| 講演名 | 2018-02-20 A Golden-Free Hardware Trojan Detection Technique Considering Intra-Die Variation Fakir Sharif Hossain(奈良先端大), Tomokazu Yoneda(奈良先端大), Michihiro Shintani(奈良先端大), Michiko Inoue(奈良先端大), Alex Orailoglu(カリフォルニア大, San Diego), |
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| 抄録(和) | High detection sensitivity in the presence of process variation is a key challenge for hardware Trojan detection through side channel analysis. In this work, we present an efficient Trojan detection approach in the presence of elevated process variations. The detection sensitivity is sharpened by 1) comparing power levels from neighboring regions within the same chip so that the two measured values exhibit a common trend in terms of process variation, and 2) generating test patterns that toggle each cell multiple times to increase Trojan activation probability. Detection sensitivity is analyzed and its effectiveness demonstrated by means of RPD (relative power difference). We evaluate our approach on ISCAS?89 and ITC?99 benchmarks and the AES-128 circuit for bothcombinational and sequential type Trojans. High detection sensitivity is demonstrated by analysis on RPD under a variety of process variation levels and experiments for Trojan inserted circuits. |
| 抄録(英) | High detection sensitivity in the presence of process variation is a key challenge for hardware Trojan detection through side channel analysis. In this work, we present an efficient Trojan detection approach in the presence of elevated process variations. The detection sensitivity is sharpened by 1) comparing power levels from neighboring regions within the same chip so that the two measured values exhibit a common trend in terms of process variation, and 2) generating test patterns that toggle each cell multiple times to increase Trojan activation probability. Detection sensitivity is analyzed and its effectiveness demonstrated by means of RPD (relative power difference). We evaluate our approach on ISCAS?89 and ITC?99 benchmarks and the AES-128 circuit for bothcombinational and sequential type Trojans. High detection sensitivity is demonstrated by analysis on RPD under a variety of process variation levels and experiments for Trojan inserted circuits. |
| キーワード(和) | Hardware Trojan / Detection sensitivity / Power based Side-channel / Spatial correlation / Process Variations |
| キーワード(英) | Hardware Trojan / Detection sensitivity / Power based Side-channel / Spatial correlation / Process Variations |
| 資料番号 | DC2017-84 |
| 発行日 | 2018-02-13 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2018/2/20(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 委員長氏名（和） | 井上 美智子(奈良先端大) |
| 委員長氏名（英） | Michiko Inoue(NAIST) |
| 副委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 副委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大) |
| 幹事氏名（英） | Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 新井 雅之(日大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | ENG |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Golden-Free Hardware Trojan Detection Technique Considering Intra-Die Variation |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | Hardware Trojan / Hardware Trojan |
| キーワード(2)（和/英） | Detection sensitivity / Detection sensitivity |
| キーワード(3)（和/英） | Power based Side-channel / Power based Side-channel |
| キーワード(4)（和/英） | Spatial correlation / Spatial correlation |
| キーワード(5)（和/英） | Process Variations / Process Variations |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | Fakir Sharif Hossain / Fakir Sharif Hossain |
| 第 1 著者 所属（和/英） | Nara Institute of Science and Technology(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | Tomokazu Yoneda / Tomokazu Yoneda |
| 第 2 著者 所属（和/英） | Nara Institute of Science and Technology(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | Michihiro Shintani / Michihiro Shintani |
| 第 3 著者 所属（和/英） | Nara Institute of Science and Technology(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | Michiko Inoue / Michiko Inoue |
| 第 4 著者 所属（和/英） | Nara Institute of Science and Technology(略称：奈良先端大) Nara Institute of Science and Technology(略称：NAIST) |
| 第 5 著者 氏名（和/英） | Alex Orailoglu / Alex Orailoglu |
| 第 5 著者 所属（和/英） | University of California, San Diego(略称：カリフォルニア大, San Diego) University of California, San Diego(略称：Univ. of California, San Diego) |
| 発表年月日 | 2018-02-20 |
| 資料番号 | DC2017-84 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | DC-444 |
| ページ範囲 | pp.43-48(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-02-13 (DC) |