| 講演名 | 2018-03-08 微摺動機構を用いた電気接点の劣化現象 越田 圭治(TMCシステム), 和田 真一(TMCシステム), 澤 孝一郎(日本工大), |
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| 抄録(和) | 著者らは，振動下における電気接点の劣化現象に関する検討を行ってきた．また，ピエゾ・アクチュエータと弾性ヒンジを用いた微摺動機構を開発し，いくつかの条件下において，電気接点を劣化させる「最小摺動振幅」について検討してきた．そして，それらに関連して，正弦波で立ち上がるパルス波外力を入力とする振動系の，1質点近似モデルを用いた検討をしてきた．本論文では，より現実に即した検討を行うために摩擦力を加味したモデルについて報告する． |
| 抄録(英) | Authors have studied degradation phenomena on electrical contacts under oscillations. In addition, they have developed a micro sliding mechanism using a piezo-electric actuator and an elastic hinges and have studied minimal sliding amplitude which degrades the electrical contact under some conditions. In addition, they have studied using a point mass approximation model of the oscillating system with input of pulsive wave external force rising with sine wave as input. In this paper, they report on a model with frictional force for more realistic study. |
| キーワード(和) | 電気接点 / 劣化現象 / 摩擦力 / 振動系 / 減衰振動 / 運動方程式 / インパルス応答 / デュハメル積分 |
| キーワード(英) | electrical contact / degradation phenomenon / frictional force / oscillating system / damped oscillation / equation of motion / impulse response / Duhamel's integral |
| 資料番号 | EMD2017-75,MR2017-46,SCE2017-46,EID2017-48,ED2017-120,CPM2017-140,SDM2017-120,ICD2017-125,OME2017-69 |
| 発行日 | 2018-03-01 (EMD, MR, SCE, EID, ED, CPM, SDM, ICD, OME) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | CPM / ED / EID / SDM / ICD / MR / SCE / OME / EMD |
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| 開催期間 | 2018/3/8(から1日開催) |
| 開催地（和） | 東レ総合研修センター |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 回路デバイス境界技術領域合同研究会 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 廣瀬 文彦(山形大) / 津田 邦男(東芝) / 小南 裕子(静岡大) / 国清 辰也(ルネサス エレクトロニクス) / 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 岡本 好弘(愛媛大) / 明連 広昭(埼玉大) / 森 竜雄(愛知工大) / 阿部 宜輝(NTT) |
| 委員長氏名（英） | Fumihiko Hirose(Yamagata Univ.) / Kunio Tsuda(Toshiba) / Yuko Kominami(Shizuoka Univ.) / Tatsuya Kunikiyo(Renesas) / Hideto Hidaka(Renesas) / Yoshihiro Okamoto(Ehime Univ.) / Hiroaki Myoren(Saitama Univ.) / Tatsuo Mori(Aichi Inst. of Tech.) / Yoshiteru Abe(NTT) |
| 副委員長氏名（和） | 武山 真弓(北見工大) / 須原 理彦(首都大) / 木村 睦(龍谷大) / 品田 高宏(東北大) / 永田 真(神戸大) / / / 真島 豊(東工大) |
| 副委員長氏名（英） | Mayumi Takeyama(Kitami Inst. of Tech.) / Michihiko Suhara(TMU) / Mutsumi Kimura(Ryukoku Univ.) / Takahiro Shinada(Tohoku Univ.) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) / / / Yutaka Majima(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 幹事氏名（和） | 岩田 展幸(日大) / 中村 雄一(豊橋技科大) / 新井 学(新日本無線) / 東脇 正高(NICT) / 伊達 宗和(NTT) / 山口 雅浩(東工大) / 黒田 理人(東北大) / 山口 直(ルネサス エレクトロニクス) / 高宮 真(東大) / 橋本 隆(パナソニック) / 赤城 文子(工学院大) / 島 隆之(産総研) / 立木 隆(防衛大) / 山下 太郎(NICT) / 山田 俊樹(NICT) / 田口 大(東工大) / 林 優一(奈良先端大) / 水上 雅人(室蘭工大) |
| 幹事氏名（英） | Nobuyuki Iwata(Nihon Univ.) / Yuichi Nakamura(Toyohashi Univ. of Tech.) / Manabu Arai(New JRC) / Masataka Higashiwaki(NICT) / Munekazu Date(NTT) / Masahiro Yamaguchi(Tokyo Inst. of Tech.) / Rihito Kuroda(Tohoku Univ.) / Tadashi Yamaguchi(Renesas) / Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Fumiko Akagi(Kogakuin Univ.) / Takayuki Shima(AIST) / Takashi Tachiki(National Defense Academy) / Taro Yamashita(NICT) / Toshiki Yamada(NICT) / Dai Taguchi(Tokyo Inst. of Tech.) / Yuichi Hayashi(NAIST) / Masato Mizukami(Muroran Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 赤毛 勇一(NTTデバイスイノベーションセンタ) / 大石 敏之(佐賀大) / 岩田 達哉(豊橋技科大) / 山口 留美子(秋田大) / 新田 博幸(ジャパンディスプレイ) / 中田 充(NHK) / 野中 亮助(東芝) / 奥野 武志(ファーウェイ) / 志賀 智一(電通大) / 池田 浩也(静岡大) / 諸岡 哲(東芝メモリ) / 夏井 雅典(東北大) / 柘植 政利(ソシオネクスト) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 永澤 鶴美(東芝) / 吉田 周平(近畿大) / 赤池 宏之(大同大) / 梶井 博武(阪大) / 嘉治 寿彦(農工大) / 萓野 良樹(電通大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Yuichi Akage(NTT) / Toshiyuki Oishi(Saga Univ.) / Tatsuya Iwata(TUT) / Rumiko Yamaguchi(Akita Univ.) / Hiroyuki Nitta(Japan Display) / Mitsuru Nakata(NHK) / Ryosuke Nonaka(Toshiba) / Takeshi Okuno(Huawei) / Tomokazu Shiga(Univ. of Electro-Comm.) / Hiroya Ikeda(Shizuoka Univ.) / Tetsu Morooka(TOSHIBA MEMORY) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Masatoshi Tsuge(Socionext) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Tazumi Nagasawa(Toshiba) / Shuhei Yoshida(Kinki Univ.) / Hiroyuki Akaike(Daido Univ.) / Hirotake Kajii(Osaka Univ.) / Toshihiko Kaji(Tokyo Univ. of Agriculture and Tech.) / Yoshiki Kayano(Univ. of Electro-Comm.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Component Parts and Materials / Technical Committee on Electron Devices / Technical Committee on Electronic Information Displays / Technical Committee on Silicon Device and Materials / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Magnetic Recording / Technical Committee on Superconductive Electronics / Technical Committee on Organic Molecular Electronics / Technical Committee on Electromechanical Devices |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 微摺動機構を用いた電気接点の劣化現象 |
| サブタイトル（和） | いくつかの実験条件下における最小摺動振幅に関連した入力波形の比較4 |
| タイトル（英） | Degradation Phenomenon of Electrical Contacts by using a Micro-Sliding Mechanism |
| サブタイトル（和） | The comparison with input waveforms concerning of minimal sliding amplitudes under some conditions 4 |
| キーワード(1)（和/英） | 電気接点 / electrical contact |
| キーワード(2)（和/英） | 劣化現象 / degradation phenomenon |
| キーワード(3)（和/英） | 摩擦力 / frictional force |
| キーワード(4)（和/英） | 振動系 / oscillating system |
| キーワード(5)（和/英） | 減衰振動 / damped oscillation |
| キーワード(6)（和/英） | 運動方程式 / equation of motion |
| キーワード(7)（和/英） | インパルス応答 / impulse response |
| キーワード(8)（和/英） | デュハメル積分 / Duhamel's integral |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 越田 圭治 / Keiji Koshida |
| 第 1 著者 所属（和/英） | TMCシステム(略称：TMCシステム) TMC System(略称：TMC) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 和田 真一 / Shin-ichi Wada |
| 第 2 著者 所属（和/英） | TMCシステム(略称：TMCシステム) TMC System(略称：TMC) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 澤 孝一郎 / Koichiro Sawa |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本工業大学(略称：日本工大) Nippon Institute of Technology(略称：NIT) |
| 発表年月日 | 2018-03-08 |
| 資料番号 | EMD2017-75,MR2017-46,SCE2017-46,EID2017-48,ED2017-120,CPM2017-140,SDM2017-120,ICD2017-125,OME2017-69 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | EMD-492,MR-493,SCE-494,EID-495,ED-496,CPM-497,SDM-498,ICD-499,OME-500 |
| ページ範囲 | pp.15-20(EMD), pp.15-20(MR), pp.15-20(SCE), pp.15-20(EID), pp.15-20(ED), pp.15-20(CPM), pp.15-20(SDM), pp.15-20(ICD), pp.15-20(OME), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-03-01 (EMD, MR, SCE, EID, ED, CPM, SDM, ICD, OME) |