| 講演名 | 2018-11-22 [Poster Presentation] Fundamental Study on Degradation of Randomness in TRNG Due to Intentional Electromagnetic Interference 大須賀 彩希(奈良先端大), 藤本 大介(奈良先端大), 本間 尚文(東北大), Arthur Beckers(KU Leuven), Josep Balasch(KU Leuven), Benedikt Gierlichs(KU Leuven), Ingrid Verbauwhede(KU Leuven), 林 優一(奈良先端大), |
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| 抄録(和) | |
| 抄録(英) | Attacks that degrade the randomness of a true random number generator (TRNG) by physical attacks on entropy sources, which are the basis of randomness, have been proposed. If these attacks reduce the randomness of a TRNG, it can be a real threat to security. However, methods to evaluate the resistance of entropy sources to these attacks have not been fully discussed in the past. In this paper, we conduct a fundamental study on a method to evaluate the entropy of ring oscillators, which are widely used as entropy sources of TRNGs by using amplitude probability distribution (APD) measurement. |
| キーワード(和) | |
| キーワード(英) | true random number generatoramplitude probability distributionintentional electromagnetic interference |
| 資料番号 | EMCJ2018-66 |
| 発行日 | 2018-11-15 (EMCJ) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ / IEE-EMC / IEE-MAG |
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| 開催期間 | 2018/11/22(から2日開催) |
| 開催地（和） | KAIST（韓国大田市） |
| 開催地（英） | KAIST |
| テーマ（和） | EMC Joint Workshop 2018, Daejon |
| テーマ（英） | EMC Joint Workshop 2018, Daejon |
| 委員長氏名（和） | 和田 修己(京大) / 山崎 健一(電中研) / 山口 正洋(東北大) |
| 委員長氏名（英） | Osami Wada(Kyoto Univ.) / Ken-ichi Yamazaki(Central Research Institute of Electric Power Industory) / Masahiro Yamaguchi(Tohoku Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 王 建青(名工大) |
| 副委員長氏名（英） | Kensei Oh(Nagoya Inst. of Tech.) |
| 幹事氏名（和） | 青柳 貴洋(東工大) / 白木 康博(三菱電機) / 石上 忍(東北学院大) / 池畑 政輝(鉄道総研) / 小原 学(明治大) / 山田 啓壽(東芝) |
| 幹事氏名（英） | Takahiro Aoyagi(Tokyo Inst. of Tech.) / Yasuhiro Shiraki(Mitsubishi Electric) / Shinobu Ishigami(Tohoku Gakuin Univ.) / Masateru Ikehata(RTRI) / Gaku Obara(Meji Univ.) / Keiju Yamada(Toshiba Co.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 長澤 忍(三菱電機) / 山本 真一郎(兵庫県立大) / 鵜生 高徳(デンソー) / 井渕 貴章(大阪大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Shinobu Nagasawa(Mitsubishi Electric) / Shinichiro Yamamoto(Univ. of Hyogo) / Takanori Unou(Denso) / Takaaki Ibuchi(Osaka Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Magnetics |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | [Poster Presentation] Fundamental Study on Degradation of Randomness in TRNG Due to Intentional Electromagnetic Interference |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | / true random number generatoramplitude probability distributionintentional electromagnetic interference |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 大須賀 彩希 / Saki Osuka |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 本間 尚文 / Naofumi Homma |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 東北大学(略称：東北大) Tohoku University(略称：Tohoku Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | Arthur Beckers / Arthur Beckers |
| 第 4 著者 所属（和/英） | KU Leuven(略称：KU Leuven) KU Leuven(略称：KU Leuven) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | Josep Balasch / Josep Balasch |
| 第 5 著者 所属（和/英） | KU Leuven(略称：KU Leuven) KU Leuven(略称：KU Leuven) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | Benedikt Gierlichs / Benedikt Gierlichs |
| 第 6 著者 所属（和/英） | KU Leuven(略称：KU Leuven) KU Leuven(略称：KU Leuven) |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | Ingrid Verbauwhede / Ingrid Verbauwhede |
| 第 7 著者 所属（和/英） | KU Leuven(略称：KU Leuven) KU Leuven(略称：KU Leuven) |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yu-ichi Hayashi |
| 第 8 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 発表年月日 | 2018-11-22 |
| 資料番号 | EMCJ2018-66 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | EMCJ-317 |
| ページ範囲 | pp.35-36(EMCJ), |
| ページ数 | 2 |
| 発行日 | 2018-11-15 (EMCJ) |