講演名 2018-11-22
[Poster Presentation] A Specification Method of Faulty Bytes in Cryptographic Module Using EM Information Leakage
嵯峨 直人(東北大), 林 優一(奈良先端大), 水木 敬明(東北大), 曽根 秀昭(東北大),
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抄録(和) 差分故障解析などの代表的な故障利用解析手法では,暗号化処理において特定のタイミング・バイト数の計算誤りが発生する必要がある.本研究では,連続正弦波を用いた不特定のタイミングにおける故障注入時において,漏えい電磁情報を用いて暗号ハードウェアの誤りバイト数の特定をするための検討を行う.
抄録(英) Fault analysis methods such as Differential Fault Analysis (DFA) need ciphertexts which have specific timing faults and a specific number of faulty bytes. We will propose a specification method of faulty bytes in a cryptographic module using EM information leakage for the fault injection method which injects continuous sinusoidal EM waves via a power line in this study.
キーワード(和) 暗号モジュール / 漏えい電磁情報
キーワード(英) cryptographic module / EM information leakage
資料番号 EMCJ2018-68
発行日 2018-11-15 (EMCJ)

研究会情報
研究会 EMCJ / IEE-EMC / IEE-MAG
開催期間 2018/11/22(から2日開催)
開催地(和) KAIST(韓国大田市)
開催地(英) KAIST
テーマ(和) EMC Joint Workshop 2018, Daejon
テーマ(英) EMC Joint Workshop 2018, Daejon
委員長氏名(和) 和田 修己(京大) / 山崎 健一(電中研) / 山口 正洋(東北大)
委員長氏名(英) Osami Wada(Kyoto Univ.) / Ken-ichi Yamazaki(Central Research Institute of Electric Power Industory) / Masahiro Yamaguchi(Tohoku Univ.)
副委員長氏名(和) 王 建青(名工大)
副委員長氏名(英) Kensei Oh(Nagoya Inst. of Tech.)
幹事氏名(和) 青柳 貴洋(東工大) / 白木 康博(三菱電機) / 石上 忍(東北学院大) / 池畑 政輝(鉄道総研) / 小原 学(明治大) / 山田 啓壽(東芝)
幹事氏名(英) Takahiro Aoyagi(Tokyo Inst. of Tech.) / Yasuhiro Shiraki(Mitsubishi Electric) / Shinobu Ishigami(Tohoku Gakuin Univ.) / Masateru Ikehata(RTRI) / Gaku Obara(Meji Univ.) / Keiju Yamada(Toshiba Co.)
幹事補佐氏名(和) 長澤 忍(三菱電機) / 山本 真一郎(兵庫県立大) / 鵜生 高徳(デンソー) / 井渕 貴章(大阪大)
幹事補佐氏名(英) Shinobu Nagasawa(Mitsubishi Electric) / Shinichiro Yamamoto(Univ. of Hyogo) / Takanori Unou(Denso) / Takaaki Ibuchi(Osaka Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Magnetics
本文の言語 ENG
タイトル(和)
サブタイトル(和)
タイトル(英) [Poster Presentation] A Specification Method of Faulty Bytes in Cryptographic Module Using EM Information Leakage
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 暗号モジュール / cryptographic module
キーワード(2)(和/英) 漏えい電磁情報 / EM information leakage
第 1 著者 氏名(和/英) 嵯峨 直人 / Naoto Saga
第 1 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 林 優一 / Yu-ichi Hayashi
第 2 著者 所属(和/英) 奈良先端科学技術大学院大学(略称:奈良先端大)
Nara Institute of Science and Technology(略称:NAIST)
第 3 著者 氏名(和/英) 水木 敬明 / Takaaki Mizuki
第 3 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 曽根 秀昭 / Hideaki Sone
第 4 著者 所属(和/英) 東北大学(略称:東北大)
Tohoku University(略称:Tohoku Univ.)
発表年月日 2018-11-22
資料番号 EMCJ2018-68
巻番号(vol) vol.118
号番号(no) EMCJ-317
ページ範囲 pp.39-40(EMCJ),
ページ数 2
発行日 2018-11-15 (EMCJ)