講演名 2017-12-22
ミストCVD法を用いたGaSnO薄膜の特性評価
岡本 龍吾(龍谷大), 福嶋 大貴(龍谷大), 松田 時宜(龍谷大), 木村 睦(龍谷大),
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抄録(和)
抄録(英)
キーワード(和)
キーワード(英)
資料番号 EID2017-23,SDM2017-84
発行日 2017-12-15 (EID, SDM)

研究会情報
研究会 SDM / EID
開催期間 2017/12/22(から1日開催)
開催地(和) 京都大学
開催地(英) Kyoto University
テーマ(和) Si、Siを含む材料の作製、プロセス技術、デバイス、およびディスプレイ関連技術
テーマ(英) Si, Si-related materials, device process, electron devices, and display technology
委員長氏名(和) 国清 辰也(ルネサス エレクトロニクス) / 小南 裕子(静岡大)
委員長氏名(英) Tatsuya Kunikiyo(Renesas) / Yuko Kominami(Shizuoka Univ.)
副委員長氏名(和) 品田 高宏(東北大) / 木村 睦(龍谷大)
副委員長氏名(英) Takahiro Shinada(Tohoku Univ.) / Mutsumi Kimura(Ryukoku Univ.)
幹事氏名(和) 黒田 理人(東北大) / 山口 直(ルネサス エレクトロニクス) / 伊達 宗和(NTT) / 山口 雅浩(東工大)
幹事氏名(英) Rihito Kuroda(Tohoku Univ.) / Tadashi Yamaguchi(Renesas) / Munekazu Date(NTT) / Masahiro Yamaguchi(Tokyo Inst. of Tech.)
幹事補佐氏名(和) 池田 浩也(静岡大) / 諸岡 哲(東芝メモリ) / 山口 留美子(秋田大) / 新田 博幸(ジャパンディスプレイ) / 中田 充(NHK) / 野中 亮助(東芝) / 奥野 武志(ファーウェイ) / 志賀 智一(電通大)
幹事補佐氏名(英) Hiroya Ikeda(Shizuoka Univ.) / Tetsu Morooka(TOSHIBA MEMORY) / Rumiko Yamaguchi(Akita Univ.) / Hiroyuki Nitta(Japan Display) / Mitsuru Nakata(NHK) / Ryosuke Nonaka(Toshiba) / Takeshi Okuno(Huawei) / Tomokazu Shiga(Univ. of Electro-Comm.)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Silicon Device and Materials / Technical Committee on Electronic Information Displays
本文の言語 JPN
タイトル(和) ミストCVD法を用いたGaSnO薄膜の特性評価
サブタイトル(和)
タイトル(英) Characteristic Evaluation of GaSnO Thin Films deposited using Mist Chemical Vapor Deposition
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英)
第 1 著者 氏名(和/英) 岡本 龍吾 / Ryugo Okamoto
第 1 著者 所属(和/英) 龍谷大学(略称:龍谷大)
Ryukoku University(略称:Ryukoku Univ)
第 2 著者 氏名(和/英) 福嶋 大貴 / Hiroki Fukushima
第 2 著者 所属(和/英) 龍谷大学(略称:龍谷大)
Ryukoku University(略称:Ryukoku Univ)
第 3 著者 氏名(和/英) 松田 時宜 / Tokiyoshi Matsuda
第 3 著者 所属(和/英) 龍谷大学(略称:龍谷大)
Ryukoku University(略称:Ryukoku Univ.)
第 4 著者 氏名(和/英) 木村 睦 / Mutsumi Kimura
第 4 著者 所属(和/英) 龍谷大学(略称:龍谷大)
Ryukoku University(略称:Ryukoku Univ)
発表年月日 2017-12-22
資料番号 EID2017-23,SDM2017-84
巻番号(vol) vol.117
号番号(no) EID-372,SDM-373
ページ範囲 pp.63-66(EID), pp.63-66(SDM),
ページ数 4
発行日 2017-12-15 (EID, SDM)