| 講演名 | 2018-06-15 電源装置の活線状態での劣化診断手法の検討 石山 文彦(NTT), 鳥海 陽平(NTT), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 我々は、通信施設における電磁ノイズ対策を研究対象としており、対策技術検討の一環として、線形予測法を拡張した独自の解析手法の構築を進めてきた。今回、様々なACアダプタの電磁ノイズ解析に我々の独自手法を適用し、ACアダプタ劣化に伴う特徴的な信号の存在を確認した。この特徴的な信号は活線状態で取得・識別することができることから、活線状態にある電源装置の劣化診断に使える可能性がある。そこで、我々の独自手法の紹介をすると共に、今回確認した特徴的な信号について、報告する。 |
| 抄録(英) | We are investigating countermeasure technique against electro-magnetic noise by investigating our own method based on the linear predictive coding. We applied our method to the analysis of electro-magnetic noise of aged AC/DC converters, and report the results. |
| キーワード(和) | 局所線形予測法 / 劣化電源 / 劣化診断 |
| キーワード(英) | local linear predictive coding / aged power supply / evaluation of aging |
| 資料番号 | CAS2018-28,VLD2018-31,SIP2018-48,MSS2018-28 |
| 発行日 | 2018-06-07 (CAS, VLD, SIP, MSS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CAS / SIP / MSS / VLD |
|---|---|
| 開催期間 | 2018/6/14(から2日開催) |
| 開催地（和） | 北海道大学フロンティア応用科学研究棟 |
| 開催地（英） | Hokkaido Univ. (Frontier Research in Applied Sciences Build.) |
| テーマ（和） | システムと信号処理および一般 |
| テーマ（英） | System and Signal Processing, etc |
| 委員長氏名（和） | 岡崎 秀晃(湘南工科大) / 村松 正吾(新潟大) / 名嘉村 盛和(琉球大) / 峯岸 孝行(三菱電機) |
| 委員長氏名（英） | Hideaki Okazaki(Shonan Inst. of Tech.) / Shogo Muramatsu(Niigata Univ.) / Morikazu Nakamura(Univ. of Ryukyus) / Noriyuki Minegishi(Mitsubishi Electric) |
| 副委員長氏名（和） | 山脇 大造(日立) / 相川 直幸(東京理科大) / 林 和則(阪市大) / 髙井 重昌(阪大) / 戸川 望(早大) |
| 副委員長氏名（英） | Taizo Yamawaki(Hitachi) / Naoyuki Aikawa(TUS) / Kazunori Hayashi(Osaka City Univ) / Shigemasa Takai(Osaka Univ.) / Nozomu Togawa(Waseda Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 橘 俊宏(湘南工科大) / 中村 洋平(日立) / 渡邊 修(拓殖大) / 中本 昌由(広島大学) / 豊嶋 伊知郎(東芝エネルギーシステムズ) / 金澤 尚史(阪大) / 新田 高庸(NTT) / 小平 行秀(会津大) |
| 幹事氏名（英） | Toshihiro Tachibana(Shonan Inst. of Tech.) / Yohei Nakamura(Hitachi) / Osamu Watanabe(Takushoku Univ.) / Masayoshi Nakamoto(Hiroshima Univ.) / Ichiro Toyoshima(Toshiba) / Takahumi Kanazawa(Osaka Univ.) / Koyo Nitta(NTT) / Yukihide Odaira(Aizu Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 山口 基(ルネサスエレクトロニクス) / / 金城 秀樹(沖縄大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Motoi Yamaguchi(Renesas Electronics) / / Hideki Kinjo(Okinawa Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Circuits and Systems / Technical Committee on Signal Processing / Technical Committee on Mathematical Systems Science and its applications / Technical Committee on VLSI Design Technologies |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 電源装置の活線状態での劣化診断手法の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Aging evaluation of live line AC/DC converters |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 局所線形予測法 / local linear predictive coding |
| キーワード(2)（和/英） | 劣化電源 / aged power supply |
| キーワード(3)（和/英） | 劣化診断 / evaluation of aging |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 石山 文彦 / Fumihiko Ishiyama |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社(略称：NTT) Nippon Telegraph and Telephone Corporation(略称：NTT) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 鳥海 陽平 / Yohei Toriumi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本電信電話株式会社(略称：NTT) Nippon Telegraph and Telephone Corporation(略称：NTT) |
| 発表年月日 | 2018-06-15 |
| 資料番号 | CAS2018-28,VLD2018-31,SIP2018-48,MSS2018-28 |
| 巻番号（vol） | vol.118 |
| 号番号（no） | CAS-82,VLD-83,SIP-84,MSS-85 |
| ページ範囲 | pp.143-148(CAS), pp.143-148(VLD), pp.143-148(SIP), pp.143-148(MSS), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-06-07 (CAS, VLD, SIP, MSS) |