講演名 2018-01-18
組合せ回路用テストパターン生成への計算機代数システムの利用に関する調査
稲元 勉(愛媛大), 樋上 喜信(愛媛大),
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和) 本稿では,組合せ回路の故障検出用テストパターン集合の故障検出率向上を目的とし,そのために計算機代数システムを利用する試みの一端を報告する.組合せ回路の論理式を多項式として表現し,信号線の値を表す多項式を外部入力を表す変数で偏微分することにより,偏導関数が得られる.この偏導関数はブール微分に相当するため,故障検出に有用な情報を有していると推察する.この推察のもと,偏導関数が含む変数数を,その偏導関数に対応する信号線の値に対してある外部入力が与える影響に関する特徴量として取り上げる.計算結果では,その特徴量と故障検出率の関係についての予備的調査結果を示す.
抄録(英) In this study, the authors display an attempt of deploying a computer algebra system to improve the fault detection rate of test pattern sets for fault detection of combinational circuits. Partial derivatives are brought by representing logic expressions for external output lines of combinational circuits as polynomial expressions comprised of variables each of which corresponds to an external input line of circuits, and then by differentiating output polynomial expressions by input variables. The author speculates such partial derivatives hold some information useful for fault detection, because they correspond to boolean differences. According to this speculation, the number of variables contained in the partial derivative is picked up as a characteristics of that derivative. In computational results, the relation between that characteristics and the fault detection rate is investigated.
キーワード(和) 組合せ回路 / 縮退故障 / 故障検出 / 多項式 / 計算機代数システム
キーワード(英) combinational circuit / stuck-at fault / fault detection / polynomial / computer algebra system
資料番号 MSS2017-57,SS2017-44
発行日 2018-01-11 (MSS, SS)

研究会情報
研究会 SS / MSS
開催期間 2018/1/18(から2日開催)
開催地(和) 広島市立大学サテライトキャンパス
開催地(英)
テーマ(和)
テーマ(英)
委員長氏名(和) 緒方 和博(北陸先端大) / 名嘉村 盛和(琉球大)
委員長氏名(英) Kazuhiro Ogata(JAIST) / Morikazu Nakamura(Univ. of Ryukyus)
副委員長氏名(和) 中田 明夫(広島市大) / 髙井 重昌(阪大)
副委員長氏名(英) Akio Nakata(Hiroshima City Univ.) / Shigemasa Takai(Osaka Univ.)
幹事氏名(和) 小林 隆志(東工大) / 肥後 芳樹(阪大) / 豊嶋 伊知郎(東芝エネルギーシステムズ) / 金澤 尚史(阪大)
幹事氏名(英) Takashi Kobayashi(Tokyo Inst. of Tech.) / Yoshiki Higo(Osaka Univ.) / Ichiro Toyoshima(Toshiba) / Takahumi Kanazawa(Osaka Univ.)
幹事補佐氏名(和) 島 和之(広島市大) / 金城 秀樹(沖縄大)
幹事補佐氏名(英) Kazuyuki Shima(Hiroshima City Univ.) / Hideki Kinjo(Okinawa Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Software Science / Technical Committee on Mathematical Systems Science and its applications
本文の言語 JPN
タイトル(和) 組合せ回路用テストパターン生成への計算機代数システムの利用に関する調査
サブタイトル(和)
タイトル(英) Study on Deployment of a Computer Algebra System for Generating Random Test Patterns for Combinational Circuits
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 組合せ回路 / combinational circuit
キーワード(2)(和/英) 縮退故障 / stuck-at fault
キーワード(3)(和/英) 故障検出 / fault detection
キーワード(4)(和/英) 多項式 / polynomial
キーワード(5)(和/英) 計算機代数システム / computer algebra system
第 1 著者 氏名(和/英) 稲元 勉 / Tsutomu Inamoto
第 1 著者 所属(和/英) 愛媛大学(略称:愛媛大)
Ehime University(略称:Ehime Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami
第 2 著者 所属(和/英) 愛媛大学(略称:愛媛大)
Ehime University(略称:Ehime Univ.)
発表年月日 2018-01-18
資料番号 MSS2017-57,SS2017-44
巻番号(vol) vol.117
号番号(no) MSS-380,SS-381
ページ範囲 pp.59-64(MSS), pp.59-64(SS),
ページ数 6
発行日 2018-01-11 (MSS, SS)