| 講演名 | 2018-02-20 2パターンテストにおける重み付き故障カバレージに関する一考察 新井 雅之(日大), 岩崎 一彦(首都大東京), |
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| 抄録(和) | 半導体製造技術の微細化・高集積化に伴い，欠陥レベルの事前見積り値と実製品に対する値との乖離が問題となっている．著者らは，欠陥レベルを高精度に見積もるための一手法として，重み付きブリッジ/オープン故障カバレージの算出法と，重み付き故障カバレージに基づくテストパターン生成アルゴリズムについて検討してきた．先行研究においては，故障モデルとして固定故障モデルのみを対象としていた．本稿では，一部のブリッジ/オープン欠陥は遅延故障としてのみ観測可能であると仮定し，固定故障と遅延故障の双方の動作を考慮した故障モデルを導入する．2パターンテストから成るテスト集合を対象として，重み付きブリッジ/オープン故障カバレージの算出実験を行い，従来の遅延故障モデル，固定故障モデルのみに基づくカバレージ算出結果と比較する． |
| 抄録(英) | hrinking feature size and higher integration on semiconductor device manufacturing technology bring a problem of the gap between the defect level estimated at the design stage from the reported one for fabricated devices. As one possible strategy to accurately estimate the defect level, authors have proposed weighted bridge/open fault coverage estimation, as well as test generation algorithms based on the weighted fault coverage. Previous work has only taken static fault models into account. In this study we introduce a fault model considering static and dynamic behavior of a defect, assuming that a part of behavior of a defect can only be observed as rise/fall delay. Targeting test pattern sets consisting of 2-pattern tests, we calculate weighted bridge/open fault coverage, and compare with conventional fault coverages based on delay and static fault models. |
| キーワード(和) | 重み付き故障カバレージ / クリティカルエリア / ブリッジ故障 / オープン故障 / 遅延故障 |
| キーワード(英) | weighted fault coverage / critical area / bridge fault / open fault / delay fault |
| 資料番号 | DC2017-77 |
| 発行日 | 2018-02-13 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2018/2/20(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 委員長氏名（和） | 井上 美智子(奈良先端大) |
| 委員長氏名（英） | Michiko Inoue(NAIST) |
| 副委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 副委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大) |
| 幹事氏名（英） | Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 新井 雅之(日大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 2パターンテストにおける重み付き故障カバレージに関する一考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Note on Weighted Fault Coverage for Two-Pattern Tests |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | 重み付き故障カバレージ / weighted fault coverage |
| キーワード(2)（和/英） | クリティカルエリア / critical area |
| キーワード(3)（和/英） | ブリッジ故障 / bridge fault |
| キーワード(4)（和/英） | オープン故障 / open fault |
| キーワード(5)（和/英） | 遅延故障 / delay fault |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 新井 雅之 / Masayuki Arai |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 岩崎 一彦 / Kazuhiko Iwasaki |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 首都大学東京(略称：首都大東京) Tokyo Metropolitan University(略称：Tokyo Metro. Univ.) |
| 発表年月日 | 2018-02-20 |
| 資料番号 | DC2017-77 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | DC-444 |
| ページ範囲 | pp.1-6(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-02-13 (DC) |