| 講演名 | 2017-11-06 コントローラ拡大を用いたレジスタ転送レベルにおけるテストパターン数削減のためのハードウェア要素のテストレジスタ割当て法 武田 俊(日大), 細川 利典(日大), 山崎 紘史(日大), 吉村 正義(京都産大), |
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| 抄録(和) | 近年, VLSIのテストコスト増大に伴い，DFT設計を用いたテストパターン数削減手法が重要視されている．特に， VLSIの設計フローとの適合性とDFT適用箇所の探索時間の削減のために，レジスタ転送レベルでのDFT法が要求されている．本論文ではスキャンテストにおいて，可能な限り少数個のテストパターンでハードウェア要素の並列テストを可能にするための，レジスタ転送レベルテスト容易化設計法を提案する．提案手法はコントローラ拡大を用いて効率的なハードウェア要素の並列テストを可能とすることで，テスト圧縮の効率を高める．高位レベルのベンチマーク回路の実験結果は平均7.12%の面積オーバーヘッドでテストパターン数を平均33.47%削減したことを示す． |
| 抄録(英) | Recently, it is very important to reduce the number of test patterns by using design-for-testability (DFT) with the increase in test costs for very large scale integrated circuits (VLSI). Especially DFT methods to reduce the number of test patterns at register transfer level (RTL) are required for the adaptability of traditional VLSI design flows and the reduction of time to search DFT locations. In this paper, we propose a DFT method at RTL to enable hardware elements to be concurrently tested with as small number of test patterns as possible in scan testing. The proposed method enhances the effectiveness of test compaction by enable efficient concurrent testing for hardware elements based on controller augmentation. Experimental results on high-level benchmark circuits show that our proposed method reduced the number of test patterns by 33.47% with 7.12 % area overhead on average. |
| キーワード(和) | テストレジスタ割当て / テスト容易化設計 / コントローラ拡大 / 無効テスト状態 / テストスケジューリング |
| キーワード(英) | test register assignment / design for testability / controller augmentation / invalid test states / test scheduling |
| 資料番号 | VLD2017-37,DC2017-43 |
| 発行日 | 2017-10-30 (VLD, DC) |
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD / DC / CPSY / RECONF / CPM / ICD / IE / IPSJ-SLDM / IPSJ-EMB / IPSJ-ARC |
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| 開催期間 | 2017/11/6(から3日開催) |
| 開催地（和） | くまもと県民交流館パレア |
| 開催地（英） | Kumamoto-Kenminkouryukan Parea |
| テーマ（和） | デザインガイア2017 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2017 -New Field of VLSI Design- |
| 委員長氏名（和） | 越智 裕之(立命館大) / 井上 美智子(奈良先端大) / 中野 浩嗣(広島大) / 本村 真人(北大) / 廣瀬 文彦(山形大) / 日高 秀人(ルネサス エレクトロニクス) / 浜本 隆之(東京理科大) / 浜口 清治(島根大) / 渡辺 晴美(東海大) / 五島 正裕(NII) |
| 委員長氏名（英） | Hiroyuki Ochi(Ritsumeikan Univ.) / Michiko Inoue(NAIST) / Koji Nakano(Hiroshima Univ.) / Masato Motomura(Hokkaido Univ.) / Fumihiko Hirose(Yamagata Univ.) / Hideto Hidaka(Renesas) / Takayuki Hamamoto(Tokyo Univ. of Science) / Kiyoharu Hamaguchi(Shimane Univ.) / 渡辺 晴美(東海大) / Masahiro Goshima(NII) |
| 副委員長氏名（和） | 峯岸 孝行(三菱電機) / 福本 聡(首都大東京) / 入江 英嗣(東大) / 三吉 貴史(富士通研) / 柴田 裕一郎(長崎大) / 佐野 健太郎(東北大) / 武山 真弓(北見工大) / 永田 真(神戸大) / 児玉 和也(NII) / 木全 英明(NTT) |
| 副委員長氏名（英） | Noriyuki Minegishi(Mitsubishi Electric) / Satoshi Fukumoto(Tokyo Metropolitan Univ.) / Hidetsugu Irie(Univ. of Tokyo) / Takashi Miyoshi(Fujitsu) / Yuichiro Shibata(Nagasaki Univ.) / Kentaro Sano(Tohoku Univ.) / Mayumi Takeyama(Kitami Inst. of Tech.) / Makoto Nagata(Kobe Univ.) / Kazuya Kodama(NII) / Hideaki Kimata(NTT) |
| 幹事氏名（和） | 永山 忍(広島市大) / 新田 高庸(NTTデバイスイノベーションセンタ) / 吉村 正義(京都産大) / 金子 晴彦(東工大) / 大川 猛(宇都宮大) / 高前田 伸也(北大) / 谷川 一哉(広島市大) / 三好 健文(イーツリーズ・ジャパン) / 岩田 展幸(日大) / 中村 雄一(豊橋技科大) / 高宮 真(東大) / 橋本 隆(パナソニック) / 高橋 桂太(名大) / 河村 圭(KDDI総合研究所) / 許 浩沿(パナソニックセミコンダクタソリューションズ) / 密山 幸男(高知工科大) / 柴田 誠也(NEC) / 岡野 浩三(信州大) / 北村 崇師(産総研) / 早川 栄一(拓殖大) / 福田 浩章(芝浦工大) / 横山 孝典(東京都市大) / 小野 貴継(九大) / 近藤 正章(東大) / 長谷川 揚平(東芝) / 塩谷 亮太(名大) |
| 幹事氏名（英） | Shinobu Nagayama(Hiroshima City Univ.) / Koyo Nitta(NTT) / Masayoshi Yoshimura(Kyoto Sangyo Univ.) / Haruhiko Kaneko(Tokyo Inst. of Tech.) / Takeshi Ohkawa(Utsunomiya Univ.) / Shinya Takameda(Hokkaido Univ.) / Kazuya Tanigawa(Hiroshima City Univ.) / Takefumi Miyoshi(e-trees.Japan) / Nobuyuki Iwata(Nihon Univ.) / Yuichi Nakamura(Toyohashi Univ. of Tech.) / Makoto Takamiya(Univ. of Tokyo) / Takashi Hashimoto(Panasonic) / Keita Takahashi(Nagoya Univ.) / Kei Kawamura(KDDI Research) / Ko Kyo(Panasonic) / Yukio Mitsuyama(Kochi Univ. of Tech.) / Seiya Shibata(NEC) / 岡野 浩三(信州大) / 北村 崇師(産総研) / 早川 栄一(拓殖大) / 福田 浩章(芝浦工大) / 横山 孝典(東京都市大) / Takatsugu Ono(Kyushu Univ.) / Masaaki Kondo(Univ. of Tokyo) / Yohei Hasegawa(Toshiba) / Ryota Shioya(Nagoya Univ.) |
| 幹事補佐氏名（和） | / 新井 雅之(日大) / 伊藤 靖朗(広島大) / 津邑 公暁(名工大) / 小林 悠記(NEC) / 中原 啓貴(東工大) / 赤毛 勇一(NTTデバイスイノベーションセンタ) / 夏井 雅典(東北大) / 柘植 政利(ソシオネクスト) / 伊藤 浩之(東工大) / 範 公可(電通大) / 松尾 康孝(NHK) / 早瀬 和也(NTT) |
| 幹事補佐氏名（英） | / Masayuki Arai(Nihon Univ.) / Yasuaki Ito(Hiroshima Univ.) / Tomoaki Tsumura(Nagoya Inst. of Tech.) / Yuuki Kobayashi(NEC) / Hiroki Nakahara(Tokyo Inst. of Tech.) / Yuichi Akage(NTT) / Masanori Natsui(Tohoku Univ.) / Masatoshi Tsuge(Socionext) / Hiroyuki Ito(Tokyo Inst. of Tech.) / Pham Konkuha(Univ. of Electro-Comm.) / Yasutaka Matsuo(NHK) / Kazuya Hayase(NTT) |
| 講演論文情報詳細 | |
| 申込み研究会 | Technical Committee on VLSI Design Technologies / Technical Committee on Dependable Computing / Technical Committee on Computer Systems / Technical Committee on Reconfigurable Systems / Technical Committee on Component Parts and Materials / Technical Committee on Integrated Circuits and Devices / Technical Committee on Image Engineering / Special Interest Group on System and LSI Design Methodology / Special Interest Group on Embedded Systems / Special Interest Group on System Architecture |
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| 本文の言語 | JPN |
| タイトル（和） | コントローラ拡大を用いたレジスタ転送レベルにおけるテストパターン数削減のためのハードウェア要素のテストレジスタ割当て法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Test Register Assignment Method to Reduce the Number of Test Patterns at Register Transfer Level Using Controller Augmentation |
| サブタイトル（和） | |
| キーワード(1)（和/英） | テストレジスタ割当て / test register assignment |
| キーワード(2)（和/英） | テスト容易化設計 / design for testability |
| キーワード(3)（和/英） | コントローラ拡大 / controller augmentation |
| キーワード(4)（和/英） | 無効テスト状態 / invalid test states |
| キーワード(5)（和/英） | テストスケジューリング / test scheduling |
| 第 1 著者 氏名（和/英） | 武田 俊 / Shun Takeda |
| 第 1 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ) |
| 第 2 著者 氏名（和/英） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa |
| 第 2 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ) |
| 第 3 著者 氏名（和/英） | 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki |
| 第 3 著者 所属（和/英） | 日本大学(略称：日大) Nihon University(略称：Nihon Univ) |
| 第 4 著者 氏名（和/英） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura |
| 第 4 著者 所属（和/英） | 京都産業大学(略称：京都産大) Kyoto Sangyo University(略称：Kyoto Sangyo Univ) |
| 発表年月日 | 2017-11-06 |
| 資料番号 | VLD2017-37,DC2017-43 |
| 巻番号（vol） | vol.117 |
| 号番号（no） | VLD-273,DC-274 |
| ページ範囲 | pp.61-66(VLD), pp.61-66(DC), |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2017-10-30 (VLD, DC) |