| 講演名 | 2018-02-20 LUT構造を考慮したFPGAの特性ばらつきの測定方法の検討 佐藤 晃平(首都大東京), 三浦 幸也(首都大東京), |
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| 抄録(和) | FPGA(Field Programmable Gate Array)とは，ユーザが任意の論理機能に何度も書き換えて実装することができる集積回路である．FPGAを利用することで開発期間の短縮化や開発コストの削減が可能といった利点から，近年，FPGAを利用したシステム開発の事例が増えてきている．しかし，半導体の微細化技術の向上により，LSIと同様にFPGAチップ自身の製造ばらつきや劣化の影響が問題視されている．そのため，FPGAを用いた信頼性の高いディジタルシステム実装のために，製造ばらつきや劣化の影響を考慮する必要がある．本研究では，LSIでばらつき測定や劣化量の測定を行う場合と同様に，リングオシレータ(RO : Ring Oscillator)をFPGAチップ上の複数個所に実装し，その発振周波数を測定することで特性ばらつきの測定を行った．FPGAの場合，LUT(Look-Up Table)を使用して論理機能の実装を行う．同一の論理機能を実装する場合であっても，LUT内部では多数の実装方法がある．このため多数の実装方法で発振周波数の測定を行い，それぞれの回路の特徴やその用途について考察する． |
| 抄録(英) | FPGAs (Field Programmable Gate Arrays) are integrated circuits that can implement arbitrary logic functions by reconfiguration. In recent years, system development using FPGAs is increasing due to advantages such as shortening a development period and reducing a development cost using FPGAs. As device size of a semiconductors is shrinking, influence of characteristic variations and degradations of FPGA chips is becoming a serious problem. Therefore, in order to implement highly reliable digital systems using FPGAs, it is necessary to consider influence of characteristic variations and degradations. In this research, characteristic variations are measured by implementing ring oscillators (ROs) at several locations on the FPGA chip as with the LSI. After that, an oscillation frequency is measured. In the case of FPGAs, logic functions are implemented using LUTs (Look-Up Tables).Even with the same logic function, the LUT has many implementation methods. Oscillation frequencies were measured by several implementations, and features of each circuit and their usage were considered. |
| キーワード(和) | FPGA / リングオシレータ / 発振周波数 / ばらつき / 特性 / LUT |
| キーワード(英) | FPGA / Ring Oscillator / Oscillating frequency / Variation / Characteristics / LUT |
| 資料番号 | DC2017-86 |
| 発行日 | 2018-02-13 (DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
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| 開催期間 | 2018/2/20(から1日開催) |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 委員長氏名（和） | 井上 美智子(奈良先端大) |
| 委員長氏名（英） | Michiko Inoue(NAIST) |
| 副委員長氏名（和） | 福本 聡(首都大東京) |
| 副委員長氏名（英） | Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 幹事氏名（和） | 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大) |
| 幹事氏名（英） | Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 新井 雅之(日大) |
| 幹事補佐氏名（英） | Masayuki Arai(Nihon Univ.) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Dependable Computing |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | LUT構造を考慮したFPGAの特性ばらつきの測定方法の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Investigation of a Measurement Method of Characteristic Variations in the FPGA Considering an LUT Structure |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | FPGA / FPGA |
| キーワード(2)（和/英） | リングオシレータ / Ring Oscillator |
| キーワード(3)（和/英） | 発振周波数 / Oscillating frequency |
| キーワード(4)（和/英） | ばらつき / Variation |
| キーワード(5)（和/英） | 特性 / Characteristics |
| キーワード(6)（和/英） | LUT / LUT |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 佐藤 晃平 / Kouhei Satou |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 首都大学東京(略称：首都大東京) Tokyo Metropolitan University(略称：Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 三浦 幸也 / Yukiya Miura |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 首都大学東京(略称：首都大東京) Tokyo Metropolitan University(略称：Tokyo Metropolitan Univ.) |
| 発表年月日 | 2018-02-20 |
| 資料番号 | DC2017-86 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | DC-444 |
| ページ範囲 | pp.55-60(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2018-02-13 (DC) |