| 講演名 | 2018-03-07 システムテストに対するユーザの利用形態に基づく優先度付きテストケース生成手法の提案 斎藤 英美(日立), 利國 愛(日立), 中川 雄一郎(日立), |
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| 抄録(和) | 組込みシステムでは，重大な不具合は早期に検出したいという要求がある．ユーザの実際の利用形態に類似するテストケースで発生する不具合ほど重大な不具合であると仮定し、ユーザの利用形態に基づいた優先度を持つテストケースを生成する手法を提案する．本手法は，機能の動作へ影響を与える条件と影響内容の組合せでテストケースを生成し，テストケース生成に用いた情報を利用してユーザの利用形態への類似度を判定，判定結果に応じて優先度を付与する．手法のケーススタディには業務用空調機を用いる． |
| 抄録(英) | In embedded systems, developers have a demand to find serious defects early. We suppose that it is serious as defects to happen in configuration similar to real situations of user, and propose test case and priority generation method based on real situations of user. This method generates test cases by a combination of conditions and contents that affect operation of the system. In addition, we can judge similarity to real situations of user from information used for test design, and grant priority based on judgement result by the proposed method. We apply packaged air conditioning systems for the case study of the method. |
| キーワード(和) | 優先度 / システムテスト / 組込みシステム / テストケース生成 |
| キーワード(英) | priority / system test / embedded system / test case generation |
| 資料番号 | SS2017-76 |
| 発行日 | 2018-02-27 (SS) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SS |
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| 開催期間 | 2018/3/6(から2日開催) |
| 開催地（和） | 南大東島 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 緒方 和博(北陸先端大) |
| 委員長氏名（英） | Kazuhiro Ogata(JAIST) |
| 副委員長氏名（和） | 中田 明夫(広島市大) |
| 副委員長氏名（英） | Akio Nakata(Hiroshima City Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 小林 隆志(東工大) / 肥後 芳樹(阪大) |
| 幹事氏名（英） | Takashi Kobayashi(Tokyo Inst. of Tech.) / Yoshiki Higo(Osaka Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 島 和之(広島市大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Kazuyuki Shima(Hiroshima City Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Software Science |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | システムテストに対するユーザの利用形態に基づく優先度付きテストケース生成手法の提案 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Suggestion of Test Case Generation Method with Priority Based on Use Case of User for System Test |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 優先度 / priority |
| キーワード(2)（和/英） | システムテスト / system test |
| キーワード(3)（和/英） | 組込みシステム / embedded system |
| キーワード(4)（和/英） | テストケース生成 / test case generation |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 斎藤 英美 / Emi Saito |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日立製作所(略称：日立) Hitachi(略称：Hitachi) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 利國 愛 / Ai Toshikuni |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日立製作所(略称：日立) Hitachi(略称：Hitachi) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 中川 雄一郎 / Yuichiroh Nakagawa |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日立製作所(略称：日立) Hitachi(略称：Hitachi) |
| 発表年月日 | 2018-03-07 |
| 資料番号 | SS2017-76 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | SS-477 |
| ページ範囲 | pp.69-74(SS), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-02-27 (SS) |