| 講演名 | 2017-12-14 プロセス製造における品質向上のための対策判断システムの開発 高橋 正和(日立), 塩野谷 友隆(日立), 沖津 潤(日立), 室 啓朗(日立), |
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| 抄録(和) | 製造業の重要な経営課題の１つとして品質改善があるが，品質改善対策の選択・実施が属人的で満足な対策成功率を得られない場合があるという問題がある．本研究では機械学習によって対策判断を自動化するシステムを提案する．この実現で課題となる，鉄鋼業などの製造が連続的であるプロセス製造における，学習データ抽出時の時間範囲の決定に取り組んだ．具体的には，対策判断に用いる学習データ範囲を製品サイクルタイム(PCT) を基準に，機械学習により最適化する手法について述べる．実際の製造現場で本システムを評価し，主要な品質改善対策の成功率を20%向上できる見込みを得た． |
| 抄録(英) | Quality improvement is one of the important management challenges. However, the success ratio of quality improvement action sometime changes according to operators personal skills. Through the research, we propose action judge system to improve action success-ratio. The system judges whether to execute action or not by machine learning. To realize the system, we implemented the system that optimize time-range of extracted data by utilizing machine learning based on Product Cycle Time (PCT). We evaluated a prototype of the system using actual IoT data of a manufacturing process. In our evaluation, action success-ratio improves by 20%. |
| キーワード(和) | IoT / プロセス製造 / 機械学習 / データ準備 / 品質向上 / 時系列データ |
| キーワード(英) | IoT / Process manufacturing / Machine learning / Data preparation / Quality Improvement / Time series data |
| 資料番号 | CAS2017-70,ICD2017-58,CPSY2017-67 |
| 発行日 | 2017-12-07 (CAS, ICD, CPSY) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | ICD / CPSY / CAS |
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| 開催期間 | 2017/12/14(から2日開催) |
| 開催地（和） | アートホテル石垣島 |
| 開催地（英） | Art Hotel Ishigakijima |
| テーマ（和） | 学生・若手研究会 |
| テーマ（英） | |
| 委員長氏名（和） | 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 中野 浩嗣(広島大) / 平木 充(ルネサス エレクトロニクス) |
| 委員長氏名（英） | Hideto Hidaka(Renesas) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Mitsuru Hiraki(Renesas) |
| 副委員長氏名（和） | 永田 真(神戸大) / 入江 英嗣(東大) / 三吉 貴史(富士通研) / 岡崎 秀晃(湘南工科大) |
| 副委員長氏名（英） | Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Takashi Miyoshi(Fujitsu) / Hideaki Okazaki(Shonan Inst. of Tech.) |
| 幹事氏名（和） | 高宮 真(東大) / 橋本 隆(パナソニック) / 大川 猛(宇都宮大) / 高前田 伸也(北大) / 山口 基(ルネサスシステムデザイン) / 橘 俊宏(湘南工科大) |
| 幹事氏名（英） | Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Shinya Takameda(Hokkaido Univ.) / Motoi Yamaguchi(Renesas) / Toshihiro Tachibana(Shonan Inst. of Tech.) |
| 幹事補佐氏名（和） | 夏井 雅典(東北大) / 柘植 政利(ソシオネクスト) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 伊藤 靖朗(広島大) / 津邑 公暁(名工大) / 中村 洋平(日立) |
| 幹事補佐氏名（英） | Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Masatoshi Tsuge(Socionext) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Yasuaki Ito(Hiroshima Univ.) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Yohei Nakamura(Hitachi) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Circuits and Systems |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | プロセス製造における品質向上のための対策判断システムの開発 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Action Judge System for Process-Manufacturing Quality Improvement |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | IoT / IoT |
| キーワード(2)（和/英） | プロセス製造 / Process manufacturing |
| キーワード(3)（和/英） | 機械学習 / Machine learning |
| キーワード(4)（和/英） | データ準備 / Data preparation |
| キーワード(5)（和/英） | 品質向上 / Quality Improvement |
| キーワード(6)（和/英） | 時系列データ / Time series data |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 高橋 正和 / Masakazu Takahashi |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 株式会社 日立製作所(略称：日立) Hitachi, Ltd.(略称：Hitachi) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 塩野谷 友隆 / Tomotaka Shionoya |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 株式会社 日立製作所(略称：日立) Hitachi, Ltd.(略称：Hitachi) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 沖津 潤 / Jun Okitsu |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 株式会社 日立製作所(略称：日立) Hitachi, Ltd.(略称：Hitachi) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 室 啓朗 / Keiro Muro |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 株式会社 日立製作所(略称：日立) Hitachi, Ltd.(略称：Hitachi) |
| 発表年月日 | 2017-12-14 |
| 資料番号 | CAS2017-70,ICD2017-58,CPSY2017-67 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | CAS-343,ICD-344,CPSY-345 |
| ページ範囲 | pp.37-42(CAS), pp.37-42(ICD), pp.37-42(CPSY), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-12-07 (CAS, ICD, CPSY) |