| 講演名 | 2018-03-01 ［ポスター講演］ネットワークアナライザによるSパラメータ測定における校正不整合について 平野 拓一(東工大), |
|---|---|
| PDFダウンロードページ |  PDFダウンロードページへ |
| 抄録(和) | 高周波回路のSパラメータ測定にはネットワークアナライザが用いられる。ネットワークアナライザは、測定器内部回路の経年変化、温度・湿度特性の影響や、接続ケーブルの影響を取り除くために、測定前に校正を行う。校正によって、Sパラメータの参照面が定義される。参照面を通過する波の振幅および位相を用いてSパラメータが算出される。校正にはOpen/Short/Load(Match)/Thruを用いたSOLTあるいはTOSMと呼ばれる校正、Thru/Reflect/Lineを用いたTRLと呼ばれる校正、校正機器の付け替えが不要な電子校正(ECal)などいくつかの方法がある。校正を行うと、測定器内部回路および接続ケーブルの影響が除去できるはずであるが、実際には単純な回路を測定してもSパラメータにリップルが出てしまう場合がある。このリップルの影響は一体何に起因するのか原因が特定しにくい。発表ではSパラメータにリップルが生じる原因ついて考察した一例を紹介する。 |
| 抄録(英) | S parameters of high frequency circuits are measured by a network analyzer. Calibration is performed before measurement using the network analyzer in order to remove influences of secular change, temperature, moisture, etc. in the internal circuit and connected cables. Reference planes are determined by calibration. S parameters are calculated using waves passing through the reference planes. There are several methods in calibration such as the method using Open/Short/Load(Match)/Thru, which is referred to as SOLT or TOSM, the method using Thru/Reflect/Line, which is referred to as TRL, and the method called electronic calibration (ECal) which does not require replacement of calibration kits. Sometimes ripples are observed in S parameters of simple circuit although the influence of internal circuit and cables are removed by calibration. The cause of ripples is difficult to identify. A consideration on the cause of ripples will be presented and discussed. |
| キーワード(和) | ネットワークアナライザ / Sパラメータ / 測定 / 校正 / リップル |
| キーワード(英) | Network Analyzer / S parameters / Measurement / Calibration / Ripple |
| 資料番号 | MW2017-185,ICD2017-109 |
| 発行日 | 2018-02-22 (MW, ICD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD / MW |
|---|---|
| 開催期間 | 2018/3/1(から2日開催) |
| 開催地（和） | 滋賀県立大 |
| 開催地（英） | The University of Shiga Prefecture |
| テーマ（和） | マイクロ波集積回路/マイクロ波一般 |
| テーマ（英） | Microwave Integrated Circuit/Microwave Technologies |
| 委員長氏名（和） | 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 村口 正弘(東京理科大) |
| 委員長氏名（英） | Hideto Hidaka(Renesas) / Masahiro Muraguchi(TUC) |
| 副委員長氏名（和） | 永田 真(神戸大) / 古神 義則(宇都宮大) / 岡崎 浩司(NTTドコモ) / 田島 賢一(三菱電機) |
| 副委員長氏名（英） | Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Yoshinori Kogami(Utsunomiya Univ.) / Hiroshi Okazaki(NTTdocomo) / Kenichi Tajima(Mitsubishi Electric) |
| 幹事氏名（和） | 高宮 真(東大) / 橋本 隆(パナソニック) / 平野 拓一(東工大) / 中村 宝弘(日立) |
| 幹事氏名（英） | Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Takuichi Hirano(Tokyo Inst. of Tech.) / Takahiro Nakamura(HITACHI) |
| 幹事補佐氏名（和） | 夏井 雅典(東北大) / 柘植 政利(ソシオネクスト) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 小野 哲(電通大) / 本良 瑞樹(東北大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Masatoshi Tsuge(Socionext) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Satoshi Ono(Univ. of Electro-Comm.) / Mizuki Motoyoshi(Tohoku Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Microwaves |
|---|---|
| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | ［ポスター講演］ネットワークアナライザによるSパラメータ測定における校正不整合について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | [Poster Presentation] A Study of Impedance Mismatch for S-parameter Measurement using Network Analyzer |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | ネットワークアナライザ / Network Analyzer |
| キーワード(2)（和/英） | Sパラメータ / S parameters |
| キーワード(3)（和/英） | 測定 / Measurement |
| キーワード(4)（和/英） | 校正 / Calibration |
| キーワード(5)（和/英） | リップル / Ripple |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 平野 拓一 / Takuichi Hirano |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 東京工業大学(略称：東工大) Tokyo Institute of Technology(略称：Tokyo Tech) |
| 発表年月日 | 2018-03-01 |
| 資料番号 | MW2017-185,ICD2017-109 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | MW-462,ICD-463 |
| ページ範囲 | pp.55-55(MW), pp.55-55(ICD), |
| ページ数 | 1 |
| 発行日 | 2018-02-22 (MW, ICD) |