| 講演名 | 2018-07-26 Compensation of Temperature Induced Flipping-Bits in CMOS SRAM PUF by NMOS Body-Bias Xuanhao Zhang(Waseda Univ.), Xiang Chen(Waseda Univ.), Hanfeng Sun(Waseda Univ.), Hirofumi Shinohara(Waseda Univ.), |
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| 抄録(和) | PUF suffers from flipping-bits caused by temperature changes which degrade the stability of output. This paper proposes a new method to reduce flipping-bits of SRAM PUF by applying body-bias to nMOS. Correlation between temperature coefficient of Vth and body-bias coefficient is verified using 130nm CMOS technology, and the feasibility of applying body-bias to reduce flipping-bits is confirmed. According to a 1Kbit CMOS SRAM PUF evaluation, flipping-bits at higher temperatures is reduced by applying specific body-bias voltages. At 60?C, by applying body-bias only to nMOS, a maximum of 42% reduction of flipping-bits was observed. |
| 抄録(英) | PUF suffers from flipping-bits caused by temperature changes which degrade the stability of output. This paper proposes a new method to reduce flipping-bits of SRAM PUF by applying body-bias to nMOS. Correlation between temperature coefficient of Vth and body-bias coefficient is verified using 130nm CMOS technology, and the feasibility of applying body-bias to reduce flipping-bits is confirmed. According to a 1Kbit CMOS SRAM PUF evaluation, flipping-bits at higher temperatures is reduced by applying specific body-bias voltages. At 60?C, by applying body-bias only to nMOS, a maximum of 42% reduction of flipping-bits was observed. |
| キーワード(和) | SRAM PUF / Flipping-Bits / Threshold Voltage / Body-Bias / Temperature |
| キーワード(英) | SRAM PUF / Flipping-Bits / Threshold Voltage / Body-Bias / Temperature |
| 資料番号 | ISEC2018-41,SITE2018-33,HWS2018-38,ICSS2018-44,EMM2018-40 |
| 発行日 | 2018-07-18 (ISEC, SITE, HWS, ICSS, EMM) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | HWS / ISEC / SITE / ICSS / EMM / IPSJ-CSEC / IPSJ-SPT |
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| 開催期間 | 2018/7/25(から2日開催) |
| 開催地（和） | 札幌コンベンションセンター |
| 開催地（英） | Sapporo Convention Center |
| テーマ（和） | セキュリティ、一般 |
| テーマ（英） | Security, etc. |
| 委員長氏名（和） | 松本 勉(横浜国大) / 藤岡 淳(神奈川大) / 森住 哲也(神奈川大) / 白石 善明(神戸大) / 岩村 惠市(東京理科大) |
| 委員長氏名（英） | Tsutomu Matsumoto(Yokohama National Univ.) / Atsushi Fujioka(Kanagawa Univ.) / Tetsuya Morizumi(Kanagawa Univ.) / Yoshiaki Shiraishi(Kobe Univ.) / Keiichi Iwamura(TUC) |
| 副委員長氏名（和） | 川村 信一(東芝) / 池田 誠(東大) / 盛合 志帆(NICT) / 廣瀬 勝一(福井大) / 小川 賢(神戸学院大) / 大谷 卓史(吉備国際大) / 高倉 弘喜(NII) / 吉岡 克成(横浜国大) / 栗林 稔(岡山大) / 小嶋 徹也(東京高専) |
| 副委員長氏名（英） | Shinichi Kawamura(Toshiba) / Makoto Ikeda(Univ. of Tokyo) / Shiho Moriai(NICT) / Shoichi Hirose(Univ. of Fukui) / Masaru Ogawa(Kobe Gakuin Univ.) / Takushi Otani(Kibi International Univ.) / Hiroki Takakura(NII) / Katsunari Yoshioka(Yokohama National Univ.) / Minoru Kuribayashi(Okayama Univ.) / Tetsuya Kojima(NIT,Tokyo College) |
| 幹事氏名（和） | 三浦 典之(神戸大) / 国井 裕樹(セコム) / 大東 俊博(東海大) / 江村 恵太(NICT) / 川口 嘉奈子(東京藝術大) / 壁谷 彰慶(東洋英和女学院大) / 神谷 和憲(NTT) / 笠間 貴弘(NICT) / 姜 玄浩(東京高専) / 村田 晴美(中京大) |
| 幹事氏名（英） | Noriyuki Miura(Kobe Univ.) / Hiroki Kunii(SECOM) / Toshihiro Ohigashi(Tokai Univ.) / Keita Emura(NICT) / Kanako Kawaguchi(Tokyo Univ. of the Arts) / Akiyoshi Kabeya(Toyo Eiwa Univ.) / Kazunori Kamiya(NTT) / Takahiro Kasama(NICT) / Kan Hyonho(NIT, Tokyo) / Harumi Murata(Tyukyo Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 面 和成(筑波大) / 須賀 祐治(インターネットイニシアティブ) / 加藤 尚徳(KDDI総合研究所) / 吉永 敦征(山口県立大) / 鈴木 大助(北陸大) / 山田 明(KDDI labs.) / 木藤 圭亮(三菱電機) / 秋山 寛子(長野高専) / 金田 北洋(キヤノン) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Kazunari Omote(Tsukuba Univ.) / Yuuji Suga(IIJ) / Hisanori Kato(KDDI Research) / Nobuyuki Yoshinaga(Yamaguchi Pref Univ.) / Daisuke Suzuki(Hokuriku Univ.) / Akira Yamada(KDDI labs.) / Keisuke Kito(Mitsubishi Electric) / Hiroko Akiyama(National Institute of Technology, Nagano College) / キタヒロ カネダ(CANON) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Hardware Security / Technical Committee on Information Security / Technical Committee on Social Implications of Technology and Information Ethics / Technical Committee on Information and Communication System Security / Technical Committee on Enriched MultiMedia / Special Interest Group on Computer Security / Special Interest Group on Security Psychology and Trust |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Compensation of Temperature Induced Flipping-Bits in CMOS SRAM PUF by NMOS Body-Bias |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | SRAM PUF / SRAM PUF |
| キーワード(2)（和/英） | Flipping-Bits / Flipping-Bits |
| キーワード(3)（和/英） | Threshold Voltage / Threshold Voltage |
| キーワード(4)（和/英） | Body-Bias / Body-Bias |
| キーワード(5)（和/英） | Temperature / Temperature |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | Xuanhao Zhang / Xuanhao Zhang |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Waseda University(略称：Waseda Univ.) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | Xiang Chen / Xiang Chen |
| 第 2 著者 所属（和/英） | Waseda University(略称：Waseda Univ.) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | Hanfeng Sun / Hanfeng Sun |
| 第 3 著者 所属（和/英） | Waseda University(略称：Waseda Univ.) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | Hirofumi Shinohara / Hirofumi Shinohara |
| 第 4 著者 所属（和/英） | Waseda University(略称：Waseda Univ.) Waseda University(略称：Waseda Univ.) |
| 発表年月日 | 2018-07-26 |
| 資料番号 | ISEC2018-41,SITE2018-33,HWS2018-38,ICSS2018-44,EMM2018-40 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | ISEC-151,SITE-152,HWS-153,ICSS-154,EMM-155 |
| ページ範囲 | pp.333-336(ISEC), pp.333-336(SITE), pp.333-336(HWS), pp.333-336(ICSS), pp.333-336(EMM), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2018-07-18 (ISEC, SITE, HWS, ICSS, EMM) |