講演名 2018-01-30
SiC-MOSFETのスイッチング特性およびドレイン‐ゲート間相互作用の測定
谷口 大樹(鹿児島大), 田中 哲郎(鹿児島大),
PDFダウンロードページ PDFダウンロードページへ
抄録(和)
抄録(英)
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 EE2017-68
発行日 2018-01-22 (EE)

研究会情報
研究会 EE
開催期間 2018/1/29(から2日開催)
開催地(和) サテライトキャンパスおおいた (大分市)
開催地(英) Satellite Campus Oita
テーマ(和) 回路技術及び高効率エネルギー変換技術関連,一般
テーマ(英)
委員長氏名(和) 黒川 不二雄(長崎大)
委員長氏名(英) Fujio Kurokawa(Nagasaki Univ.)
副委員長氏名(和) 中原 正俊(崇城大) / 廣瀬 圭一(NTTファシリティーズ)
副委員長氏名(英) Masatoshi Nakahara(Sojo Univ.) / Keiichi Hirose(NTT-F)
幹事氏名(和) 末次 正(福岡大)
幹事氏名(英) Tadashi Suetsugu(Fukuoka Univ.)
幹事補佐氏名(和) 梶原 一宏(長崎総合科学大) / 松下 傑(NTTファシリティーズ) / 丸田 英徳(長崎大)
幹事補佐氏名(英) kazuhiro Kajiwara(NiAS) / Takashi Matsushita(NTT-F) / Hidenori Maruta(Nagasaki Univ.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Energy Engineering in Electronics and Communications
本文の言語 JPN
タイトル(和) SiC-MOSFETのスイッチング特性およびドレイン‐ゲート間相互作用の測定
サブタイトル(和)
タイトル(英) Measurement of Switching Characteristics and Drain-Gate Interaction of SiC-MOSFET
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) 谷口 大樹 / Daiki Taniguchi
第 1 著者 所属(和/英) 鹿児島大学(略称:鹿児島大)
Kagoshima University(略称:Kagoshima Univ.)
第 2 著者 氏名(和/英) 田中 哲郎 / Tetsuro Tanaka
第 2 著者 所属(和/英) 鹿児島大学(略称:鹿児島大)
Kagoshima University(略称:Kagoshima Univ.)
発表年月日 2018-01-30
資料番号 EE2017-68
巻番号(vol) vol.117
号番号(no) EE-424
ページ範囲 pp.151-156(EE),
ページ数 6
発行日 2018-01-22 (EE)