| 講演名 | 2018-03-02 同期機構の改良によるPL-PUFのシリコン実装 小笠原 泰弘(産総研), 堀 洋平(産総研), 小池 帆平(産総研), |
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| 抄録(和) | 本論文では疑似線形フィードバックシフトレジスタ PUF (PL-PUF) の最初の実チップ上でのスタンダードセルによる実装を行う. PL-PUF は SRAM PUF 等とは異なり, PL-PUF 回路自身が直接レスポンスを生成する特徴を持つ. 電源電圧の変化よる再現性の低下を抑える方式の提案を行い, 実チップ上での良好な再現性を実証する. 65nm プロセスで製造した試作チップの測定結果において, 実装された PL-PUF 回路は良好な再現性 (クラス内ハミング距離 $mu$=1.09-10.52$%$), ユニーク性 (クラス間ハミング距離 $mu$=49.01-49.56$%$, $sigma$=5.38-5.77$%$, ビットあたりエントロピー 0.983-0.941) を示した. |
| 抄録(英) | In this study, we demonstrate the first implementation of a pseudo linear feedback shift register physical unclonable function (PL-PUF) on silicon, and a proposal of the power supply design to obtain fine reproducibility. Unlike SRAM PUFs, a PL-PUF can generate responses without memory cells, and therefore is secure against attacks extracting internal memory values. and implement PL-PUF on 65nm CMOS process. Implemented PL-PUF achieves fine reproducibility ($mu$=1.09-10.52$%$ fractional HD) and uniqueness ($mu$=49.01-49.56$%$, $sigma$=5.38-5.77$%$ class-to-class HD, 0.983-0.941 entropy) on silicon. |
| キーワード(和) | PUF / ハードウェアセキュリティ / リングオシレータ / 電源電圧変動 |
| キーワード(英) | PUF / hardware security / ring oscillator / power supply voltage |
| 資料番号 | VLD2017-126 |
| 発行日 | 2018-02-21 (VLD) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / HWS |
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| 開催期間 | 2018/2/28(から3日開催) |
| 開催地（和） | 沖縄県青年会館 |
| 開催地（英） | Okinawa Seinen Kaikan |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 越智 裕之(立命館大) |
| 委員長氏名（英） | Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) |
| 副委員長氏名（和） | 峯岸 孝行(三菱電機) |
| 副委員長氏名（英） | Noriyuki Minegishi(Mitsubishi Electric) |
| 幹事氏名（和） | 永山 忍(広島市大) / 新田 高庸(NTTデバイスイノベーションセンタ) |
| 幹事氏名（英） | Shinobu Nagayama(Hiroshima City Univ.) / Koyo Nitta(NTT) |
| 幹事補佐氏名（和） | |
| 幹事補佐氏名（英） | |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Hardware Security |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 同期機構の改良によるPL-PUFのシリコン実装 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | PL-PUF Implementation by Improvement of Capturing Timing Control Circuit |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | PUF / PUF |
| キーワード(2)（和/英） | ハードウェアセキュリティ / hardware security |
| キーワード(3)（和/英） | リングオシレータ / ring oscillator |
| キーワード(4)（和/英） | 電源電圧変動 / power supply voltage |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 小笠原 泰弘 / Yasuhiro Ogasahara |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 堀 洋平 / Yohei Hori |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 小池 帆平 / Hanpei Koike |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 産業技術総合研究所(略称：産総研) National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(略称：AIST) |
| 発表年月日 | 2018-03-02 |
| 資料番号 | VLD2017-126 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | VLD-455 |
| ページ範囲 | pp.225-229(VLD), |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2018-02-21 (VLD) |