| 講演名 | 2017-11-06 機械学習を用いたフェールチップ判別における適用識別器と判別確度の決定法 柚留木 大地(大分大), 大竹 哲史(大分大), 中村 芳行(ルネサス エレクトロニクス), |
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| 抄録(和) | 今日，半導体技術の進歩によるLSIの高集積化によりLSIの低価格化が進んでいる．LSIの品質を保ちつつ，テストコストを削減する手法が望まれている．著者らはこれまでに，この問題に対してクラスタリングとサポートベクタマシン(SVM)などの機械学習技術を用い，テストコスト削減が可能であることを示した．SVMで判別を行う際には，良品と不良品を判別する閾値を決める必要があるが，この値は判別対象データと識別器に依存して変動するため，適切な識別器と判別確度を決定することが課題となっていた．本稿では，この問題に対してSVMを用いた最適な識別器を決定する手法を提案する．具体的には，判別対象データを識別器に適用し，良品である確率の分布特徴を用い，特定の閾値で有効に働く識別器を選択する．提案手法の有効性を，実際のテストデータを用いた実験により評価する． |
| 抄録(英) | Today, semiconductor technologies have developed and advance the integration density of LSI circuits. A technique which keeps quality of LSIs and reduces test cost is necessary. We have shown that test cost reduction is possible by using machine learning techniques such as cluster analysis and support vector machine (SVM) for this problem. When performing discrimination by SVM, it is necessary to determine a threshold value for discriminating between good products and defective products. Since the appropriate threshold value fluctuates depending on data to be discriminated and discriminators, determination of an appropriate discriminator to be applied to the data and its discrimination threshold becomes an issue. In this paper, we propose a method to determine an optimal discriminator using SVM for this problem: apply the discrimination target data to a prior discriminator which is proposed in this paper, and select the discriminator that works effectively with a specific threshold value by using the distribution characteristic of the probability of good products. The effectiveness of the proposed method is evaluated by experiments using industrial test data. |
| キーワード(和) | データマイニング / サポートベクタマシン / 判別分析 / LSIテスト |
| キーワード(英) | Data mining / support vector machine / discriminant analysis / LSI testing |
| 資料番号 | VLD2017-36,DC2017-42 |
| 発行日 | 2017-10-30 (VLD, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / DC / CPSY / RECONF / CPM / ICD / IE / IPSJ-SLDM / IPSJ-EMB / IPSJ-ARC |
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| 開催期間 | 2017/11/6(から3日開催) |
| 開催地（和） | くまもと県民交流館パレア |
| 開催地（英） | Kumamoto-Kenminkouryukan Parea |
| テーマ（和） | デザインガイア2017 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2017 -New Field of VLSI Design- |
| 委員長氏名（和） | 越智 裕之(立命館大) / 井上 美智子(奈良先端大) / 中野 浩嗣(広島大) / 本村 真人(北大) / 廣瀬 文彦(山形大) / 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 浜本 隆之(東京理科大) / 浜口 清治(島根大) / 渡辺 晴美(東海大) / 五島 正裕(NII) |
| 委員長氏名（英） | Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) / Michiko Inoue(NAIST) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Masato Motomura(Hokkaido Univ.) / Fumihiko Hirose(Yamagata Univ.) / Hideto Hidaka(Renesas) / Takayuki Hamamoto(Tokyo Univ. of Science) / Kiyoharu Hamaguchi(Shimane Univ.) / 渡辺 晴美(東海大) / Masahiro Goshima(NII) |
| 副委員長氏名（和） | 峯岸 孝行(三菱電機) / 福本 聡(首都大東京) / 入江 英嗣(東大) / 三吉 貴史(富士通研) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 佐野 健太郎(東北大) / 武山 真弓(北見工大) / 永田 真(神戸大) / 児玉 和也(NII) / 木全 英明(NTT) |
| 副委員長氏名（英） | Noriyuki Minegishi(Mitsubishi Electric) / Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Takashi Miyoshi(Fujitsu) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Kentaro Sano(Tohoku Univ.) / Mayumi Takeyama(Kitami Inst. of Tech.) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Kazuya Kodama(NII) / Hideaki Kimata(NTT) |
| 幹事氏名（和） | 永山 忍(広島市大) / 新田 高庸(NTTデバイスイノベーションセンタ) / 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大) / 大川 猛(宇都宮大) / 高前田 伸也(北大) / 谷川 一哉(広島市大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 岩田 展幸(日大) / 中村 雄一(豊橋技科大) / 高宮 真(東大) / 橋本 隆(パナソニック) / 高橋 桂太(名大) / 河村 圭(KDDI総合研究所) / 許 浩沿(パナソニックセミコンダクタソリューションズ) / 密山 幸男(高知工科大) / 柴田 誠也(NEC) / 岡野 浩三(信州大) / 北村 崇師(産総研) / 早川 栄一(拓殖大) / 福田 浩章(芝浦工大) / 横山 孝典(東京都市大) / 小野 貴継(九大) / 近藤 正章(東大) / 長谷川 揚平(東芝) / 塩谷 亮太(名大) |
| 幹事氏名（英） | Shinobu Nagayama(Hiroshima City Univ.) / Koyo Nitta(NTT) / Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Shinya Takameda(Hokkaido Univ.) / Kazuya Tanigawa(Hiroshima City Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Nobuyuki Iwata(Nihon Univ.) / Yuichi Nakamura(Toyohashi Univ. of Tech.) / Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Keita Takahashi(Nagoya Univ.) / Kei Kawamura(KDDI Research) / Ko Kyo(Panasonic) / Yukio Mitsuyama(Kochi Univ. of Tech.) / Seiya Shibata(NEC) / 岡野 浩三(信州大) / 北村 崇師(産総研) / 早川 栄一(拓殖大) / 福田 浩章(芝浦工大) / 横山 孝典(東京都市大) / Takatsugu Ono(Kyushu Univ.) / Masaaki Kondo(Univ. of Tokyo) / Yohei Hasegawa(Toshiba) / Ryota Shioya(Nagoya Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 新井 雅之(日大) / 伊藤 靖朗(広島大) / 津邑 公暁(名工大) / 小林 悠記(NEC) / 中原 啓貴(東工大) / 赤毛 勇一(NTTデバイスイノベーションセンタ) / 夏井 雅典(東北大) / 柘植 政利(ソシオネクスト) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 松尾 康孝(NHK) / 早瀬 和也(NTT) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Yasuaki Ito(Hiroshima Univ.) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Hiroki Nakahara(Tokyo Inst. of Tech.) / Yuichi Akage(NTT) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Masatoshi Tsuge(Socionext) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Yasutaka Matsuo(NHK) / Kazuya Hayase(NTT) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Component Parts and Materials / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Image Engineering / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology / Special Interest Group on Embedded Systems / Special Interest Group on System Architecture |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | 機械学習を用いたフェールチップ判別における適用識別器と判別確度の決定法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An Approach to Selection of Classifiers and their Thresholds for Machine Learning Based Fail Chip Prediction |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | データマイニング / Data mining |
| キーワード(2)（和/英） | サポートベクタマシン / support vector machine |
| キーワード(3)（和/英） | 判別分析 / discriminant analysis |
| キーワード(4)（和/英） | LSIテスト / LSI testing |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 柚留木 大地 / Daichi Yuruki |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 大分大学(略称：大分大) Oita University(略称：Oita Univ) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 大竹 哲史 / Satoshi Ohtake |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 大分大学(略称：大分大) Oita University(略称：Oita Univ) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 中村 芳行 / Yoshiyuki Nakamura |
| 第 3 著者 所属（和/英） | ルネサス エレクトロニクス株式会社(略称：ルネサス エレクトロニクス) Renesas Electronics Corporation(略称：Renesas Electronics) |
| 発表年月日 | 2017-11-06 |
| 資料番号 | VLD2017-36,DC2017-42 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | VLD-273,DC-274 |
| ページ範囲 | pp.55-60(VLD), pp.55-60(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-10-30 (VLD, DC) |