| 講演名 | 2017-11-06 遅延故障BIST高品質化のためのLFSRシード生成法 渡邊 恭之介(大分大), 大竹 哲史(大分大), |
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| 抄録(和) | 大規模集積回路の微細化や高速化に伴い，遅延テストの重要性が高まっている．遅延故障モデルとして，論理ゲートの遅延が増加する遷移故障が広く使われている．このモデルでは，遅延サイズを考慮しておらず，検出可能な遅延サイズは生成されたテストパターンに依存するため，故障検出率のみではテスト品質を十分に評価できない．遅延テストにおける品質評価の方法として統計的遅延品質モデル(SDQM) が提案されている．被検査回路の回路遅延情報を用いたタイミング考慮テスト生成を行うことで統計的遅延品質レベル(SDQL) を向上するテストパターンを得ることができる．現在，シード生成法として，故障を検出するテストキューブを求め，これをシードへ変換する手法が主に使用されている．この方法にSDQL を考慮したテスト生成を行うと，テストキューブのケアビット率が上昇し，シードへの符号化率が下がる．そこで本稿では，LFSR の時間展開モデルを用いた高品質なシード生成を行う手法を提案する．提案法の有効性をITC’99 ベンチマーク回路による実験により，評価する． |
| 抄録(英) | With the miniaturization and high speed of large scale integrated circuits, it has become important to test delay faults. A transition fault that increase delay in a logic gate is one of the delay fault models. Since the detectable delay size of a fault depends on its test pattern, the test quality can not be evaluated sufficiently with fault coverage of the transition faults. As a method to evaluate delay test quality, statistical delay quality model (SDQM) has been proposed. Statistical delay quality level (SDQL) can be improved using tests generated by a commercially available timing aware ATPG tool. At present, methods of seed generation which convert test cubes for detecting faults into seeds are widely used. The care bit rate of the test cubes increases and the encodability ofsuch cubes becomes low when the methods are used with a timing aware ATPG. In this paper, we propose a method of SDQL-aware LFSR seed generation using a time expansion model of an LFSR. We also evaluate the effectiveness of the proposed method by experiments using ITC’99 benchmark circuits. |
| キーワード(和) | BIST / LFSR / シード生成 / 時間展開モデル / 遷移故障 / SDQL |
| キーワード(英) | BIST / LFSR / Seed Generation / Time Expansion Model / Transition Fault / SDQM |
| 資料番号 | VLD2017-35,DC2017-41 |
| 発行日 | 2017-10-30 (VLD, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / DC / CPSY / RECONF / CPM / ICD / IE / IPSJ-SLDM / IPSJ-EMB / IPSJ-ARC |
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| 開催期間 | 2017/11/6(から3日開催) |
| 開催地（和） | くまもと県民交流館パレア |
| 開催地（英） | Kumamoto-Kenminkouryukan Parea |
| テーマ（和） | デザインガイア2017 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2017 -New Field of VLSI Design- |
| 委員長氏名（和） | 越智 裕之(立命館大) / 井上 美智子(奈良先端大) / 中野 浩嗣(広島大) / 本村 真人(北大) / 廣瀬 文彦(山形大) / 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 浜本 隆之(東京理科大) / 浜口 清治(島根大) / 渡辺 晴美(東海大) / 五島 正裕(NII) |
| 委員長氏名（英） | Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) / Michiko Inoue(NAIST) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Masato Motomura(Hokkaido Univ.) / Fumihiko Hirose(Yamagata Univ.) / Hideto Hidaka(Renesas) / Takayuki Hamamoto(Tokyo Univ. of Science) / Kiyoharu Hamaguchi(Shimane Univ.) / 渡辺 晴美(東海大) / Masahiro Goshima(NII) |
| 副委員長氏名（和） | 峯岸 孝行(三菱電機) / 福本 聡(首都大東京) / 入江 英嗣(東大) / 三吉 貴史(富士通研) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 佐野 健太郎(東北大) / 武山 真弓(北見工大) / 永田 真(神戸大) / 児玉 和也(NII) / 木全 英明(NTT) |
| 副委員長氏名（英） | Noriyuki Minegishi(Mitsubishi Electric) / Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Takashi Miyoshi(Fujitsu) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Kentaro Sano(Tohoku Univ.) / Mayumi Takeyama(Kitami Inst. of Tech.) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Kazuya Kodama(NII) / Hideaki Kimata(NTT) |
| 幹事氏名（和） | 永山 忍(広島市大) / 新田 高庸(NTTデバイスイノベーションセンタ) / 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大) / 大川 猛(宇都宮大) / 高前田 伸也(北大) / 谷川 一哉(広島市大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 岩田 展幸(日大) / 中村 雄一(豊橋技科大) / 高宮 真(東大) / 橋本 隆(パナソニック) / 高橋 桂太(名大) / 河村 圭(KDDI総合研究所) / 許 浩沿(パナソニックセミコンダクタソリューションズ) / 密山 幸男(高知工科大) / 柴田 誠也(NEC) / 岡野 浩三(信州大) / 北村 崇師(産総研) / 早川 栄一(拓殖大) / 福田 浩章(芝浦工大) / 横山 孝典(東京都市大) / 小野 貴継(九大) / 近藤 正章(東大) / 長谷川 揚平(東芝) / 塩谷 亮太(名大) |
| 幹事氏名（英） | Shinobu Nagayama(Hiroshima City Univ.) / Koyo Nitta(NTT) / Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Shinya Takameda(Hokkaido Univ.) / Kazuya Tanigawa(Hiroshima City Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Nobuyuki Iwata(Nihon Univ.) / Yuichi Nakamura(Toyohashi Univ. of Tech.) / Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Keita Takahashi(Nagoya Univ.) / Kei Kawamura(KDDI Research) / Ko Kyo(Panasonic) / Yukio Mitsuyama(Kochi Univ. of Tech.) / Seiya Shibata(NEC) / 岡野 浩三(信州大) / 北村 崇師(産総研) / 早川 栄一(拓殖大) / 福田 浩章(芝浦工大) / 横山 孝典(東京都市大) / Takatsugu Ono(Kyushu Univ.) / Masaaki Kondo(Univ. of Tokyo) / Yohei Hasegawa(Toshiba) / Ryota Shioya(Nagoya Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 新井 雅之(日大) / 伊藤 靖朗(広島大) / 津邑 公暁(名工大) / 小林 悠記(NEC) / 中原 啓貴(東工大) / 赤毛 勇一(NTTデバイスイノベーションセンタ) / 夏井 雅典(東北大) / 柘植 政利(ソシオネクスト) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 松尾 康孝(NHK) / 早瀬 和也(NTT) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Yasuaki Ito(Hiroshima Univ.) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Hiroki Nakahara(Tokyo Inst. of Tech.) / Yuichi Akage(NTT) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Masatoshi Tsuge(Socionext) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Yasutaka Matsuo(NHK) / Kazuya Hayase(NTT) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Component Parts and Materials / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Image Engineering / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology / Special Interest Group on Embedded Systems / Special Interest Group on System Architecture |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 遅延故障BIST高品質化のためのLFSRシード生成法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Method of LFSR Seed Generation for Improving Quality of Delay Fault BIST |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(2)（和/英） | LFSR / LFSR |
| キーワード(3)（和/英） | シード生成 / Seed Generation |
| キーワード(4)（和/英） | 時間展開モデル / Time Expansion Model |
| キーワード(5)（和/英） | 遷移故障 / Transition Fault |
| キーワード(6)（和/英） | SDQL / SDQM |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 渡邊 恭之介 / Kyonosuke Watanabe |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大分大学(略称：大分大) Oita University(略称：Oita Univ.) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 大竹 哲史 / Satoshi Ohtake |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大分大学(略称：大分大) Oita University(略称：Oita Univ.) |
| 発表年月日 | 2017-11-06 |
| 資料番号 | VLD2017-35,DC2017-41 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | VLD-273,DC-274 |
| ページ範囲 | pp.49-54(VLD), pp.49-54(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-10-30 (VLD, DC) |