem Using High Density Parity Check Codes
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ゼロ知識証明型認証 / zero knowledge proof identification
キーワード(2)(和/英) シンドローム復号問題 / syndrome decoding problem
キーワード(3)(和/英) 高密度パリティ検査行列 / high density parity check codes
キーワード(4)(和/英) 耐量子性 / post quantum
第 1 著者 氏名(和/英) 伊東 春香 / Haruka Ito
第 1 著者 所属(和/英) 佐賀大学(略称:佐賀大)
Saga University(略称:Saga Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 廣友 雅徳 / Masanori Hirotomo
第 2 著者 所属(和/英) 佐賀大学(略称:佐賀大)
Saga University(略称:Saga Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 福田 洋治 / Youji Fukuta
第 3 著者 所属(和/英) 近畿大学(略称:近畿大)
Kindai University(略称:Kindai Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 毛利 公美 / Masami Mohri
第 4 著者 所属(和/英) 岐阜大学(略称:岐阜大)
Gifu University(略称:Gifu Univ.)
第 5 著者 氏名(和/英) 白石 善明 / Yoshiaki Shiraishi
第 5 著者 所属(和/英) 神戸大学(略称:神戸大)
Kobe University(略称:Kobe Univ.)
発表年月日 2018-11-22
資料番号 ICSS2018-62
巻番号(vol) vol.118
号番号(no) ICSS-315
ページ範囲 pp.49-54(ICSS),
ページ数 6
発行日 2018-11-14 (ICSS)