講演名 2018-02-20
焼きなまし法によるロケーティングアレイの生成
小西 達也(阪大), 小島 英春(阪大), 中川 博之(阪大), 土屋 達弘(阪大),
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抄録(和) 組み合わせテストは, 効率的なソフトウェアテスト手法の1 つである. 本論文では, 組み合わせテストで使用するテストケース集合にロケーティングアレイを使用する. ロケーティングアレイは, 与えられたパラメータ値の組み合わせをすべて網羅するだけでなく, テストケースが失敗した場合, どの組み合わせに不具合が含まれているかを特定することができる. このロケーティングアレイについて, 焼きなまし法を使用した生成手法を提案する.
抄録(英) Combinatorial interaction testing is an efficient software testing strategy. In this paper, we focus on locating arrays as test suites for combinatorial testing. Locating arrays do not only exercise all t-wise interactions of test parameters but also locate any failure-triggering interactions. We propose a method of generating locating arrays using simulated annealing.
キーワード(和) ロケーティングアレイ / 組み合わせテスト / 焼きなまし法
キーワード(英) locating array / combinatorial interaction testing / simulated annealing
資料番号 DC2017-82
発行日 2018-02-13 (DC)

研究会情報
研究会 DC
開催期間 2018/2/20(から1日開催)
開催地(和) 機械振興会館
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg.
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc.
委員長氏名(和) 井上 美智子(奈良先端大)
委員長氏名(英) Michiko Inoue(NAIST)
副委員長氏名(和) 福本 聡(首都大東京)
副委員長氏名(英) Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.)
幹事氏名(和) 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大)
幹事氏名(英) Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.)
幹事補佐氏名(和) 新井 雅之(日大)
幹事補佐氏名(英) Masayuki Arai(Nihon Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Dependable Computing
本文の言語 JPN
タイトル(和) 焼きなまし法によるロケーティングアレイの生成
サブタイトル(和)
タイトル(英) On generating locating arrays using simulated annealing
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) ロケーティングアレイ / locating array
キーワード(2)(和/英) 組み合わせテスト / combinatorial interaction testing
キーワード(3)(和/英) 焼きなまし法 / simulated annealing
第 1 著者 氏名(和/英) 小西 達也 / Tatsuya Konishi
第 1 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 小島 英春 / Hideharu Kojima
第 2 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ.)
第 3 著者 氏名(和/英) 中川 博之 / Hiroyuki Nakagawa
第 3 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 土屋 達弘 / Tatsuhiro Tsuchiya
第 4 著者 所属(和/英) 大阪大学(略称:阪大)
Osaka University(略称:Osaka Univ.)
発表年月日 2018-02-20
資料番号 DC2017-82
巻番号(vol) vol.117
号番号(no) DC-444
ページ範囲 pp.31-35(DC),
ページ数 5
発行日 2018-02-13 (DC)