| 講演名 | 2018-07-25 スマートデバイスからの電磁情報漏えい源特定に関する基礎検討 仁科 泉美(奈良先端大), 藤本 大介(奈良先端大), 衣川 昌宏(仙台高専), 林 優一(奈良先端大), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 音声出力機能のあるスマートデバイスから電磁波を通じて音情報が漏えいする脅威が報告されている。電磁波を通じた音情報の漏えいを抑制するには、音情報を伝搬する周波数帯や音情報の漏えいを引き起こすデバイス部位を把握することが有用であるが、これまでこうした検討は十分なされてない。本稿では、漏えいを抑制するために必要となる基礎知見を与えるため、音声再生に関連するデバイスの構成部品から放射される電磁波を測定し、放射電磁界の強度に関する分布図を作成することで漏えい源となる部位を絞り込む。そして、分布図によって絞り込まれた範囲内に漏えい源があることを確認するため、特定した範囲内にある電子素子を取り出し、素子単体から放射される電磁波を測定し、AM復調することにより音情報の漏えい源を特定する。 |
| 抄録(英) | A threat of leakage of sound information via electromagnetic field from a smart device having an audio output function has been reported. To suppress leakage of sound information through EM waves, it is useful to search frequency bands that propagate sound information and electrical components that cause leakage of audio information. However, there is not enough discussion about the electrical components causing information leakage. In this paper, to provide the fundamental knowledge necessary to suppress leakage, we measure the EM field including audio information radiated from the components of the device and create cartography relating to the intensity of the radiated EM field. Thereby, we are able to find out the part causing information leakage. Finally, we verify the leakage source by extracting component and measuring EM waves from the component. |
| キーワード(和) | 電磁情報漏洩 / スマートデバイス / 音情報漏えい / 放射電磁波測定 / Cartography |
| キーワード(英) | EM information leakage / Smart device / Sound information leakage / EM radiated signal measurement / Cartography |
| 資料番号 | ISEC2018-21,SITE2018-13,HWS2018-18,ICSS2018-24,EMM2018-20 |
| 発行日 | 2018-07-18 (ISEC, SITE, HWS, ICSS, EMM) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS / ISEC / SITE / ICSS / EMM / IPSJ-CSEC / IPSJ-SPT |
|---|---|
| 開催期間 | 2018/7/25(から2日開催) |
| 開催地（和） | 札幌コンベンションセンター |
| 開催地（英） | Sapporo Convention Center |
| テーマ（和） | セキュリティ、一般 |
| テーマ（英） | Security, etc. |
| 委員長氏名（和） | 松本 勉(横浜国大) / 藤岡 淳(神奈川大) / 森住 哲也(神奈川大) / 白石 善明(神戸大) / 岩村 惠市(東京理科大) |
| 委員長氏名（英） | Tsutomu Matsumoto(Yokohama National Univ.) / Atsushi Fujioka(Kanagawa Univ.) / Tetsuya Morizumi(Kanagawa Univ.) / Yoshiaki Shiraishi(Kobe Univ.) / Keiichi Iwamura(TUC) |
| 副委員長氏名（和） | 川村 信一(東芝) / 池田 誠(東大) / 盛合 志帆(NICT) / 廣瀬 勝一(福井大) / 小川 賢(神戸学院大) / 大谷 卓史(吉備国際大) / 高倉 弘喜(NII) / 吉岡 克成(横浜国大) / 栗林 稔(岡山大) / 小嶋 徹也(東京高専) |
| 副委員長氏名（英） | Shinichi Kawamura(Toshiba) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) / Shiho Moriai(NICT) / Shoichi Hirose(Univ. of Fukui) / Masaru Ogawa(Kobe Gakuin Univ.) / Takushi Otani(Kibi International Univ.) / Hiroki Takakura(NII) / Katsunari Yoshioka(Yokohama National Univ.) / Minoru Kuribayashi(Okayama Univ.) / Tetsuya Kojima(NIT,Tokyo College) |
| 幹事氏名（和） | 三浦 典之(神戸大) / 国井 裕樹(セコム) / 大東 俊博(東海大) / 江村 恵太(NICT) / 川口 嘉奈子(東京藝術大) / 壁谷 彰慶(東洋英和女学院大) / 神谷 和憲(NTT) / 笠間 貴弘(NICT) / 姜 玄浩(東京高専) / 村田 晴美(中京大) |
| 幹事氏名（英） | Noriyuki Miura(Kobe Univ.) / Hiroki Kunii(SECOM) / Toshihiro Ohigashi(Tokai Univ.) / Keita Emura(NICT) / Kanako Kawaguchi(Tokyo Univ. of the Arts) / Akiyoshi Kabeya(Toyo Eiwa Univ.) / Kazunori Kamiya(NTT) / Takahiro Kasama(NICT) / Kan Hyonho(NIT, Tokyo) / Harumi Murata(Tyukyo Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 面 和成(筑波大) / 須賀 祐治(インターネットイニシアティブ) / 加藤 尚徳(KDDI総合研究所) / 吉永 敦征(山口県立大) / 鈴木 大助(北陸大) / 山田 明(KDDI labs.) / 木藤 圭亮(三菱電機) / 秋山 寛子(長野高専) / 金田 北洋(キヤノン) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Kazunari Omote(Tsukuba Univ.) / Yuuji Suga(IIJ) / Hisanori Kato(KDDI Research) / Nobuyuki Yoshinaga(Yamaguchi Pref Univ.) / Daisuke Suzuki(Hokuriku Univ.) / Akira Yamada(KDDI labs.) / Keisuke Kito(Mitsubishi Electric) / Hiroko Akiyama(National Institute of Technology, Nagano College) / キタヒロ カネダ(CANON) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Hardware Security / Technical Committee on Information Security / Technical Committee on Social Implications of Technology and Information Ethics / Technical Committee on Information and Communication System Security / Technical Committee on Enriched MultiMedia / Special Interest Group on Computer Security / Special Interest Group on Security Psychology and Trust |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | スマートデバイスからの電磁情報漏えい源特定に関する基礎検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Fundamental Study on Identification of EM Leakage Source of Audio Information from a Smart Device |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電磁情報漏洩 / EM information leakage |
| キーワード(2)（和/英） | スマートデバイス / Smart device |
| キーワード(3)（和/英） | 音情報漏えい / Sound information leakage |
| キーワード(4)（和/英） | 放射電磁波測定 / EM radiated signal measurement |
| キーワード(5)（和/英） | Cartography / Cartography |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 仁科 泉美 / Izumi Nishina |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 衣川 昌宏 / Masahiro Kinugawa |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 仙台高等専門学校(略称：仙台高専) National Institute of Technology, Sendai College(略称：NIT) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yu-ichi Hayashi |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 発表年月日 | 2018-07-25 |
| 資料番号 | ISEC2018-21,SITE2018-13,HWS2018-18,ICSS2018-24,EMM2018-20 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | ISEC-151,SITE-152,HWS-153,ICSS-154,EMM-155 |
| ページ範囲 | pp.83-88(ISEC), pp.83-88(SITE), pp.83-88(HWS), pp.83-88(ICSS), pp.83-88(EMM), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-07-18 (ISEC, SITE, HWS, ICSS, EMM) |