| 講演名 | 2018-11-15 共通原因故障解析に関するいくつかの話題 弓削 哲史(防衛大), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | |
| 資料番号 | R2018-42 |
| 発行日 | 2018-11-08 (R) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
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| 開催期間 | 2018/11/15(から1日開催) |
| 開催地（和） | 中央電気倶楽部 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 半導体と電子デバイスの信頼性、信頼性一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 弓削 哲史(防衛大) |
| 委員長氏名（英） | Tetsushi Yuge(National Defense Academy) |
| 副委員長氏名（和） | 安里 彰(富士通) |
| 副委員長氏名（英） | Akira Asato(Fujitsu) |
| 幹事氏名（和） | 田村 信幸(法政大) / 平栗 滋人(鉄道総研) |
| 幹事氏名（英） | Nobuyuki Tamura(Hosei Univ.) / Shigeto Hiraguri(RTRI) |
| 幹事補佐氏名（和） | 井上 真二(関西大) / 岡村 寛之(広島大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Shinji Inoue(Kansai Univ.) / Hiroyuki Okamura(Hiroshima Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Reliability |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 共通原因故障解析に関するいくつかの話題 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Some topics on common-cause failure analysis |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 弓削 哲史 / Tetsushi Yuge |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 防衛大学校(略称：防衛大) National Defense Academy(略称：NDA) |
| 発表年月日 | 2018-11-15 |
| 資料番号 | R2018-42 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | R-300 |
| ページ範囲 | pp.23-28(R), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-11-08 (R) |