講演名 2018-08-23
[招待講演]デジタルデータの長期保管を実現する高信頼メモリシステム
小林 敏夫(芝浦工大),
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抄録(和) 半導体技術に支えられたデジタル技術はその圧倒的な利便性と能力によって個人の生活と社会活動のために必須な技術なった.その一方で,デジタルデータを長期間保管するためには持続する意志と継続的な財政戦略が必要であることが知られている.いずれかが失われるとデジタルデータは失われる.紙媒体のように意図せずして将来に情報が残ることはない.短期的に価値を生まない情報,コンテンツは,将来人類にとって重要になるものでも失われる.このような状況をデジタル暗黒時代と言う.この問題を解決する第一歩として,現在「デジタルデータの長期保管を実現する高信頼メモリシステム」の研究が進められている. 多くの問題があるが,長期保存のためのストレージには潜在的に非常に大きな市場がある.
抄録(英) Digital technology based on semiconductor technology has become indispensable technology for personal living and social activities by its overwhelming convenience and ability. On the other hand, it is known that in order to long-term preservation of digital data is a necessary ongoing financial strategy and the will to persist. If one of them is lost, there is impossible to preserve an information in the future, unlike paper media. Information that does not produce value in the short term, contents, even those that will become important to humanity in the future will be lost. Such a situation is called as the digital dark ages. As a first step to get the solution of this problem, researches on "Highly reliable long-term semiconductor memory system" are underway. There are many issues, however there is a potentially very huge business of the storage for long-term preservation.
キーワード(和) 長期保管 / 半導体 / 不揮発性メモリ / 配線 / エミュレーション / マイグレーション
キーワード(英) Long-term preservation / Semiconductor / Non-volatile memory / Wiring / Emulation / Migration
資料番号 R2018-23,EMD2018-26,CPM2018-26,OPE2018-53,LQE2018-42
発行日 2018-08-16 (R, EMD, CPM, OPE, LQE)

研究会情報
研究会 EMD / LQE / OPE / CPM / R
開催期間 2018/8/23(から2日開催)
開催地(和) 小樽経済センター
開催地(英) Otaru Camber of Commerce & Industry
テーマ(和) 光部品・電子デバイス実装技術・信頼性,及び一般
テーマ(英)
委員長氏名(和) 和田 真一(TMCシステム) / 浜本 貴一(九大) / 佐藤 功紀(古河電工) / 廣瀬 文彦(山形大) / 弓削 哲史(防衛大)
委員長氏名(英) Shinichi Wada(TMC System) / Kiichi Hamamoto(Kyusyu Univ.) / Kouki Sato(Furukawa Electric Industries) / Fumihiko Hirose(Yamagata Univ.) / Tetsushi Yuge(National Defense Academy)
副委員長氏名(和) 萓野 良樹(電通大) / 有賀 博(三菱電機) / 高橋 浩(上智大) / 武山 真弓(北見工大) / 安里 彰(富士通)
副委員長氏名(英) Yoshiki Kayano(Univ. of Electro-Comm.) / Hiroshi Aruga(Mitsubishi Electric) / Hiroshi Takahashi(Sophia Univ.) / Mayumi Takeyama(Kitami Inst. of Tech.) / Akira Asato(Fujitsu)
幹事氏名(和) 水上 雅人(室蘭工大) / 鈴木 健司(富士電機機器制御) / 八木 英樹(住友電工) / 川北 泰雅(古河電工) / 種村 拓夫(東大) / 山本 直克(NICT) / 中村 雄一(豊橋技科大) / 赤毛 勇一(NTTデバイスイノベーションセンタ) / 田村 信幸(法政大) / 平栗 滋人(鉄道総研)
幹事氏名(英) Masato Mizukami(Muroran Inst. of Tech.) / Kenji Suzuki(Fuji Electric) / Hideki Yagi(SEI) / Yasumasa Kawakita(Furukawa Electric Industries) / Takuo Tanemura(Univ. of Tokyo) / Naokatsu Yamamoto(NICT) / Yuichi Nakamura(Toyohashi Univ. of Tech.) / Yuichi Akage(NTT) / Nobuyuki Tamura(Hosei Univ.) / Shigeto Hiraguri(RTRI)
幹事補佐氏名(和) 林 優一(奈良先端大) / 永井 正也(阪大) / 庄司 雄哉(東京工業大学) / 妹尾 和則(NTT) / 木村 康男(東京工科大) / 中澤 日出樹(弘前大) / 寺迫 智昭(愛媛大) / 井上 真二(関西大) / 岡村 寛之(広島大)
幹事補佐氏名(英) Yuichi Hayashi(NAIST) / Masaya Nagai(Osaka Univ.) / Yuya Shoji(Tokyo Inst. of Tech.) / Kazunori Seno(NTT) / Yasuo Kimura(Tokyo Univ. of Tech.) / Hideki Nakazawa(Hirosaki Univ.) / Tomoaki Terasako(Ehime Univ.) / Shinji Inoue(Kansai Univ.) / Hiroyuki Okamura(Hiroshima Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Electromechanical Devices / Technical Committee on Lasers and Quantum Electronics / Technical Committee on OptoElectronics / Technical Committee on Component Parts and Materials / Technical Committee on Reliability
本文の言語 JPN
タイトル(和) [招待講演]デジタルデータの長期保管を実現する高信頼メモリシステム
サブタイトル(和) その背景と課題さらにその展望
タイトル(英) [Invited Talk] Highly reliable memory system realizing long-term preservation of digital data
サブタイトル(和) The background, issues and the prospects
キーワード(1)(和/英) 長期保管 / Long-term preservation
キーワード(2)(和/英) 半導体 / Semiconductor
キーワード(3)(和/英) 不揮発性メモリ / Non-volatile memory
キーワード(4)(和/英) 配線 / Wiring
キーワード(5)(和/英) エミュレーション / Emulation
キーワード(6)(和/英) マイグレーション / Migration
第 1 著者 氏名(和/英) 小林 敏夫 / Toshio Kobayashi
第 1 著者 所属(和/英) 芝浦工業大学(略称:芝浦工大)
Shibaura Institute of Technology(略称:SIT)
発表年月日 2018-08-23
資料番号 R2018-23,EMD2018-26,CPM2018-26,OPE2018-53,LQE2018-42
巻番号(vol) vol.118
号番号(no) R-185,EMD-186,CPM-187,OPE-188,LQE-189
ページ範囲 pp.31-36(R), pp.31-36(EMD), pp.31-36(CPM), pp.31-36(OPE), pp.31-36(LQE),
ページ数 6
発行日 2018-08-16 (R, EMD, CPM, OPE, LQE)