| 講演名 | 2018-07-25 ガウス雑音を用いた暗号機器への意図的な電磁妨害に対する耐性評価手法 岡本 拓実(奈良先端大), 藤本 大介(奈良先端大), 林 優一(奈良先端大), 本間 尚文(東北大), アーサー ベッカーズ(KU Leuven), ジョゼフ バラスチ(KU Leuven), ベネディクト ゲーリッヒ(KU Leuven), イングリッド ヴェルバウヘーデ(KU Leuven), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 従来の意図的な電磁妨害(IEMI)で利用されるような高電力電磁波(HPEM)に比べ3桁ほど小さいレベルの妨害電磁波を暗号機器に対して非侵襲に印加し、一時的な故障を注入する攻撃が報告されている。従来、機器がIEMIの脅威の対象であるかを評価する際、攻撃者と同様の手順を用いた評価が行われており、攻撃を実施するのと同程度の時間が評価に求められる。本稿では、ガウス雑音を利用した短時間で実行可能な評価手法を提案する。脅威の対象であるか否かは、機器外部から対象の暗号モジュールにセットアップタイム違反を引き起こすような周波数帯域が存在するかどうかに依存する。従来の評価では効率の良い周波数を十分な時間をかけて探索し、印加する必要があったが、本手法では広帯域な周波数成分を持つガウス雑音を印加することで、一時的な故障が注入可能であるか短時間に評価する。実験では、AESを実装したSASEBO-Gに対して電源線からガウス雑音を印加し、故障が注入可能であることを確認し、従来法にくらべ短時間で脅威の対象か否かを評価可能であることを示した。 |
| 抄録(英) | Fault injection attacks using intentional electromagnetic interference against cryptographic devices have been reported. When evaluating whether a device is a target of such a threat, traditionally, a method of directly tracing an attack meth-od has been used. For that reason, evaluation takes about the same time as the attack. In this paper, we propose a method to shorten the evaluation time using Gaussian noise. To evaluate whether the device is the subject of the threat de-scribed above, it is necessary to investigate whether there are frequencies causing a setup time violation in the crypto-graphic module from the outside the device. To find effective frequencies causing faults, conventionally, a wide fre-quency range was searched for sufficient time while changing the frequency step. On the other hand, in this paper, we inject Gaussian noise with broadband frequency components to the target equipment to eliminate frequency search and evaluate whether it is a threat target in a short time. |
| キーワード(和) | 意図的な電磁妨害 / フォールト攻撃 |
| キーワード(英) | Intentional Electromagnetic Interference / Fault Injection Attack |
| 資料番号 | ISEC2018-20,SITE2018-12,HWS2018-17,ICSS2018-23,EMM2018-19 |
| 発行日 | 2018-07-18 (ISEC, SITE, HWS, ICSS, EMM) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS / ISEC / SITE / ICSS / EMM / IPSJ-CSEC / IPSJ-SPT |
|---|---|
| 開催期間 | 2018/7/25(から2日開催) |
| 開催地（和） | 札幌コンベンションセンター |
| 開催地（英） | Sapporo Convention Center |
| テーマ（和） | セキュリティ、一般 |
| テーマ（英） | Security, etc. |
| 委員長氏名（和） | 松本 勉(横浜国大) / 藤岡 淳(神奈川大) / 森住 哲也(神奈川大) / 白石 善明(神戸大) / 岩村 惠市(東京理科大) |
| 委員長氏名（英） | Tsutomu Matsumoto(Yokohama National Univ.) / Atsushi Fujioka(Kanagawa Univ.) / Tetsuya Morizumi(Kanagawa Univ.) / Yoshiaki Shiraishi(Kobe Univ.) / Keiichi Iwamura(TUC) |
| 副委員長氏名（和） | 川村 信一(東芝) / 池田 誠(東大) / 盛合 志帆(NICT) / 廣瀬 勝一(福井大) / 小川 賢(神戸学院大) / 大谷 卓史(吉備国際大) / 高倉 弘喜(NII) / 吉岡 克成(横浜国大) / 栗林 稔(岡山大) / 小嶋 徹也(東京高専) |
| 副委員長氏名（英） | Shinichi Kawamura(Toshiba) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) / Shiho Moriai(NICT) / Shoichi Hirose(Univ. of Fukui) / Masaru Ogawa(Kobe Gakuin Univ.) / Takushi Otani(Kibi International Univ.) / Hiroki Takakura(NII) / Katsunari Yoshioka(Yokohama National Univ.) / Minoru Kuribayashi(Okayama Univ.) / Tetsuya Kojima(NIT,Tokyo College) |
| 幹事氏名（和） | 三浦 典之(神戸大) / 国井 裕樹(セコム) / 大東 俊博(東海大) / 江村 恵太(NICT) / 川口 嘉奈子(東京藝術大) / 壁谷 彰慶(東洋英和女学院大) / 神谷 和憲(NTT) / 笠間 貴弘(NICT) / 姜 玄浩(東京高専) / 村田 晴美(中京大) |
| 幹事氏名（英） | Noriyuki Miura(Kobe Univ.) / Hiroki Kunii(SECOM) / Toshihiro Ohigashi(Tokai Univ.) / Keita Emura(NICT) / Kanako Kawaguchi(Tokyo Univ. of the Arts) / Akiyoshi Kabeya(Toyo Eiwa Univ.) / Kazunori Kamiya(NTT) / Takahiro Kasama(NICT) / Kan Hyonho(NIT, Tokyo) / Harumi Murata(Tyukyo Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 面 和成(筑波大) / 須賀 祐治(インターネットイニシアティブ) / 加藤 尚徳(KDDI総合研究所) / 吉永 敦征(山口県立大) / 鈴木 大助(北陸大) / 山田 明(KDDI labs.) / 木藤 圭亮(三菱電機) / 秋山 寛子(長野高専) / 金田 北洋(キヤノン) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Kazunari Omote(Tsukuba Univ.) / Yuuji Suga(IIJ) / Hisanori Kato(KDDI Research) / Nobuyuki Yoshinaga(Yamaguchi Pref Univ.) / Daisuke Suzuki(Hokuriku Univ.) / Akira Yamada(KDDI labs.) / Keisuke Kito(Mitsubishi Electric) / Hiroko Akiyama(National Institute of Technology, Nagano College) / キタヒロ カネダ(CANON) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Hardware Security / Technical Committee on Information Security / Technical Committee on Social Implications of Technology and Information Ethics / Technical Committee on Information and Communication System Security / Technical Committee on Enriched MultiMedia / Special Interest Group on Computer Security / Special Interest Group on Security Psychology and Trust |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ガウス雑音を用いた暗号機器への意図的な電磁妨害に対する耐性評価手法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Immunity Evaluation of Cryptographic Devices using Gaussian Noise against IEMI Fault Injection |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 意図的な電磁妨害 / Intentional Electromagnetic Interference |
| キーワード(2)（和/英） | フォールト攻撃 / Fault Injection Attack |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 岡本 拓実 / Takumi Okamoto |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 藤本 大介 / Daisuke Fujimoto |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 林 優一 / Yuichi Hayashi |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 奈良先端科学技術大学院大学(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 本間 尚文 / Naofumi Homma |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 東北大学(略称：東北大) Tohoku University(略称：Tohoku Univ.) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | アーサー ベッカーズ / Arthur Beckers |
| 第 5 著者 所属（和/英） | ルーヴェン・カトリック大学(略称：KU Leuven) imec-COSIC KU Leuven(略称：KU Leuven) |
| 第 6 著者 氏名（和/英） | ジョゼフ バラスチ / Josep Balasch |
| 第 6 著者 所属（和/英） | ルーヴェン・カトリック大学(略称：KU Leuven) imec-COSIC KU Leuven(略称：KU Leuven) |
| 第 7 著者 氏名（和/英） | ベネディクト ゲーリッヒ / Benedikt Gierlichs |
| 第 7 著者 所属（和/英） | ルーヴェン・カトリック大学(略称：KU Leuven) imec-COSIC KU Leuven(略称：KU Leuven) |
| 第 8 著者 氏名（和/英） | イングリッド ヴェルバウヘーデ / Ingrid Verbauwhede |
| 第 8 著者 所属（和/英） | ルーヴェン・カトリック大学(略称：KU Leuven) imec-COSIC KU Leuven(略称：KU Leuven) |
| 発表年月日 | 2018-07-25 |
| 資料番号 | ISEC2018-20,SITE2018-12,HWS2018-17,ICSS2018-23,EMM2018-19 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | ISEC-151,SITE-152,HWS-153,ICSS-154,EMM-155 |
| ページ範囲 | pp.77-81(ISEC), pp.77-81(SITE), pp.77-81(HWS), pp.77-81(ICSS), pp.77-81(EMM), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2018-07-18 (ISEC, SITE, HWS, ICSS, EMM) |