講演名 2017-10-13
生体認証の性能評価における他人受入率の推定パラメータの検証方法の一考察
山田 茂史(富士通研), 青木 隆浩(富士通研), 新崎 卓(富士通研),
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抄録(和) 生体認証アルゴリズムの性能評価では,所望の他人受入率により評価に必要なデータ数が決められる。高精度のアルゴリズムを評価する場合には被検者を大規模に集める必要があり,データ収集のコストが問題となることが多い。そのため,大規模の収集データが必要とされる高精度の他人受入率を,小規模の収集データから推定する手法により性能評価を効率化することが望まれている。本稿では,筆者らが提案済の他人対の照合スコア分布の裾の近似に一般化パレート分布を適用した他人受入率の推定とランダムサンプリングによるブートストラップ法を組み合わせた他人受入率の推定手法に関して,照合スコア分布の裾を示す境界閾値を一般化パレート分布の適合時の推定パラメータ検証結果に基づいて機械的に決定する手法を提案し,指紋認証に適用した評価結果を報告する。
抄録(英) Evaluations of biometric performance are performed by using biometric dataset actually collected from subjects being tested. The number of necessary biometric data is determined by the desired biometric performance, the false accept error (FAR) and the false reject rate (FRR). When estimating algorithm with low FAR, it is necessary to gather subjects on a large scale, and the cost of the data collection will become often a problem. It is required that the method to estimate the low FAR from small collected data makes the performance evaluations efficient. In this paper, we propose an improvement of our proposed scheme of estimation of the FAR to fit the tail of imposter score distribution to generalized Pareto (GP) distributions and to evaluate values and a confidence interval of FAR by using bootstrap method. The automatically determining the threshold of setting the tail of the score distributions is introduced. We evaluated our scheme by applying to fingerprint recognition.
キーワード(和) 生体認証 / 指紋認証 / 他人受入率 / 認証精度 / 評価データ数の見積り
キーワード(英) Biometrics / Fingerprint recognition / False accept rate (FAR) / Performance evaluation / Estimation of the number of collected data for performance evaluation
資料番号 BioX2017-31
発行日 2017-10-05 (BioX)

研究会情報
研究会 BioX
開催期間 2017/10/12(から2日開催)
開催地(和) 大濱信泉記念館
開催地(英) Nobumoto Ohama Memorial Hall
テーマ(和) バイオメトリクス,一般
テーマ(英) Biometrics, etc.
委員長氏名(和) 鷲見 和彦(青学大)
委員長氏名(英) Kazuhiko Sumi(AGU)
副委員長氏名(和) 高野 博史(富山県立大) / 今岡 仁(NEC)
副委員長氏名(英) Hiroshi Takano(Toyama Pref. Univ.) / Hitoshi Imaoka(NEC)
幹事氏名(和) 大木 哲史(産総研) / 青木 隆浩(富士通研)
幹事氏名(英) Tetsushi Ohki(AIST) / Takahiro Aoki(Fujitsu Labs.)
幹事補佐氏名(和) 市野 将嗣(電通大) / 高田 直幸(セコム) / 奥井 宣広(KDDI総合研究所)
幹事補佐氏名(英) Masatsugu Ichino(Univ. of Electro-Comm.) / Naoyuki Takada(Secom) / Norihiro Okui(KDDI Research)

講演論文情報詳細
申込み研究会 Technical Committee on Biometrics
本文の言語 JPN
タイトル(和) 生体認証の性能評価における他人受入率の推定パラメータの検証方法の一考察
サブタイトル(和)
タイトル(英) A Study of Parameter Estimation of False Accept Rate for Biometric Performance Evaluation
サブタイトル(和)
キーワード(1)(和/英) 生体認証 / Biometrics
キーワード(2)(和/英) 指紋認証 / Fingerprint recognition
キーワード(3)(和/英) 他人受入率 / False accept rate (FAR)
キーワード(4)(和/英) 認証精度 / Performance evaluation
キーワード(5)(和/英) 評価データ数の見積り / Estimation of the number of collected data for performance evaluation
第 1 著者 氏名(和/英) 山田 茂史 / Shigefumi Yamada
第 1 著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所(略称:富士通研)
FUJITSU LABORATORIES LTD.(略称:FUJITSU LABS.)
第 2 著者 氏名(和/英) 青木 隆浩 / Takahiro Aoki
第 2 著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所(略称:富士通研)
FUJITSU LABORATORIES LTD.(略称:FUJITSU LABS.)
第 3 著者 氏名(和/英) 新崎 卓 / Takashi Shinzaki
第 3 著者 所属(和/英) 株式会社富士通研究所(略称:富士通研)
FUJITSU LABORATORIES LTD.(略称:FUJITSU LABS.)
発表年月日 2017-10-13
資料番号 BioX2017-31
巻番号(vol) vol.117
号番号(no) BioX-236
ページ範囲 pp.33-37(BioX),
ページ数 5
発行日 2017-10-05 (BioX)