| 講演名 | 2018-03-01 マイクロストリップラインの導体損失測定に関する一検討 草間 裕介(香川高専), 横井 雄亮(香川高専), |
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| 抄録(和) | 本研究室ではRF エンジニア育成教育プログラム開発の一環として，設計，回路製作，シミュレーション，測定に至る一連の試行錯誤プロセスを体験学習する実験テーマの開発を検討している．銅張り誘電体基板の導体損に関する検討は既に多数の報告があり，実効導電率の概念を導入して測定値から導電率周波数特性を求める方法が採られている．本報告では信号線の断面積が表皮効果によって減少するという物理法則に則って，導電率周波数特性の代わりに，表皮効果による信号線断面積の減少率を伝送特性測定値から推定した． |
| 抄録(英) | Many studies on the conductor loss of the copper-clad dielectric substrate have already been reported, and a method of obtaining frequency characteristics of the conductivity from the measured value by applying the concept of effective conductivity is adopted. In this report, the decrease rate of the signal line cross-sectional area due to the skin effect is estimated from the transmission characteristic measurement according to the physical law that the cross-sectional area of the signal line decreases due to the skin effect instead of the conductivity frequency characteristic. |
| キーワード(和) | マイクロ波回路 / マイクロストリップ / 導体損失 / 表皮効果 / 教育 |
| キーワード(英) | Microwave Circuit / Microstrip / Conductor loss / Skin effect / Education |
| 資料番号 | MW2017-187,ICD2017-111 |
| 発行日 | 2018-02-22 (MW, ICD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD / MW |
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| 開催期間 | 2018/3/1(から2日開催) |
| 開催地（和） | 滋賀県立大 |
| 開催地（英） | The University of Shiga Prefecture |
| テーマ（和） | マイクロ波集積回路/マイクロ波一般 |
| テーマ（英） | Microwave Integrated Circuit/Microwave Technologies |
| 委員長氏名（和） | 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 村口 正弘(東京理科大) |
| 委員長氏名（英） | Hideto Hidaka(Renesas) / Masahiro Muraguchi(TUC) |
| 副委員長氏名（和） | 永田 真(神戸大) / 古神 義則(宇都宮大) / 岡崎 浩司(NTTドコモ) / 田島 賢一(三菱電機) |
| 副委員長氏名（英） | Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Yoshinori Kogami(Utsunomiya Univ.) / Hiroshi Okazaki(NTTdocomo) / Kenichi Tajima(Mitsubishi Electric) |
| 幹事氏名（和） | 高宮 真(東大) / 橋本 隆(パナソニック) / 平野 拓一(東工大) / 中村 宝弘(日立) |
| 幹事氏名（英） | Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Takuichi Hirano(Tokyo Inst. of Tech.) / Takahiro Nakamura(HITACHI) |
| 幹事補佐氏名（和） | 夏井 雅典(東北大) / 柘植 政利(ソシオネクスト) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 小野 哲(電通大) / 本良 瑞樹(東北大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Masatoshi Tsuge(Socionext) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Satoshi Ono(Univ. of Electro-Comm.) / Mizuki Motoyoshi(Tohoku Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Microwaves |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | マイクロストリップラインの導体損失測定に関する一検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Study on Conductor Loss Measurement of Microstrip Line |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | マイクロ波回路 / Microwave Circuit |
| キーワード(2)（和/英） | マイクロストリップ / Microstrip |
| キーワード(3)（和/英） | 導体損失 / Conductor loss |
| キーワード(4)（和/英） | 表皮効果 / Skin effect |
| キーワード(5)（和/英） | 教育 / Education |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 草間 裕介 / Yusuke Kusama |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 香川高等専門学校(略称：香川高専) National Institute of Technology, Kagawa College(略称：Kagawa NCT) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 横井 雄亮 / Yusuke Yokoi |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 香川高等専門学校(略称：香川高専) National Institute of Technology, Kagawa College(略称：Kagawa NCT) |
| 発表年月日 | 2018-03-01 |
| 資料番号 | MW2017-187,ICD2017-111 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | MW-462,ICD-463 |
| ページ範囲 | pp.59-64(MW), pp.59-64(ICD), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-02-22 (MW, ICD) |