| 講演名 | 2018-03-16 リニアレギュレータの内部端子の電圧/電流変動と出力電圧変動の関係 藤木 克昌(京大), 松嶋 徹(九工大), 久門 尚史(京大), 和田 修己(京大), |
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| 抄録(和) | リニアレギュレータの一つであるLDO電圧レギュレータの電源電圧端子から伝導性妨害波が印加された際の回路のイミュニティ評価が必要である。本報告では、IECで規格化されているICIM-CIモデルを拡張し、回路内部の端子電圧や電流を評価量としたイミュニティマクロモデル化を行った。内部回路を機能ブロックに分割し、機能ブロックの接続点を内部端子として、その内部端子の電圧/電流変動と回路の出力電圧変動の関係を実験により示した。さらに、内部端子電圧を評価量として出力電圧を予測したところ、数100MHz程度の周波数帯ではよい一致を得た。 |
| 抄録(英) | Immunity of voltage regulator when conducted disturbance is applied from supply voltage pin should be evaluated and simulated. In this report, immunity of an LDO voltage regulator, which is one of linear regulators, is focused. In this report, new ICIM-CI model considering internal voltage and/or current was proposed as expansion of original ICIM-CI standardized by IEC. The proposed model can be constructed by dividing the LDO voltage regulator into functional blocks. It was experimentally shown that the relationship between the voltage and/or current fluctuation of internal terminals and output voltage of the LDO voltage regulator. Furthermore, the output voltage predicted using the internal terminal voltage is in good agreement with measurement value in the frequency range of several 100 MHz. |
| キーワード(和) | イミュニティマクロモデル / ICIM-CI / LDO電圧レギュレータ / 機能ブロック / 伝導性妨害波 / 内部端子 |
| キーワード(英) | Immunity macro model / ICIM-CI / LDO voltage regulator / functional block / conducted disturbance / internal terminal |
| 資料番号 | EMCJ2017-110 |
| 発行日 | 2018-03-09 (EMCJ) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ / MICT |
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| 開催期間 | 2018/3/16(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | EMC一般 |
| テーマ（英） | EMC |
| 委員長氏名（和） | 和田 修己(京大) / 杉町 勝(国立循環器病研究センター) |
| 委員長氏名（英） | Osami Wada(Kyoto Univ.) / Masaru Sugimachi(National Cerebral and Cardiovascular Center) |
| 副委員長氏名（和） | 王 建青(名工大) / 原 晋介(阪市大) / 青柳 貴洋(東工大) |
| 副委員長氏名（英） | Kensei Oh(Nagoya Inst. of Tech.) / Shinsuke Hara(Osaka City Univ.) / Takahiro Aoyagi(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 幹事氏名（和） | 森岡 健浩(産総研) / 白木 康博(三菱電機) / 金 ミンソク(新潟大) / 花田 英輔(佐賀大) |
| 幹事氏名（英） | Takehiro Morioka(AIST) / Yasuhiro Shiraki(Mitsubishi Electric) / Kim Mingsok(Niigata Univ.) / Eisuke Hanada(Saga Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 山本 真一郎(兵庫県立大) / 佐々木 智江(パナソニック) / 長澤 忍(三菱電機) / 小林 匠(横浜国大) / 和泉 慎太郎(神戸大) / 健山 智子(広島工大) / 田中 亜実(立命館大) / 安在 大祐(名工大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Shinichiro Yamamoto(Univ. of Hyogo) / Chie Sasaki(Panasonic) / Shinobu Nagasawa(Mitsubishi Electric) / Takumi Kobayashi(Yokohama National Univ.) / Shintaro Izumi(Kobe Univ.) / Tomoko Tateyama(Hiroshima Inst. of Tech.) / Ami Tanaka(Ritsumeikan Univ.) / Daisuke Anzai(Nagoya Inst. of Tech.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Electromagnetic Compatibility / Technical Committee on Healthcare and Medical Information Communication Technology |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | リニアレギュレータの内部端子の電圧/電流変動と出力電圧変動の関係 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Relation between Voltage Fluctuations of Internal Terminals and Output Terminal of Linear Regulator |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | イミュニティマクロモデル / Immunity macro model |
| キーワード(2)（和/英） | ICIM-CI / ICIM-CI |
| キーワード(3)（和/英） | LDO電圧レギュレータ / LDO voltage regulator |
| キーワード(4)（和/英） | 機能ブロック / functional block |
| キーワード(5)（和/英） | 伝導性妨害波 / conducted disturbance |
| キーワード(6)（和/英） | 内部端子 / internal terminal |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 藤木 克昌 / Katsumasa Fujiki |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 京都大学(略称：京大) Kyoto University(略称：Kyoto Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 松嶋 徹 / Tohlu Matsushima |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 九州工業大学(略称：九工大) Kyushu Institute of Technology(略称：Kyutech) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 久門 尚史 / Takashi Hisakado |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 京都大学(略称：京大) Kyoto University(略称：Kyoto Univ.) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 和田 修己 / Osami Wada |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 京都大学(略称：京大) Kyoto University(略称：Kyoto Univ.) |
| 発表年月日 | 2018-03-16 |
| 資料番号 | EMCJ2017-110 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | EMCJ-510 |
| ページ範囲 | pp.31-36(EMCJ), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-03-09 (EMCJ) |