| 講演名 | 2018-07-26 導波管を用いたSARプローブ較正におけるあてはめ範囲に関する検討 石井 望(NICT/新潟大), 清水 悠斗(NICT), 長岡 智明(NICT), 渡辺 聡一(NICT), |
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| 抄録(和) | 無線携帯端末の比吸収率測定では，ファントム液剤内で電界プローブを走査し，無線携帯端末によりファントム液剤内に生じるSAR分布を求める．このため，電界プローブの先端での電界強度をプローブ3軸センサの受信合成電圧に対応づける，すなわち，プローブの較正が予め必要となる．携帯電話等で使用されている周波数帯では，プローブ較正は一般にファントム液剤で充たした底面付き導波管内で実施される．本稿では，プローブ較正で必要となる受信合成電圧の距離特性を曲線あてはめする際の適切なあてはめ範囲の決定法について論じる．さらに，導波管底面近傍で受信合成電圧に重畳される境界効果の補償に関する知見についても言及する． |
| 抄録(英) | In the measurement of the specific absorption rate (SAR) of the wireless mobile device, the electric field probe is scanned in the phantom liquid and the SAR distribution produced in the phantom liquid is measured. It is necessary to calibrate the probe or to relate the electric field intensity at the tip of the probe to the combined output voltage of the probe. In frequency bands used in mobile phones, the calibration of the probe is generally carried out in a waveguide well filled with phantom liquid. In this report, we propose a method of determining appropriate ranges to fit the combined output voltage to the corresponding exponential decay function. We also discuss how to compensate the boundary effect superimposed on the combined output voltage near the bottom of the waveguide well. |
| キーワード(和) | 比吸収率 / ファントム液剤 / 電界プローブ / 導波管 / あてはめ範囲 / 境界効果 |
| キーワード(英) | Specific absorption rate / Phantom liquid / Electric-field probe / Waveguide / Fitting range / Boundary effect |
| 資料番号 | EMCJ2018-19,EMD2018-17 |
| 発行日 | 2018-07-19 (EMCJ, EMD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ / IEE-SPC / EMD |
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| 開催期間 | 2018/7/26(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 実装，EMC一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 和田 修己(京大) / 船渡 寛人(宇都宮大学) / 和田 真一(TMCシステム) |
| 委員長氏名（英） | Osami Wada(Kyoto Univ.) / 船渡 寛人(宇都宮大学) / Shinichi Wada(TMC System) |
| 副委員長氏名（和） | 王 建青(名工大) / 藤井 幹介(富士電機) / 萓野 良樹(電通大) |
| 副委員長氏名（英） | Kensei Oh(Nagoya Inst. of Tech.) / 藤井 幹介(富士電機) / Yoshiki Kayano(Univ. of Electro-Comm.) |
| 幹事氏名（和） | 青柳 貴洋(東工大) / 白木 康博(三菱電機) / 伊東 淳一(長岡技術科学大学) / 和田 圭二(首都大学東京) / 水上 雅人(室蘭工大) |
| 幹事氏名（英） | Takahiro Aoyagi(Tokyo Inst. of Tech.) / Yasuhiro Shiraki(Mitsubishi Electric) / 伊東 淳一(長岡技術科学大学) / 和田 圭二(首都大学東京) / Masato Mizukami(Muroran Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 長澤 忍(三菱電機) / 山本 真一郎(兵庫県立大) / 鵜生 高徳(デンソー) / 図子 祐輔(日産自動車) / 高見 弘(芝浦工業大学) / 林 優一(東北学院大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Shinobu Nagasawa(Mitsubishi Electric) / Shinichiro Yamamoto(Univ. of Hyogo) / Takanori Unou(Denso) / 図子 祐輔(日産自動車) / 高見 弘(芝浦工業大学) / Yuichi Hayashi(Tohoku Gakuin Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Meeting on Semiconductor Power Converter / Technical Committee on Electromechanical Devices |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 導波管を用いたSARプローブ較正におけるあてはめ範囲に関する検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | On Determining the Fitting Range to Calibrate the SAR Probe Using the Waveguide System |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 比吸収率 / Specific absorption rate |
| キーワード(2)（和/英） | ファントム液剤 / Phantom liquid |
| キーワード(3)（和/英） | 電界プローブ / Electric-field probe |
| キーワード(4)（和/英） | 導波管 / Waveguide |
| キーワード(5)（和/英） | あてはめ範囲 / Fitting range |
| キーワード(6)（和/英） | 境界効果 / Boundary effect |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 石井 望 / Nozomu Ishii |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構/新潟大学(略称：NICT/新潟大) National Institute of Information and Communications Technology/Niigata University(略称：NICT/Niigata Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 清水 悠斗 / Yuto Shimizu |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構(略称：NICT) National Institute of Information and Communications Technology(略称：NICT) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 長岡 智明 / Tomoaki Nagaoka |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構(略称：NICT) National Institute of Information and Communications Technology(略称：NICT) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 渡辺 聡一 / Soichi Watanabe |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 情報通信研究機構(略称：NICT) National Institute of Information and Communications Technology(略称：NICT) |
| 発表年月日 | 2018-07-26 |
| 資料番号 | EMCJ2018-19,EMD2018-17 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | EMCJ-158,EMD-159 |
| ページ範囲 | pp.19-24(EMCJ), pp.19-24(EMD), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-07-19 (EMCJ, EMD) |