講演名 | 2018-02-28 正当なDEXファイルの生成によるAndroid仮想マシンのランダムテスト 池尾 弘史(関西学院大), 清水 遼太郎(関西学院大), 石浦 菜岐佐(関西学院大), |
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資料番号 | VLD2017-95 |
発行日 | 2018-02-21 (VLD) |
研究会情報 | |
研究会 | VLD / HWS |
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開催期間 | 2018/2/28(から3日開催) |
開催地(和) | 沖縄県青年会館 |
開催地(英) | Okinawa Seinen Kaikan |
テーマ(和) | システムオンシリコンを支える設計技術 |
テーマ(英) | |
委員長氏名(和) | 越智 裕之(立命館大) |
委員長氏名(英) | Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) |
副委員長氏名(和) | 峯岸 孝行(三菱電機) |
副委員長氏名(英) | Noriyuki Minegishi(Mitsubishi Electric) |
幹事氏名(和) | 永山 忍(広島市大) / 新田 高庸(NTTデバイスイノベーションセンタ) |
幹事氏名(英) | Shinobu Nagayama(Hiroshima City Univ.) / Koyo Nitta(NTT) |
幹事補佐氏名(和) | |
幹事補佐氏名(英) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Hardware Security |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 正当なDEXファイルの生成によるAndroid仮想マシンのランダムテスト |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Random Testing of Android Virtual Machine by Valid Dex File Generation |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | |
第 1 著者 氏名(和/英) | 池尾 弘史 / Hirofumi Ikeo |
第 1 著者 所属(和/英) | 関西学院大学(略称:関西学院大) Kwansei Gakuin University(略称:Kwansei Gakuin Univ.) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 清水 遼太郎 / Ryotaro Shimizu |
第 2 著者 所属(和/英) | 関西学院大学(略称:関西学院大) Kwansei Gakuin University(略称:Kwansei Gakuin Univ.) |
第 3 著者 氏名(和/英) | 石浦 菜岐佐 / Nagisa Ishiura |
第 3 著者 所属(和/英) | 関西学院大学(略称:関西学院大) Kwansei Gakuin University(略称:Kwansei Gakuin Univ.) |
発表年月日 | 2018-02-28 |
資料番号 | VLD2017-95 |
巻番号(vol) | vol.117 |
号番号(no) | VLD-455 |
ページ範囲 | pp.37-42(VLD), |
ページ数 | 6 |
発行日 | 2018-02-21 (VLD) |