講演名 | 2018-01-19 光再構成型ゲートアレイのトータルドーズ耐性 藤森 卓巳(静岡大), 渡邊 実(静岡大), |
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資料番号 | VLD2017-81,CPSY2017-125,RECONF2017-69 |
発行日 | 2018-01-11 (VLD, CPSY, RECONF) |
研究会情報 | |
研究会 | IPSJ-ARC / VLD / CPSY / RECONF / IPSJ-SLDM |
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開催期間 | 2018/1/18(から2日開催) |
開催地(和) | 慶應義塾大学 日吉キャンパス 来往舎 |
開催地(英) | Raiosha, Hiyoshi Campus, Keio University |
テーマ(和) | FPGA応用および一般 |
テーマ(英) | FPGA Applications, etc |
委員長氏名(和) | 五島 正裕(NII) / 越智 裕之(立命館大) / 中野 浩嗣(広島大) / 本村 真人(北大) / 浜口 清治(島根大) |
委員長氏名(英) | Masahiro Goshima(NII) / Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Masato Motomura(Hokkaido Univ.) / Kiyoharu Hamaguchi(Shimane Univ.) |
副委員長氏名(和) | / 峯岸 孝行(三菱電機) / 入江 英嗣(東大) / 三吉 貴史(富士通研) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 佐野 健太郎(東北大) |
副委員長氏名(英) | / Noriyuki Minegishi(Mitsubishi Electric) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Takashi Miyoshi(Fujitsu) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Kentaro Sano(Tohoku Univ.) |
幹事氏名(和) | 小野 貴継(九大) / 近藤 正章(東大) / 長谷川 揚平(東芝) / 塩谷 亮太(名大) / 永山 忍(広島市大) / 新田 高庸(NTTデバイスイノベーションセンタ) / 大川 猛(宇都宮大) / 高前田 伸也(北大) / 谷川 一哉(広島市大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 許 浩沿(パナソニックセミコンダクタソリューションズ) / 密山 幸男(高知工科大) / 柴田 誠也(NEC) |
幹事氏名(英) | Takatsugu Ono(Kyushu Univ.) / Masaaki Kondo(Univ. of Tokyo) / Yohei Hasegawa(Toshiba) / Ryota Shioya(Nagoya Univ.) / Shinobu Nagayama(Hiroshima City Univ.) / Koyo Nitta(NTT) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Shinya Takameda(Hokkaido Univ.) / Kazuya Tanigawa(Hiroshima City Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Ko Kyo(Panasonic) / Yukio Mitsuyama(Kochi Univ. of Tech.) / Seiya Shibata(NEC) |
幹事補佐氏名(和) | / / 伊藤 靖朗(広島大) / 津邑 公暁(名工大) / 小林 悠記(NEC) / 中原 啓貴(東工大) |
幹事補佐氏名(英) | / / Yasuaki Ito(Hiroshima Univ.) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Hiroki Nakahara(Tokyo Inst. of Tech.) |
講演論文情報詳細 | |
申込み研究会 | Special Interest Group on System Architecture / Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology |
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本文の言語 | JPN |
タイトル(和) | 光再構成型ゲートアレイのトータルドーズ耐性 |
サブタイトル(和) | |
タイトル(英) | Total-ionizing-dose tolerance of an optically reconfigurable gate array |
サブタイトル(和) | |
キーワード(1)(和/英) | |
第 1 著者 氏名(和/英) | 藤森 卓巳 / Takumi Fujimori |
第 1 著者 所属(和/英) | 静岡大学(略称:静岡大) Shizuoka University(略称:Shizuoka Univ.) |
第 2 著者 氏名(和/英) | 渡邊 実 / Minoru Watanabe |
第 2 著者 所属(和/英) | 静岡大学(略称:静岡大) Shizuoka University(略称:Shizuoka Univ.) |
発表年月日 | 2018-01-19 |
資料番号 | VLD2017-81,CPSY2017-125,RECONF2017-69 |
巻番号(vol) | vol.117 |
号番号(no) | VLD-377,CPSY-378,RECONF-379 |
ページ範囲 | pp.113-117(VLD), pp.113-117(CPSY), pp.113-117(RECONF), |
ページ数 | 5 |
発行日 | 2018-01-11 (VLD, CPSY, RECONF) |