| 講演名 | 2018-11-22 ［ポスター講演］注入信号の位相を考慮した意図的電磁妨害が暗号モジュールにおける故障発生に与える影響 竹之内 光樹(東北大), 林 優一(奈良先端大), 水木 敬明(東北大), 曽根 秀昭(東北大), |
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| 抄録(和) | 連続正弦波を用いた意図的な電磁妨害による故障注入では、クロックに重畳する正弦波の位相は電磁界印加を行うタイミングによって変化し、結果として生じる誤りに影響を与える可能性がある。本稿では注入する電磁波の初期位相を操作することで印加開始タイミングに左右されない故障注入手法を提案し、位相操作の影響とその有効性を実験により確認する。 |
| 抄録(英) | In a fault injection method based on Intentional Electromagnetic Interference (IEMI) from a power line, the phase of the sinusoidal waves that superimposes on the clock signal depends on the timing of injecting the electromagnetic field. Therefore, the timing of injection may influence fault occurrences and faulty outputs. In this paper, we propose a fault injection method with changing the injected signal phase, and show the influence of controlling the phase and the effectiveness of the proposal method through the experiment. |
| キーワード(和) | 故障利用解析 / 意図的電磁妨害 / DFA |
| キーワード(英) | fault analysis / intentional electromagnetic interference / DFA |
| 資料番号 | EMCJ2018-79 |
| 発行日 | 2018-11-15 (EMCJ) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ / IEE-EMC / IEE-MAG |
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| 開催期間 | 2018/11/22(から2日開催) |
| 開催地（和） | KAIST（韓国大田市） |
| 開催地（英） | KAIST |
| テーマ（和） | EMC Joint Workshop 2018, Daejon |
| テーマ（英） | EMC Joint Workshop 2018, Daejon |
| 委員長氏名（和） | 和田 修己(京大) / 山崎 健一(電中研) / 山口 正洋(東北大) |
| 委員長氏名（英） | Osami Wada(Kyoto Univ.) / Ken-ichi Yamazaki(Central Research Institute of Electric Power Industory) / Masahiro Yamaguchi(Tohoku Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 王 建青(名工大) |
| 副委員長氏名（英） | Kensei Oh(Nagoya Inst. of Tech.) |
| 幹事氏名（和） | 青柳 貴洋(東工大) / 白木 康博(三菱電機) / 石上 忍(東北学院大) / 池畑 政輝(鉄道総研) / 小原 学(明治大) / 山田 啓壽(東芝) |
| 幹事氏名（英） | Takahiro Aoyagi(Tokyo Inst. of Tech.) / Yasuhiro Shiraki(Mitsubishi Electric) / Shinobu Ishigami(Tohoku Gakuin Univ.) / Masateru Ikehata(RTRI) / Gaku Obara(Meji Univ.) / Keiju Yamada(Toshiba Co.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 長澤 忍(三菱電機) / 山本 真一郎(兵庫県立大) / 鵜生 高徳(デンソー) / 井渕 貴章(大阪大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Shinobu Nagasawa(Mitsubishi Electric) / Shinichiro Yamamoto(Univ. of Hyogo) / Takanori Unou(Denso) / Takaaki Ibuchi(Osaka Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Magnetics |
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| 本文の言語 | ENG-JTITLE |
| タイトル（和） | ［ポスター講演］注入信号の位相を考慮した意図的電磁妨害が暗号モジュールにおける故障発生に与える影響 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | [Poster Presentation] Influence of IEMI considering injected signal phase on faulty outputs in a cryptographic module |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障利用解析 / fault analysis |
| キーワード(2)（和/英） | 意図的電磁妨害 / intentional electromagnetic interference |
| キーワード(3)（和/英） | DFA / DFA |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 竹之内 光樹 / Mitsuki Takenouchi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東北大学(略称：東北大) Tohoku University(略称：Tohoku Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yu-ichi Hayashi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 水木 敬明 / Takaaki Mizuki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東北大学(略称：東北大) Tohoku University(略称：Tohoku Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 曽根 秀昭 / Hideaki Sone |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東北大学(略称：東北大) Tohoku University(略称：Tohoku Univ.) |
| 発表年月日 | 2018-11-22 |
| 資料番号 | EMCJ2018-79 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | EMCJ-317 |
| ページ範囲 | pp.61-62(EMCJ), |
| ページ数 | 2 |
| 発行日 | 2018-11-15 (EMCJ) |