| 講演名 | 2018-03-27 光電界プローブを用いた電子機器内部へ流入する静電気ノイズ測定の有効性検証 中園 祐司(日立), |
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| 抄録(和) | 電子機器の電磁妨害による誤動作は安全性に直結する場合があるため，設置環境に対する十分なイミュニティを持たせる必要がある．電子機器内部に流入するノイズを一般的なプローブを用いて測定しようとすると，プローブヘッドおよびケーブルにノイズが重畳してしまい正確な測定ができない．よって，物理的に一部をシールディングするなどして，ノイズ流入経路を推定していた．本稿では，光電界プローブを用いて電子機器内部に流入する静電気ノイズを測定し，ノイズ流入経路の特定を試みた． |
| 抄録(英) | Miss operation of an electronic equipment due to electromagnetic disturbance may directly lead to abnormal situation, so it is necessary for the electronic equipment to have sufficient immunity corresponding to the installation environment. When measuring noise inflowing to an electronic equipment using a general electric probe, it is impossible to perform accurate measurement because ambient noise is superimposed on the probe head and the cable. For this reason, in order to estimate the noise inflow path, it was physically way that partially shielding or like that. In this paper, to identify the inflow route of electrostatic discharge noise we measured the noice inflowing to an eletronic equipment using an optical electric field probe. |
| キーワード(和) | イミュニティ / 光電界 / ESD |
| キーワード(英) | Immunity / Optical Electric Filed / ESD |
| 資料番号 | SSS2017-35 |
| 発行日 | 2018-03-20 (SSS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SSS |
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| 開催期間 | 2018/3/27(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 安全性一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 木村 昌臣(芝浦工大) |
| 委員長氏名（英） | Masaomi Kimura(Shibaura Inst. of Tech.) |
| 副委員長氏名（和） | 梅崎 重夫(労働安全衛生総研) |
| 副委員長氏名（英） | Shigeo Umesaki(JNIOSH) |
| 幹事氏名（和） | 鈴木 喜久(NPO循環型社会推進協会) / 佐野 紘平(*) |
| 幹事氏名（英） | Yoshihisa Suzuki(NPO RDA) / Kohei Sano(*) |
| 幹事補佐氏名（和） | 川島 興(オリエンタルモーター) / 高橋 聖(日大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Koh Kawashima(Oriental Motor) / Sei Takahashi(Nihon Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Safety |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 光電界プローブを用いた電子機器内部へ流入する静電気ノイズ測定の有効性検証 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Efficiency verification of Measurement of Electrostatic Discharge Noise that inflowing to an Electronic Equipment using an Optical Electric Field Probe |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | イミュニティ / Immunity |
| キーワード(2)（和/英） | 光電界 / Optical Electric Filed |
| キーワード(3)（和/英） | ESD / ESD |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 中園 祐司 / Yuji Nakazono |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 株式会社日立製作所(略称：日立) Hitachi Ltd.(略称：Hitachi) |
| 発表年月日 | 2018-03-27 |
| 資料番号 | SSS2017-35 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | SSS-521 |
| ページ範囲 | pp.17-20(SSS), |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2018-03-20 (SSS) |